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過壓保護(hù)的原理
過壓保護(hù)是電壓超過預(yù)定值時(shí)降低電壓的一種方式,原理是通過電路中的電壓檢測(cè)電路來檢測(cè)電路中的電壓是否超過了設(shè)定的閾值,如果超過了閾值,就會(huì)觸發(fā)過壓保護(hù)器件,使電源斷開或使受控設(shè)備電壓降低,保護(hù)電路。過壓保護(hù)的閾值通常根據(jù)電路設(shè)計(jì)的需求來設(shè)定,一般閾值設(shè)定在電路的最大額定電壓之上。
開關(guān)電源過壓保護(hù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
過壓保護(hù)測(cè)試是為了檢測(cè)開關(guān)電源輸出電壓過高時(shí)是否正常保護(hù),保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi),以及是否會(huì)對(duì)開關(guān)電源造成損傷。通常規(guī)定:
Vout<12V,過壓保護(hù)點(diǎn)為1.8倍輸出電壓
Vout≥12V,過壓保護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓
開關(guān)電源過壓保護(hù)怎么測(cè)試?
測(cè)試開關(guān)電源過壓保護(hù)前,需要準(zhǔn)備好測(cè)試設(shè)備:交流電源、電子負(fù)載、示波器以及直流電源。按照規(guī)定設(shè)置好輸入電壓和負(fù)載值,開始測(cè)試。
1.測(cè)試方法一:拿掉待測(cè)品回授FEEDBACK,找出過壓保護(hù)點(diǎn)
2.測(cè)試方法二:外加一個(gè)可變電壓于操作待測(cè)品的輸出,緩慢增大電壓值,找出過壓保護(hù)點(diǎn)
3.示波器CH1接到OVP偵測(cè)點(diǎn),測(cè)量其電壓之變化
4.CH2接到其它一組輸出電壓,作為示波器的TRIGGER SOURCE
5.TRIGGER SLOPE設(shè)定為“-”,TRIGGER MODE設(shè)定為“NORMAL”
過壓保護(hù)測(cè)試.jpg
過壓保護(hù)測(cè)試
ATECLOUD測(cè)試開關(guān)電源過壓保護(hù)步驟
過壓保護(hù)測(cè)試是開關(guān)電源安全保護(hù)測(cè)試項(xiàng)目之一,確保電路電壓過高時(shí)可以及時(shí)保護(hù)電路和設(shè)備不受損壞。開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)采用先進(jìn)技術(shù),提升和改善了測(cè)試方法,幫助用戶解決測(cè)試問題,滿足測(cè)試需求。用開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試過壓保護(hù)的步驟如下:
1.準(zhǔn)備所需的測(cè)試設(shè)備,如測(cè)試夾具、LAN通訊總線等,連接測(cè)試設(shè)備、待測(cè)品、以及ATEBOX(中轉(zhuǎn)計(jì)算)
2.登錄ATECLOUD
3.選擇對(duì)應(yīng)儀器型號(hào),根據(jù)開關(guān)電源過壓保護(hù)測(cè)試需求,創(chuàng)建相應(yīng)的測(cè)試方案,配置測(cè)試參數(shù),完成后開始運(yùn)行。
4.測(cè)試完成后,ATECLOUD會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析,可以生成相應(yīng)的數(shù)據(jù)報(bào)告和圖表,以便更好地評(píng)估開關(guān)電源的過壓保護(hù)。數(shù)據(jù)報(bào)告也可以導(dǎo)出,支持word和excel格式。
ATECLOUD測(cè)試優(yōu)勢(shì).png
ATECLOUD優(yōu)勢(shì)
ATECLOUD不僅可以實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試、簡化測(cè)試程序、保證測(cè)試準(zhǔn)確性,還可以幫助用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄、數(shù)據(jù)分析,查看歷史測(cè)試數(shù)據(jù)情況,方便對(duì)比分析問題,為設(shè)計(jì)和生產(chǎn)提供支撐。更多ATECLOUD詳情可訪問:https://www.namisoft.com/Atecloud.html
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