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新型探針卡適配器和 SPECS 軟件支持制造產能平穩提升 是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，推出新型 Keysight P9002A 并行參數測試系統。該系統可以實現高吞吐量、經濟高效的晶圓測試，從而加速產品上市，降低制造測試成本。 目前，全球半導體供應不足導致半導體的需求尤其是在汽車行業、數字設備和家用電器行業不斷地加大。半導體技術創新雖然進展迅速，然而該行業在適應新材料、降低外形尺寸以及 3D 封裝工藝方面遇到了一系列技術挑戰。此外，針對 5G、數據中心、人工智能（AI）和汽車等商業應用而設計的各種復雜器件也導致了測試參數有增無減。 為了應對這一挑戰并使得制造商能夠快速提升產能，是德科技推出了新型 P9002A 并行參數測試系統。該系統可以實現高吞吐量、經濟高效的晶圓測試。它采用了一個靈活的選件結構，可用于最多 100 個通道并行測試資源，有能力對每個測試資源執行參數測試。是德科技 P9000 系列運行的軟件可以與 SPECS 軟件兼容，后者運行在 4080 系列參數測試系統上，因此客戶能夠充分利用有數據關聯性的現有測試程序和測試計劃。 是德科技的新型 P9002A 并行參數測試系統具有以下關鍵優勢： 能夠根據測試要求添加選件，采用了有利于控制成本預算的許可證結構。 與 4080 系列參數測試系統相比，獨特的參數測試技術和快速電容測量可顯著提高測試吞吐量。 可以兼容 Keysight 4080 系列參數測試系統并關聯數據，使得客戶能夠充分利用其現有測試系統程序、測試計劃、探針卡及兼容 4080 測試系統的探針卡適配器，從而最大限度降低搭建新 P9002A 測試環境的成本。 是德科技副總裁兼晶圓測試解決方案總經理 Shinji Terasawa 表示：“是德科技非常高興通過 P9002A 測試系統之類的先進測量解決方案為日新月異的半導體研發和制造提供支持。是德科技致力于運用我們在參數測試方面的成熟經驗和專業知識幫助客戶應對業務挑戰，這個新解決方案就反映了我們做出的承諾。” |
