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NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS）

發(fā)布時(shí)間：2018-7-27 11:37 發(fā)布者：eechina

半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS）系列產(chǎn)品是一套利用NI測(cè)試技術(shù)的產(chǎn)品級(jí)測(cè)試系統(tǒng)，適用于半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境。STS在完全封閉的測(cè)試頭里面整合了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測(cè)試頭”的設(shè)計(jì)，把產(chǎn)品的所有關(guān)鍵測(cè)試資源整合在儀器，這些測(cè)試資源包括系統(tǒng)控制器、直流交流電源、射頻儀器、待測(cè)設(shè)備接口以及分揀儀器和探頭接口。這樣的緊湊型設(shè)計(jì)減小了額外的占地空間，降低了功耗，減輕了傳統(tǒng)ATE測(cè)試員的維護(hù)負(fù)擔(dān)，從而節(jié)約了測(cè)試成本。此外，STS采用開(kāi)放的、模塊化的設(shè)計(jì)，使您可以利用最新的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PXI模塊，獲得更多的儀器資源和更強(qiáng)大的計(jì)算能力。

資料下載：

NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)STS_Flyer_CN.pdf (1.14 MB)

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