富士通半導(dǎo)體和SuVolta宣布，通過將SuVolta的PowerShrink低功耗CMOS與富士通半導(dǎo)體的低功耗工藝技術(shù)集成，已經(jīng)成功地展示了在0.425V超低電壓下，SRAM(靜態(tài)隨機(jī)存儲)模塊可以正常運(yùn)行。這些技術(shù)降低能耗，為即將出現(xiàn)的終極“生態(tài)”產(chǎn)品鋪平道路。技術(shù)細(xì)節(jié)和結(jié)果將會在12月5日開始在華盛頓召開的2011年國際電子器件會議(IEDM)上發(fā)表。
結(jié)合SuVolta的Deeply Depleted Channel (DDC)晶體管技術(shù) – 該公司的PowerShrink平臺組件之一 – 與富士通半導(dǎo)體的尖端工藝，兩家公司已經(jīng)證實(shí)通過將CMOS晶體管臨界電壓(VT)的波動降低一半，576Kb的SRAM可在0.4伏附近正常工作。該項技術(shù)與現(xiàn)有設(shè)施匹配良好，包括現(xiàn)有的芯片系統(tǒng)(SoC)設(shè)計布局，設(shè)計架構(gòu)比如基體偏壓控制，以及制造工具。 背景 遵循微縮定律，在130nm技術(shù)結(jié)點(diǎn)CMOS電源供應(yīng)電壓逐步降低到大約1.0V。但是，盡管工藝技術(shù)已經(jīng)由 130nm繼續(xù)縮小到28nm，電源電壓卻還保持在1.0V左右的水平。由于動態(tài)功率與供應(yīng)電壓的平方成正比，能耗已經(jīng)成為CMOS技術(shù)的主要問題。電壓降低止步于130nm結(jié)點(diǎn)的原因是多處波動來源，包括隨機(jī)雜質(zhì)擾動(RDF)。RDF是器件及工藝波動的一種形式，由注入雜質(zhì)濃度或晶體管通道內(nèi)摻雜原子 的擾動引起。RDF導(dǎo)致同一芯片上不同晶體管的臨界電壓(VT)出現(xiàn)偏差。 已見報道的兩種特殊結(jié)構(gòu)可以成功減小RDF：ETSOI和Tri-Gate – FinFET技術(shù)的一種。但是，這兩種技術(shù)都非常復(fù)雜，使得他們很難與現(xiàn)有設(shè)計和制造設(shè)施匹配。
降低SRAM最低工作電壓 對于大多數(shù)芯片，降低供應(yīng)電壓的限制來自于SRAM。如圖2所示，富士通半導(dǎo)體和SuVolta展示了在低至0.425V電壓下仍然能夠正常工作的SRAM模塊。由于SRAM是降低供應(yīng)電壓最大的挑戰(zhàn)，該項成果意味著DDC將使得多種基于CMOS的電路在0.4V左右運(yùn)作成為現(xiàn)實(shí)。 總結(jié)與未來計劃 DDC晶體管的工藝流程已經(jīng)成功建立。所制造的DDC晶體管顯示VT波動比基準(zhǔn)流程改善了50%，并且產(chǎn)出在0.425V電壓下仍能運(yùn)作的SRAM，充分證明了DDC晶體管有能力將供應(yīng)電壓降低到0.4V左右。 富士通半導(dǎo)體將發(fā)展這項技術(shù)并積極回應(yīng)客戶在消費(fèi)電子產(chǎn)品，移動設(shè)備及其他領(lǐng)域?qū)τ诘凸?低電壓運(yùn)行的要求。 文/電子產(chǎn)品世界 |
