|
高功率RF端口擴展了STS的功能，可測試最新的RF前端模塊 NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI)今日宣布為半導體測試系統(STS)增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收發功率、以及基于FPGA的實時包絡跟蹤(Envelop Tracking)和數字預失真處理(Digital Pre-Distortion)。 STS的其中一個最新改進功能是高功率RF端口，可幫助RF前端模塊制造商滿足RFIC及其他智能設備不斷增加的測試需求，同時降低測試成本。 由于RF端口位于一個與STS完全集成的測試裝置，因此RF測試開發時間和成本可大幅降低，而且不會犧牲測量精度和性能。 此外，這個集成的系統避免了傳統自動化測試設備(ATE)所需的成本高昂的螺栓連接式RF子系統。 由于越來越多的組件集成到RF前端模塊以及新的寬帶無線標準具有更高的峰均功率比，這些器件的制造商需要更高功率的RF測量能力。 用于STS的新RF端口對于RF盲插接口具有+38 dBm的發射功率和+40 dBm的接收功率，這是其他任何商業解決方案所不具備的領先能力。 此外，STS附帶有功能完備的軟件，可以執行26 GHz的S參數測量、基于FPGA的包絡跟蹤和基于FPGA的數字預失真處理。 這些特性使得STS成為下一代RFIC的理想生產測試解決方案。 “我們持續為RF和混合信號器件制造商提供更智能的解決方案，不斷打破半導體ATE的現狀，”NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “STS開放的模塊化架構可幫助用戶在保有其資本投資的同時，能夠不斷利用最新的商業技術，使其測試能力滿足待測設備不斷變化的需求。” STS于2014年首次推出，為半導體生產測試提供了一個變革性的方法，該方法基于NI平臺和生態系統，可幫助工程師開發更智能的測試系統。 這個平臺現在包含1 GHz帶寬的矢量信號收發儀、fA級源測量單元、業界領先的商用現成測試管理軟件TestStand半導體模塊，以及囊括直流到毫米波范圍的600多款PXI產品。 平臺采用了PCI Express Gen 3總線接口，具有高吞吐量數據傳輸能力，同時利用集成定時和觸發的方式實現了亞納秒級的同步。 用戶可以利用LabVIEW和NI TestStand軟件的高效生產力，以及一個由合作伙伴、附加IP和應用工程師組成的充滿活力的生態系統，大幅降低測試成本，縮短上市時間，開發面向未來的測試設備來滿足未來的各種嚴苛需求。 如需了解NI的更多半導體測試產品，請訪問www.ni.com/semiconductor。 |
