用NSAT-1000測(cè)試系統(tǒng)與網(wǎng)分測(cè)試晶圓芯片的S參數(shù)

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　　矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀作為射頻領(lǐng)域的重要測(cè)量?jī)x器，常用來測(cè)試S參數(shù)、增益、損耗、阻抗、隔離度等指標(biāo)。但對(duì)于大批量研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試的企業(yè)來說，手動(dòng)測(cè)試或者半自動(dòng)化測(cè)試程序復(fù)雜、效率低，無法滿足大批量測(cè)試的需求。因此，網(wǎng)絡(luò)分析儀全自動(dòng)化測(cè)試逐漸成為客戶首選的測(cè)試方式。

　　ATECLOUD作為一個(gè)智能自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，從用戶測(cè)試需求出發(fā)，不斷迭代升級(jí)，開發(fā)出NSAT-1000測(cè)試系統(tǒng)，解決用戶測(cè)試痛點(diǎn)。系統(tǒng)可針對(duì)射頻天線、濾波器、放大器、衰減器等射頻器件進(jìn)行大批量測(cè)試，測(cè)試項(xiàng)目包括S參數(shù)、增益、損耗等指標(biāo)。納米軟件致力于為企業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)測(cè)試提供一站式自動(dòng)化測(cè)試解決方案。從儀器選型到系統(tǒng)開發(fā)、再到數(shù)據(jù)洞察、最終導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告，幫助企業(yè)實(shí)現(xiàn)智能測(cè)試和數(shù)字化管理。

　　北京某芯片公司需要用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和探針臺(tái)測(cè)試晶圓的S參數(shù)，由于一張晶圓上有一萬(wàn)左右的芯片，之前使用的半自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)效率低，測(cè)試速度慢，測(cè)試成本高，因此急需一個(gè)全自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，提高測(cè)試效率。

　　在用NSAT-1000系統(tǒng)測(cè)試時(shí)，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺(tái)和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間的通訊，通過探針臺(tái)獲取產(chǎn)品狀態(tài)、位置信息，配合網(wǎng)絡(luò)分析儀完成產(chǎn)品測(cè)試。
　　首先，測(cè)試系統(tǒng)會(huì)讀取探針臺(tái)的狀態(tài)，判斷是否可以開始測(cè)試；
　　其次，在測(cè)試過程中，系統(tǒng)會(huì)采集網(wǎng)絡(luò)分析儀的數(shù)據(jù)，通過系統(tǒng)預(yù)設(shè)的流程完成S參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果回傳給探針臺(tái)，從而實(shí)現(xiàn)晶圓的批量測(cè)試，判斷晶圓S參數(shù)是否達(dá)標(biāo)。
　　最后，系統(tǒng)的數(shù)據(jù)洞察功能會(huì)對(duì)晶圓的S參數(shù)進(jìn)行多圖表類型的自動(dòng)化分析，節(jié)省人工分析時(shí)間和成本。此外，系統(tǒng)也會(huì)自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)告，報(bào)告模板可根據(jù)需求自定義，滿足用戶對(duì)報(bào)告的需求。

　　通過NSAT-1000測(cè)試系統(tǒng)，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠更加智能、高效地完成測(cè)試任務(wù)，節(jié)省用戶的時(shí)間和精力。更多關(guān)于系統(tǒng)的詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/375.html