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LabVIEW自動(dòng)化測(cè)試與驗(yàn)證系統(tǒng)資料集

發(fā)布時(shí)間：2011-8-1 09:24 發(fā)布者：eechina

關(guān)鍵詞： LabVIEW , NI , 測(cè)試測(cè)量 , 美國(guó)國(guó)家儀器

資源包包括LabVIEW在自動(dòng)化測(cè)試與驗(yàn)證應(yīng)用中的新特性及主要資源。NI LabVIEW可幫助用戶快速開(kāi)發(fā)功能強(qiáng)大的測(cè)試軟件。針對(duì)數(shù)千種儀器與技術(shù)(如：多核和FPGA)的支持，可幫助用戶開(kāi)發(fā)高性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。LabVIEW平臺(tái)作為自動(dòng)化測(cè)試軟件的行業(yè)領(lǐng)袖，海納數(shù)千名全球開(kāi)發(fā)者、集成商和合作伙伴。

下載：

LabVIEW_Application_AT.zip (1.65 MB)

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