了解芯片電學(xué)測(cè)試參數(shù) 評(píng)估芯片電性能和穩(wěn)定性

namisoft

　　電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，用來描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。

　　芯片電學(xué)測(cè)試
　　芯片電學(xué)測(cè)試就是檢測(cè)芯片、元件等電性能參數(shù)是否滿足設(shè)計(jì)的要求。檢測(cè)的項(xiàng)目有電壓、電流、阻抗、電場(chǎng)、磁場(chǎng)、EDM、響應(yīng)時(shí)間等。電學(xué)測(cè)試是評(píng)估芯片性能的重要環(huán)節(jié)，確保芯片的穩(wěn)定性、可靠性，保證其可以正常運(yùn)行工作。

　　芯片電學(xué)測(cè)試參數(shù)
　　芯片電測(cè)試參數(shù)包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
　　1. 直流參數(shù)測(cè)試
　　是對(duì)芯片的直流特性進(jìn)行測(cè)試，包括：
　　靜態(tài)電流測(cè)試：測(cè)試芯片在不同電壓下靜態(tài)電流的大小，評(píng)估芯片的電流驅(qū)動(dòng)能力。
　　電壓測(cè)試：測(cè)試芯片在不同電壓下的表現(xiàn)，包括芯片的最大工作電壓和靜態(tài)電壓。
　　斜率測(cè)試：測(cè)試芯片在不同電流下的電壓數(shù)值變化。
　　反向電流測(cè)試：測(cè)試芯片在反向電流下的性能表現(xiàn)。
　　2.交流參數(shù)測(cè)試
　　是測(cè)試芯片的動(dòng)態(tài)電特性，包括：
　　共模抑制比(CMRR)測(cè)試：測(cè)試芯片在輸入信號(hào)存在共模干擾時(shí)輸出信號(hào)的變化量。
　　變化時(shí)間測(cè)試：測(cè)試芯片在輸入信號(hào)變化時(shí)輸出信號(hào)的變化時(shí)間。
　　放大器帶寬測(cè)試：測(cè)試芯片放大器的傳輸帶寬。
　　相位測(cè)試：測(cè)試芯片信號(hào)傳輸?shù)南辔蛔兓��?br /> 　　3.高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試
　　主要是針對(duì)數(shù)字信號(hào)處理芯片進(jìn)行測(cè)試，包括：
　　時(shí)鐘偏移測(cè)試：測(cè)試芯片的時(shí)鐘誤差，評(píng)估芯片時(shí)鐘同步性。
　　捕獲時(shí)延測(cè)試：測(cè)試芯片捕獲信號(hào)的時(shí)延。
　　輸出時(shí)延測(cè)試：測(cè)試芯片輸出數(shù)字信號(hào)的時(shí)延。
　　串行接口電氣特性測(cè)試：測(cè)試芯片的串行接口傳輸電氣特性。

　　納米軟件專注于各類儀器自動(dòng)化測(cè)試軟件的開發(fā)，其研發(fā)的ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)MCU、Analog、IGBT、半導(dǎo)體等以及各分立器件指標(biāo)測(cè)試提供軟硬件解決方案，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試、數(shù)據(jù)自動(dòng)采集記錄、多方位多層級(jí)數(shù)據(jù)圖表分析，助力解決測(cè)試難點(diǎn)。具體ATECLOUD-IC信息可訪問：https://www.namisoft.com/Softwarecenter/185.html