半導體自動化測試系統如何解決芯片靜態功耗測試痛點？

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　　在芯片的眾多測試項目中芯片的功耗測試可謂重中之重，因為芯片的功耗不僅關系著芯片的整體工作性能也對芯片的效率有著非常重大的影響。芯片的功耗測試包括動態功耗和靜態功耗。
　　芯片靜態功耗是什么?
　　芯片的靜態功耗也叫做芯片靜態電流，它是芯片測試中的非常重要的指標之一，可以直接決定芯片的整體消耗與工作效率，過大的靜態電流會導致芯片效率低下，減少芯片的使用壽命同時影響芯片的整體性能，因此對于同一款芯片來說靜態功耗越小，芯片的質量測越好。
　　芯片靜態功耗如何產生?
　　芯片靜態功耗是由芯片內部的晶體管的漏電流和互偶效應等因素共同影響而產生的。當晶體管關閉時，漏電流仍然存在，這就是造成靜態功耗的主要原因。此外，芯片內部的不同模塊之間交互作用也會導致靜態功耗的增加。
　　芯片靜態功耗的大小有什么影響?
　　芯片靜態功耗的大小是由制造工藝、器件參數以及芯片結構等因素綜合決定的。制造工藝的不同會導致晶體管的大小和電流特性的差異，從而影響芯片的靜態功耗。為了減小芯片的靜態功耗，通常可以通過采用CMOS工藝進行制造、優化芯片設計布局、減少晶體管使用數量等方法。

　　半導體自動化測試系統助力解決靜態功耗測試痛點
　　目前市場上的測量方法是手動測量采集芯片的電壓和電流，然后得出芯片的平均功耗或者靜態功耗。不過這種測試方法只能針對小批量同規格的芯片，因為手動測試中的采集電路精度不夠高，人為采集會出現錯漏等原因，會產生一定的測試誤差，導致測試結果均為平均值或估值。
　　所以對于大批量測試和要求精度高的企業來說還是需要自動的芯片測試系統，納米軟件半導體自動化測試系統只需將測試儀器和芯片連接好之后，運行軟件即可完成靜態功耗的測量，不同參數的配置與儀器操作完全由軟件完成，無需人工修改參數與讀取記錄數據，可以一次對多個芯片進行同時測量，測試的效率與精度相比與手動測試來說有極大的提升。此外數據自動采集與分析功能，也可以免去人工紙質報告的記錄與分析，避免出現人工錯漏，也極大的減少了人力與時間成本，從而提升企業的核心競爭力。更多詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html