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北京某科技公司致力于射頻芯片的研發、生產和銷售,其產品廣泛應用于4G、5G移動終端和物聯網模組等領域。該公司與納米軟件合作,旨在通過NSAT-1000矢網自動測試系統實現與矢量網絡分析儀和探針臺的交互,完成晶圓芯片S參數的全自動化測試。
矢網自動測試系統測試晶圓芯片的原理
網絡分析儀自動化測試系統通過GPIB、LAN等通訊線纜與探針臺和網絡分析儀連接,利用邊緣計算設備ATEBOX調動這些儀器及測試流程,實現晶圓上多個芯片的連續自動化測試。
晶圓芯片測試系統硬件拓撲圖.png
矢網自動測試系統結構圖
在測試前,系統會獲取探針臺的狀態,判斷是否開始測試。在測試過程中,系統會通過探針臺獲取當前被測晶圓芯片的坐標信息,并采集網分測試數據,然后發送相應的信號將測試結果反饋給探針臺。在探針臺獲取到測試結果信息時,會自動移動到下一產品位置,開始測試。
通過NSAT-1000,該公司實現了從半自動化測試到全自動化測試的轉型,批量測試晶圓芯片,提高了測試效率。
自動化測試系統程控探針臺
在此次項目合作過程中,系統開發的挑戰之一就是實現與探針臺的交互通訊。為此,納米軟件技術人員學習并掌握探針臺的使用以及操作流程,收集并驗證其操作指令,然后對其指令進行二次封裝,通過GPIB線纜完成與探針臺的完美通訊。測試系統與探針臺的交互,包括以下內容:
1. 系統告知探針臺流程開始
2. 系統獲取探針臺狀態,判斷是否可以開始測試
3. 系統從探針臺獲取當前被測晶圓芯片的坐標
4. 系統向探針臺反饋當前產品測試結果
自動化測試系統程控網絡分析儀
在系統中封裝對應網絡分析儀型號的操作指令,通過LAN通訊線纜將其與系統連接。在測試過程中,系統會采集網絡分析儀上的測試數據,并以Pass、Fail指標判斷當前被測產品的結果。
S參數運行測試.jpg
矢網自動測試系統測量晶圓芯片S參數
矢網自動測試系統區別于傳統自動化測試系統,可以適應未來測試需求的變化,靈活調整測試項目,減少了系統維護成本。更重要的是,系統實現了數據的統一匯總管理,發揮數據有效價值。關于NSAT-1000更多詳情可訪問:https://www.namisoft.com/solution/spzjcsxt/473.html
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