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高速PCB設(shè)計指南之三 56 5、最佳可測試性的電氣前提條件 電氣前提條件對良好的可測試性，和機械接觸條件一樣重要，兩者缺一不可。一個門電路不能進行測試，原因可能是無法通過測試點接觸到啟動輸入端，也可能是啟動輸入端處在封裝殼內(nèi)，外部無法接觸，在原則上這兩情況同樣都是不好的，都使測試無法進行。在設(shè)計電路時應(yīng)該注意，凡是要用在線測試法檢測的元件，都應(yīng)該具備某種機理，使各個元件能夠在電氣上絕緣起來。這種機理可以借助于禁止輸入端來實現(xiàn)，它可以將元件的輸出端控制在靜態(tài)的高歐姆狀態(tài)。 雖然幾乎所有的測試系統(tǒng)都能夠逆驅(qū)動（Backdriving）方式將某一節(jié)點的狀態(tài)帶到任意狀態(tài)，但是所涉及的節(jié)點最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節(jié)點帶到高歐姆狀態(tài)，然后再“平緩地”加上相應(yīng)的電平。 同樣，節(jié)拍發(fā)生器總是通過啟動引線，門電路或插接電橋從振蕩器后面直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100歐姆的電阻與電路連接。每個元件應(yīng)有自己的啟動，復(fù)位或控制引線腳。必須避免許多元件的啟動輸入端共用一個電阻與電路相連。這條規(guī)則對于ASIC元件也適用，這些元件也應(yīng)有一個引線腳，通過它，可將輸出端帶到高歐姆狀態(tài)。如果元件在接通工作電壓時可實行復(fù)位，這對于由測試器來引發(fā)復(fù)位也是非常有幫助的。在這種情況下，元件在測試前就可以簡單地置于規(guī)定的狀態(tài)。 不用的元件引線腳同樣也應(yīng)該是可接觸的，因為在這些地方未發(fā)現(xiàn)的短路也可能造成元件故障。此外，不用的門電路往往在以后會被利用于設(shè)計改進，它們可能會改接到電路中來。所以同樣重要的是，它們從一開始就應(yīng)經(jīng)過測試，以保證其工件可靠。 6、改進可測試性 使用探針床適配器時，改進可測試性的建議 套牢孔 l 呈對角線配置 l 定位精度為±0.05mm （±2mil） l 直徑精度為±0.076/-0mm （+3/-0mil） l 相對于測試點的定位精度為±0.05mm （±2mil） l 離開元件邊緣距離至少為3mm l 不可穿通接觸 測試點 l 盡可能為正方形 l 測試點直徑至少為0.88mm （35mil） l 測試點大小精度為±0.076mm （±3mil） l 測試點之間間隔精度為±0.076mm （±3mil） l 測試點間隔盡可能為2.5mm l 鍍錫，端面可直接焊接 l 距離元件邊緣至少為3mm l 所有測試點應(yīng)可能處于插件板的背面 l 測試點應(yīng)均勻布在插件板上 l 每個節(jié)點至少有一個測試點（100％通道） l 備用或不用的門電路都有測試點 l 供電電源的多外測試點分布在不同位置 元件標(biāo)志 l 標(biāo)志文字同一方向 l 型號、版本、系列號及條形碼明確標(biāo)識 l 元件名稱要清晰可見，且盡可能直接標(biāo)在元件近旁 TEL 18681567708 詳情可見www.sz-jlc.com/s |
