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引言 內(nèi)裝測(cè)試(BIT)是20世紀(jì)70年代美國(guó)在軍用測(cè)試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念，其目的在于改善裝備的維修性、測(cè)試性和自診斷能力，同時(shí)也使裝備系統(tǒng)的機(jī)動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀(jì)70年代以來，以航天航空等國(guó)防工業(yè)領(lǐng)域?yàn)榇恚瑖?guó)內(nèi)在內(nèi)裝測(cè)試及自診斷技術(shù)方面，主要處于技術(shù)跟蹤和理論研究階段。進(jìn)入20世紀(jì)90年代，火箭、衛(wèi)星、飛機(jī)等飛行器的測(cè)試設(shè)備研制開發(fā)基本上都是圍繞著 VXI總線來進(jìn)行。同時(shí)，在一些裝備系統(tǒng)內(nèi)部也出現(xiàn)了以自檢功能為表現(xiàn)形式的內(nèi)裝測(cè)試及自診斷技術(shù)的雛形[1]。本文擬將BIT技術(shù)應(yīng)用在某型裝備控制系統(tǒng)中，它能對(duì)裝備控制系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)設(shè)備數(shù)字化，可利用設(shè)備上計(jì)算機(jī)和相關(guān)信息接口來收集設(shè)備的工作信息，可對(duì)各功能模塊進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，將故障定位到現(xiàn)場(chǎng)可更換單元，快速指導(dǎo)維修人員進(jìn)行換件維修。 內(nèi)裝測(cè)試關(guān)鍵技術(shù) 在裝備控制系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)內(nèi)裝測(cè)試及自診斷，應(yīng)包括內(nèi)裝測(cè)試設(shè)備研制和自診斷方法研究及實(shí)現(xiàn)兩大部份。其中內(nèi)裝測(cè)試主要有兩個(gè)方面：一是在被測(cè)對(duì)象內(nèi)安裝測(cè)試裝置，從而在少用或不用外圍測(cè)試設(shè)備的情況下，完成裝備控制系統(tǒng)的性能測(cè)試;另一方面是在被測(cè)對(duì)象的系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)，對(duì)各部件進(jìn)行自檢功能設(shè)計(jì)，使各部件具有自檢測(cè)試功能，在全系統(tǒng)測(cè)試時(shí)，綜合各部件自檢功能完成測(cè)試和信息采集;而自診斷技術(shù)則包含了故障特征提取、知識(shí)庫建立和推理機(jī)算法實(shí)現(xiàn)等內(nèi)容。具體實(shí)現(xiàn)時(shí)，首先將內(nèi)裝測(cè)試設(shè)備采集的信息通過通訊接口發(fā)送到地面的計(jì)算機(jī)，同時(shí)自診斷算法也在地面的計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)。待兩方面技術(shù)成熟后，再將測(cè)試設(shè)備和診斷軟件全部?jī)?nèi)裝在裝備控制系統(tǒng)內(nèi)部，這即是BIT技術(shù)，BIT技術(shù)消除了裝備控制系統(tǒng)地面測(cè)試時(shí)需要將設(shè)備上所有被測(cè)信號(hào)通過眾多的測(cè)試電纜引到地面來檢測(cè)的繁瑣，同時(shí)使地面測(cè)試設(shè)備變得不再龐大、復(fù)雜，同時(shí)縮短了裝備測(cè)試前的準(zhǔn)備工作時(shí)間，滿足了操作人員對(duì)裝備快速響應(yīng)的要求。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的廣泛應(yīng)用，數(shù)字化已經(jīng)是電子設(shè)備研制的方向。設(shè)備數(shù)字化以后，使得利用設(shè)備上計(jì)算機(jī)和相關(guān)信息接口來收集設(shè)備的工作信息成為可能。這樣既可以簡(jiǎn)化測(cè)試設(shè)備及其與裝備的連接關(guān)系，同時(shí)又為實(shí)現(xiàn)內(nèi)裝測(cè)試及自診斷創(chuàng)造了條件。 由于設(shè)備空間的限制，內(nèi)裝測(cè)試和自診斷技術(shù)必須要實(shí)現(xiàn)設(shè)備的小型化，其中包括計(jì)算機(jī)系統(tǒng)小型化、多通道高精度A/D和D/A變換器小型化和通訊接口小型化等[2]。同時(shí)，為了實(shí)現(xiàn)完全意義上的內(nèi)裝測(cè)試和自診斷，必須解決內(nèi)裝激勵(lì)方法研究和內(nèi)裝激勵(lì)設(shè)備設(shè)計(jì)的關(guān)鍵技術(shù);此外，為了解決傳統(tǒng)內(nèi)裝測(cè)試存在的故障不可復(fù)現(xiàn)、不能識(shí)別間歇故障等問題，必須解決大容量小型化內(nèi)裝存儲(chǔ)設(shè)備設(shè)計(jì)的關(guān)鍵技術(shù);為了完成內(nèi)裝自診斷技術(shù)研究，必須解決故障知識(shí)庫建立的關(guān)鍵技術(shù)[3]。這幾項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn)的好壞直接關(guān)系到內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)性能的好壞。本文將主要對(duì)硬件設(shè)計(jì)和故障知識(shí)庫設(shè)計(jì)進(jìn)行詳細(xì)介紹。 BIT系統(tǒng) 內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)包括信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、故障診斷、自激勵(lì)模塊和通訊電纜輸出模塊六部分(見圖1)。模擬電壓采集中信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)完成對(duì)信號(hào)的差分放大、濾波和限幅等調(diào)理工作。邏輯量、頻率量、時(shí)間量和脈沖量采集中的信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)完成對(duì)信號(hào)的限幅和數(shù)據(jù)緩沖等調(diào)理工作。光電隔離主要是為了把所測(cè)量的信號(hào)和計(jì)算機(jī)相隔離，這樣可以確保數(shù)據(jù)采集的讀數(shù)不會(huì)受到接地電勢(shì)差或共模電壓的影響。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊主要用來存儲(chǔ)一些內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)的診斷信息，包括測(cè)量的數(shù)字信息、設(shè)備上的模擬量信息、開關(guān)量信息、頻率信息、脈沖信息、信號(hào)檢測(cè)的粗故障信息以及這些信息的相應(yīng)編碼信息等功能。裝備控制系統(tǒng)自激勵(lì)模塊主要實(shí)現(xiàn)單片機(jī)系統(tǒng)對(duì)裝備上控制系統(tǒng)的信號(hào)自激勵(lì)，同時(shí)也可以使地面計(jì)算機(jī)通過通訊電纜實(shí)現(xiàn)地面對(duì)裝備的自激勵(lì)控制。RS232/485接口模塊可以實(shí)現(xiàn)上位機(jī)與PC機(jī)通訊。自檢模塊主要是實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的自檢功能，在設(shè)計(jì)上是使ADuC812的 DA/AD通道形成回路，多余的DI/DO通道形成回路，從而對(duì)終端的模擬通道和數(shù)字通道的工作能力進(jìn)行自測(cè)試。DS12C887時(shí)鐘芯片主要是給系統(tǒng)提供標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間基準(zhǔn)，對(duì)存儲(chǔ)到Flash中的數(shù)據(jù)添加時(shí)間項(xiàng)，對(duì)PCM信息流傳輸?shù)臄?shù)據(jù)提供時(shí)間戳。本系統(tǒng)微處理器模塊選用ADI公司的ADuC812單片機(jī)(高性能的8通道5ms轉(zhuǎn)換時(shí)間、12位A/D轉(zhuǎn)換器、2個(gè)12位DAC，10.5kB的閃存E2PROM，具有3個(gè)16位計(jì)數(shù)/定時(shí)器和32條可編程I/O接口的8051/8052微控制器，256字節(jié)的SRAM)[4]。 
BIT系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì) BIT系統(tǒng)能完成模擬電壓、邏輯信號(hào)、頻率和時(shí)間的測(cè)量。 模擬電壓信號(hào)分壓 由于裝備控制系統(tǒng)的模擬量電壓范圍為±120V，因此將每一路模擬信號(hào)輸入到A/D轉(zhuǎn)換通道之前，為了減少轉(zhuǎn)換誤差，希望送來的模擬信號(hào)在A /D轉(zhuǎn)換輸入的允許范圍內(nèi)盡可能大，這就要求對(duì)采集到的信號(hào)的幅值進(jìn)行必要的調(diào)整，對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波、降壓等信號(hào)調(diào)理，選擇合適的放大倍數(shù)，使信號(hào)進(jìn)入模數(shù)轉(zhuǎn)換之前的電壓符合A/D轉(zhuǎn)換器的要求。 模擬電壓信號(hào)調(diào)理模塊是一個(gè)多路范圍為±120V電壓信號(hào)的調(diào)理模塊,用以將其外部輸入的不同幅值的電壓信號(hào)調(diào)整到0～5V范圍內(nèi)，以保證 A/D轉(zhuǎn)換精度。通常要用分壓網(wǎng)絡(luò)分壓，電路如圖2所示。
分壓網(wǎng)絡(luò)的電壓衰減量為輸出電壓與輸入電壓之比，也等于R1C1的并聯(lián)阻抗Z1與R2C2的并聯(lián)阻抗的分壓比。分壓網(wǎng)絡(luò)的分壓比為：
只要分壓網(wǎng)絡(luò)元件參數(shù)滿足R1C1=R2C2的關(guān)系，分布電容的影響就可不予考慮。因此輸入到A/D轉(zhuǎn)換器件的電壓值為：
為了減小對(duì)電源的影響，通常R2和R1的值較大，而A/D的輸入阻抗Ri的值并非無窮大，所以實(shí)際輸入到A/D轉(zhuǎn)換器的電壓為：
如果A/D的輸入阻抗Ri和R2接近，將給測(cè)量帶來較大誤差。解決的方法是在分壓網(wǎng)絡(luò)與A/D間加一射極跟隨器，由于射極跟隨器的輸入阻抗Ri 近似無窮，對(duì)R2的影響不大，可有效的解決此問題。 模擬電壓信號(hào)采集 經(jīng)過模擬電壓信號(hào)分壓后，其外部輸入的不同幅值的電壓信號(hào)被調(diào)整到0~5V范圍內(nèi)，由于BIT系統(tǒng)中的微處理器其內(nèi)包含了高性能的8路12位 ADC采集系統(tǒng)，可直接實(shí)現(xiàn)裝備控制系統(tǒng)模擬信號(hào)的A/D采樣，采集系統(tǒng)由模擬多路開關(guān)、溫度傳感器、采樣保持電路(T/H)、ADC、+2.5V參考電壓和ADC轉(zhuǎn)換校正控制邏輯組成(見圖3)。
頻率信號(hào)測(cè)量 本設(shè)計(jì)中被測(cè)頻率信號(hào)為2kHz，其測(cè)量是采用8254定時(shí)計(jì)數(shù)的方式測(cè)量。 由于標(biāo)準(zhǔn)輸入時(shí)鐘脈沖的頻率為4MHz，而裝備系統(tǒng)需要測(cè)量的信號(hào)頻率為2kHz，其測(cè)量即是一個(gè)8254定時(shí)0.01S并對(duì)信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)20 的測(cè)量。由定時(shí)計(jì)數(shù)初值的公式可得N=T×f=0.01(s)×4MHz=40000，設(shè)計(jì)采用計(jì)數(shù)器1、2級(jí)聯(lián)作為定時(shí)器，由于我們要統(tǒng)計(jì)0.01s內(nèi)的信號(hào)發(fā)生次數(shù)，也就是說計(jì)數(shù)器1、2級(jí)聯(lián)定時(shí)，每到0.01s就通知中斷INT3，所以其工作方式設(shè)置如下：計(jì)數(shù)器1為模式2，計(jì)數(shù)器2為模式0。設(shè)計(jì)數(shù)器1的計(jì)數(shù)初值為N1，計(jì)數(shù)器2的計(jì)數(shù)初值為N2，且保證N1×N2=40000，然后將各自初值送入各自寄存器通道即可。 時(shí)間信號(hào)測(cè)量 在硬件連接上，計(jì)時(shí)采用中斷計(jì)時(shí)法，由于裝備系統(tǒng)設(shè)備要求，計(jì)時(shí)最大量為8S，所以測(cè)量計(jì)時(shí)量需要二個(gè)計(jì)數(shù)器級(jí)聯(lián)為32位來工作，硬件設(shè)計(jì)上仍是級(jí)聯(lián)計(jì)數(shù)器1和計(jì)數(shù)器2，GATE1與GATE2均通過反相器接的P1.0口，CLK1端接標(biāo)準(zhǔn)頻率脈沖4MHz，其硬件設(shè)計(jì)見圖4。計(jì)時(shí)具體計(jì)算方法為：
故障知識(shí)庫的建立 在建造故障診斷專家系統(tǒng)知識(shí)庫時(shí)，如何組織和處理專家經(jīng)驗(yàn)知識(shí)和相關(guān)的技術(shù)文獻(xiàn)知識(shí)，決定著故障診斷的有效性和準(zhǔn)確性，我們把診斷過程中獲取的裝備控制系統(tǒng)故障模式、故障原因以故障樹的形式組織起來，并通過對(duì)該故障樹進(jìn)行定性分析，得出故障樹的最小割集，并將原故障樹在最小割集的基礎(chǔ)上簡(jiǎn)化，最后把相關(guān)的概念、事實(shí)以及它們之間的關(guān)系知識(shí)按關(guān)系模式表的結(jié)構(gòu)組織起來，生成診斷知識(shí)庫。在裝備控制系統(tǒng)的故障診斷中，依據(jù)設(shè)備故障樹，形成關(guān)系知識(shí)規(guī)則的步驟如下：(1)故障樹邏輯簡(jiǎn)化，減少中間事件;(2)引進(jìn)多個(gè)不相容獨(dú)立事件，代替故障樹中相容事件;(3)將故障樹的事件轉(zhuǎn)化為概念命題;(4)分解故障樹為一系列單輸出分支—a輸入定義為關(guān)系規(guī)則前提，與門轉(zhuǎn)化為關(guān)系規(guī)則的前提組合條件、或門轉(zhuǎn)化為并列規(guī)則的前提、非門轉(zhuǎn)化為單結(jié)論的非規(guī)則以表示互斥關(guān)系，b輸出定義為關(guān)系規(guī)則結(jié)論，c重復(fù)Step a。 計(jì)算故障樹的最小割集 為了便于規(guī)則的描述，故障樹描述的規(guī)則必須只含最小割集的底事件。 本文采用下行法計(jì)算割集。這個(gè)算法的特點(diǎn)是根據(jù)故障樹的實(shí)際結(jié)構(gòu)，從頂事件開始，逐級(jí)向下尋找，找出割集。因?yàn)橹粡纳舷孪噜弮杉?jí)來看，與門只增加割集階數(shù)(割集所含底事件數(shù)目)，不增加割集個(gè)數(shù);或門只增加割集個(gè)數(shù)，不增加割集階數(shù)，所以規(guī)定在下行過程中，順次將邏輯門的輸出事件置換為輸入事件，遇到與門就將其輸入排在同一行(輸入事件的交(布爾積))，遇到或門就將其輸入事件各自排成一行(輸入事件的并(布爾和))，這樣直到全部換成底事件為止，這樣得到的割集通過兩兩比較，劃去那些非最小割集，剩下即為故障樹的全部最小割集。圖5是裝備控制系統(tǒng)中A/D板故障樹的割集計(jì)算，表1表示下行法求割集的過程。由表可知A/D板的最小割集為{B1}、{B2}、{B3}、{B4，B5}。
形成關(guān)系知識(shí)的規(guī)則 根據(jù)A/D板的最小割集和結(jié)元器件端電壓異常，用關(guān)系知識(shí)的規(guī)則步驟分析可得A/D板故障的規(guī)則如下： Rule1 IF A/D板故障且B1端電壓異常 Then B1壞; Rule2 IF A/D板故障且B2端電壓異常 Then B2壞; Rule3 IF A/D板故障且B3端電壓異常 Then B3壞; Rule4 IF A/D板故障且B4端電壓異常 Then B4壞; Rule5 IF A/D板故障且B5端電壓異常 Then B5壞。 從上面的規(guī)則建立過程可以得出，該方法將故障樹分析法與專家系統(tǒng)有機(jī)結(jié)合，使得知識(shí)工程師、領(lǐng)域?qū)＜摇⑹褂镁S修人員之間的交流與合作更加容易，消除建立知識(shí)庫的盲目性，確保了診斷知識(shí)的一致性和完備性、高可靠性;將數(shù)值計(jì)算過程和符號(hào)決策過程結(jié)合在一起，集成了多種形式的知識(shí)，有助于實(shí)現(xiàn)診斷的自動(dòng)化和診斷結(jié)果更準(zhǔn)確可靠。因此，建立合理的裝備控制系統(tǒng)故障樹，將故障樹轉(zhuǎn)化為關(guān)系知識(shí)，這一過程是導(dǎo)出專家系統(tǒng)關(guān)系規(guī)則(診斷知識(shí))的有效途徑。 結(jié)語 將BIT用于裝備控制系統(tǒng)，有效地避免異常的發(fā)生，提高控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。BIT技術(shù)簡(jiǎn)化了裝備控制系統(tǒng)地面測(cè)試時(shí)需要將設(shè)備上所有被測(cè)信號(hào)通過眾多的測(cè)試電纜引到地面來檢測(cè)的繁瑣，同時(shí)使地面測(cè)試設(shè)備變得不再龐大、復(fù)雜，縮短了裝備測(cè)試前的準(zhǔn)備工作時(shí)間，滿足了操作人員對(duì)裝備快速響應(yīng)的要求。 參考文獻(xiàn)： [1] 曾天翔. 電子設(shè)備測(cè)試性及診斷技術(shù)[M]. 北京: 航空工業(yè)出版社, 1996 [2] Haller K A, Anderson K.Smart Build-in-test(BIT)[J]. IEEE 1985 AUTOTEST-CON, 1985:140-147 [3] 張寶珍, 曾天翔. 智能BIT技術(shù)[J]. 測(cè)控系統(tǒng), 2008, 19(11):11-14 [4] 崔洪亮. 數(shù)字濾波在測(cè)試設(shè)備故障診斷中的應(yīng)用[J]. 電子產(chǎn)品世界, 2009(5) [5] 崔洪亮. 導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備故障診斷專家系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 電子產(chǎn)品世界, 2009(6) 作者：崔洪亮 黃華 韋關(guān)潮 劉慶寶 牛萌 楊其 李超 徐利國(guó) 蒲源 第二炮兵青州士官學(xué)校 來源：電子產(chǎn)品世界 2010-2 |
