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如圖所示為單節(jié)晶體管工作性能速測電路。被測單結(jié)晶體管VBT(設(shè)：BT33)與R3、C2組成張弛振蕩器。VBT在導(dǎo)通時，三極管VT1通過偏置電阻R2獲得偏置電流(此時S1斷開，S2閉合)，發(fā)光二極管H1發(fā)光。 10V電源 通過R3經(jīng)VD2向C2充電。電壓表V可以測量出C2兩端的電壓會隨著時間的推移在不斷上升，E端電位達(dá)到VBT的峰值電壓時，VBT的E～B1間便自動導(dǎo)通，電容C1上的電壓經(jīng)E～B1放電，使三極管VT1的發(fā)射結(jié)受反偏截止，H1熄滅。如果被測 單結(jié)晶體管VBT是好的，電容C1就會周而復(fù)始地充電放電，H1就會明暗交替地閃光。若是H1一直亮著，可將VBT的B1、B2腳調(diào)換檢測(這樣也便于正確區(qū)分出B1、B2管腳)，要不然則此單節(jié)晶體管是壞管。 |
