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Intel研致力于改進(jìn)PCB中濕度的跟蹤方法

發(fā)布時(shí)間:2013-4-2 11:04    發(fā)布者:李寬
關(guān)鍵詞: PCB , 濕度
Intel研究人員正在尋找改進(jìn)監(jiān)視PCB中濕度的方法,因?yàn)闈穸鹊淖兓瘜?duì)PCB性能和故障機(jī)制都有重要的影響。

業(yè)內(nèi)研究表明,濕度會(huì)負(fù)面影響PCB的完整性和可靠性。PCB中濕氣的存在將改變PCB的質(zhì)量、功能、熱性能和熱機(jī)械屬性,進(jìn)而影響總體性能。

可靠性一直是大多數(shù)研究PCB中濕度效應(yīng)的工程師所關(guān)心的課題,這些研究中所指的濕氣來自環(huán)境,即空氣。然而,Intel有不同的研究方法。Intel公司數(shù)據(jù)中心企業(yè)系統(tǒng)工程部門高級(jí)主管工程師Richard Kunze解釋說,數(shù)據(jù)中心的主要工作就是研究濕度和溫度對(duì)電氣性能的影響,特別是對(duì)高速信號(hào)的插入損耗影響,比如典型計(jì)算設(shè)備中使用的高速信號(hào),尤其是數(shù)據(jù)中心服務(wù)器中使用的高速信號(hào)。

提到高速信號(hào)的性能劣化,Kunze宣稱:“PCB中的濕氣直接影響各種信號(hào)傳播特性,而我們重點(diǎn)關(guān)注的是關(guān)鍵的插損指標(biāo)。我們承認(rèn),濕氣會(huì)被PCB吸收,因此問題隨之變?yōu)樵谡9ぷ鳁l件下PCB會(huì)吸收多少濕氣、如何量化它對(duì)高速信號(hào)性能的影響。”

Kunze還表示,安裝在PCB上的器件的功率耗散會(huì)提高PCB溫度,而這種溫升也會(huì)導(dǎo)致?lián)p耗增加,并影響PCB中的濕氣含量。在即將發(fā)布的DesignCon論文中,他透露Intel將提供在各種不同PCB結(jié)構(gòu)和材料下對(duì)這兩種效應(yīng)的簡(jiǎn)單檢查結(jié)果,并嘗試?yán)斫庠谡麄(gè)工作狀態(tài)下對(duì)性能的影響。

談到表征濕度靈敏度和控制PCB中濕氣含量的重量性,Kunze認(rèn)為很難通過烘烤去除在疊層中使用了固態(tài)銅層的典型PCB中的濕氣。他還表示,在PCB裝配之前,裸板一般儲(chǔ)存在真空密封的袋子中,并且附帶有干燥劑。而在裝配之后,PCB板就暴露在溫度和濕度變化范圍很大的工作環(huán)境中。“我們想要理解的一個(gè)問題是PCB在正常環(huán)境條件下工作時(shí)的濕度與溫度狀態(tài)。”他表示。

Kunze解釋道,目前開展的許多濕度研究工作都是通過IPC認(rèn)證的方法評(píng)估PCB中的濕氣含量,即稱量PCB暴露在水氣之前和之后的重量。也有人通過觀察電容的變化來推斷PCB中的濕度。“我們的方法是通過對(duì)插損的影響來推斷PCB濕度。”

事實(shí)上, Intel在三年前的DesignCon會(huì)議上就介紹過一種創(chuàng)新的方法,即在走線的同一端執(zhí)行僅兩個(gè)點(diǎn)的時(shí)域測(cè)量來判斷插損。他們稱之為“單端時(shí)域反射至差分插入損耗”,或SET2DIL。這種插損測(cè)試方法是Intel企業(yè)服務(wù)器事業(yè)部信號(hào)完整性負(fù)責(zé)人Jeff Loyer和Kunze自己一起開發(fā)的,現(xiàn)在已經(jīng)成為一種經(jīng)過IPC認(rèn)證的用于確定差分插損的測(cè)試方法。


SET2DIL測(cè)試結(jié)構(gòu)

當(dāng)問到設(shè)計(jì)師可以用來避免PCB中濕氣的方法時(shí),Kunze表示目前還不清楚設(shè)計(jì)師在限制濕氣擴(kuò)散方面可以發(fā)揮什么樣的作用,至少從實(shí)際使用角度看是這樣。他認(rèn)為:“濕氣吸入PCB板當(dāng)然會(huì)受到固態(tài)銅層的阻礙,而且在某種程度上也要經(jīng)過電介層中的玻璃纖維,但電路板設(shè)計(jì)師不得不為元件放置一些開口來實(shí)現(xiàn)電路板功能,因此設(shè)計(jì)中能在多大程度上阻止?jié)駳膺M(jìn)入電路板還不太清楚。”

不過Kunze表示,就電氣性能而言,設(shè)計(jì)師需要認(rèn)真考慮濕度和溫升的影響,確保高速信號(hào)的劣化不會(huì)超出可接受的范圍。“現(xiàn)在我們相信濕度可能不是想像中那么嚴(yán)重——但仍是重要的考慮因素——畢竟在高溫條件下濕度對(duì)PCB電路板性能有較大的影響。

目前已經(jīng)有幾款成熟的工具可用于仿真包括PCB在內(nèi)的結(jié)構(gòu)中的濕氣擴(kuò)散。如今在Intel的華盛頓杜邦園區(qū)工作的Kunze表示,今后他們的研究工作將使用這些仿真工具評(píng)估工作狀態(tài)的PCB中的濕氣含量。


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