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以新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路維修保障為背景，提出了“MERGE（組合）”邊界掃描測試模型的建立方法，基于此方法，設(shè)計(jì)了完善的便攜式數(shù)字電路自動(dòng)測試系統(tǒng)，解決了ICT 測試、功能測試及傳統(tǒng)邊界掃描測試TPS 開發(fā)成本高，技術(shù)難度大，故障覆蓋率低的缺陷。該測試系統(tǒng)現(xiàn)已成功擔(dān)負(fù)新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路的維修保障任務(wù)，應(yīng)用表明，系統(tǒng)具有設(shè)計(jì)合理，性能穩(wěn)定、可靠，故障隔離準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。 雷達(dá)，作為一種重要的軍事武器裝備，在軍事上將其形象的比喻成作戰(zhàn)指揮員的“眼睛”，在維護(hù)國家安全及領(lǐng)土完整中發(fā)揮著舉足輕重的作用。但隨著數(shù)字電路設(shè)計(jì)及制造技術(shù)的發(fā)展，特別是CAD 設(shè)計(jì)軟件的進(jìn)步及完善，單一的測試方法如ICT（In-Circuit Test）測試、功能測試等已無法滿足新型雷達(dá)數(shù)字電路測試及故障診斷的要求，邊界掃描測試將成為今后雷達(dá)裝備數(shù)字電路故障診斷發(fā)展的主流技術(shù)。 基于對(duì)ICT 測試、功能測試局限性的深入探討，以及對(duì)邊界掃描測試技術(shù)的研究與實(shí)踐，本文提出了“MERGE（組合）”邊界掃描測試模型的建立方法，并基于此方法，構(gòu)建了數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)新型雷達(dá)數(shù)字電路的高速、準(zhǔn)確的測試。系統(tǒng)具有硬件設(shè)備小巧、便攜，性能穩(wěn)定、可靠，故障隔離率高等優(yōu)點(diǎn)，適合于戰(zhàn)地級(jí)實(shí)時(shí)維修保障，是大型在線測試、功能測試平臺(tái)的有效補(bǔ)充，較好的解決了測試設(shè)備受制于人及戰(zhàn)時(shí)應(yīng)急搶修等問題。 自動(dòng)測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn) “MERGE（組合）”測試模型的建立 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)明確的規(guī)范了邊界掃描構(gòu)建原理及相應(yīng)的測試方法。在故障診斷過程中，可利用VLSI 芯片自帶的邊界掃描結(jié)構(gòu)及相關(guān)測試指令,有效的實(shí)現(xiàn)對(duì)VLSI 芯片引腳固定型、開路、橋接等故障類型的檢測。但待測試的數(shù)字電路模塊通常包括邊界掃描器件和非邊界掃描器件，本文提出的MERGE 測試模型可通過已有的邊界掃描結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)對(duì)非邊界掃描芯片的測試，能夠拓展邊界掃描的測試范圍，提高TPS 的故障覆蓋率。 基于邊界掃描測試技術(shù)的基本原理，構(gòu)建測試系統(tǒng)過程中創(chuàng)造性的提出了“MERGE”結(jié)構(gòu)測試模型，基本思想如圖 1 所示。 其中，B 部分為待測數(shù)字電路BUT，A 部分為獨(dú)立于BUT 外的邊界掃描擴(kuò)展卡，該擴(kuò)展卡可看作是一塊符合IEEE 1149.1 邊界掃描設(shè)計(jì)規(guī)范的數(shù)字電路。首先，集中將一個(gè)完整的數(shù)字電路BUT 分為如下幾個(gè)部分：非邊界掃描芯片簇（U1），邊界掃描芯片簇（U2），混合芯片簇（U3）。在這里“簇”的概念即將多個(gè)器件統(tǒng)稱為一個(gè)“簇”，簇的范圍可以根據(jù)具體電路規(guī)模來進(jìn)行劃分，可以小到單獨(dú)的一個(gè)IC 或UUT(Unit Under Test)，也可大到一個(gè)完整的BUT(Board UnderTest)。 (1) MERGE 非邊界掃描芯片簇（U1）：非邊界掃描芯片是整個(gè)BUT 網(wǎng)絡(luò)中一個(gè)有序的子集，是具有特定功能的電路。在MERGE 理念中，通過對(duì)非邊界掃描芯片簇建立單獨(dú)的功能模型，將其作為邊界掃描芯片間的一個(gè)中間級(jí)信號(hào)傳輸模型，MERGE 到邊界掃描鏈路，結(jié)合EXTEST 邊界掃描指令，通過Capture IR--＞Shift IR--＞Update IR--＞Capture DR--＞shift DR--＞UpdateDR 等相應(yīng)操作，達(dá)到通過邊界掃描鏈路實(shí)現(xiàn)對(duì)非邊界掃描簇測試的目的。 (2) MERGE 混合芯片簇（U3）：混合芯片簇指既含有非邊界掃描芯片，又含有邊界掃描芯片的混合電路（還可以含有一些中間級(jí)的模擬電路）。MERGE 的思路與（1）類似，模型的驗(yàn)證可通過將一組確定的測試矢量集APPLY 至MI（Model Input），經(jīng)過確定的時(shí)間延遲，通過在MO（Model Output）將采集（sample）到的響應(yīng)信號(hào)與寄存器中存貯的期望值相比較的方法實(shí)現(xiàn)測試。 (3) MERGE BSEC（Boundary Scan External Card），通過BSEC 實(shí)現(xiàn)對(duì)BUT 邊緣電路中非邊界掃描芯片簇或不含邊界掃描芯片的BUT 進(jìn)行邊界掃描測試。測試時(shí)，將待測BUT 作為非邊界掃描簇或混合邊界掃描簇，而將BSEC 當(dāng)作邊界掃描芯片簇，通過MERGE 方法，將BUT、接口電路、邊界掃描擴(kuò)展卡電路虛擬成為一個(gè)含邊界掃描芯片的BUT，具體實(shí)現(xiàn)與（1）、（2）類似。 測試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì) 為了減輕系統(tǒng)整機(jī)的重量，便于運(yùn)輸及攜帶，本測試系統(tǒng)前端設(shè)備采用筆記本計(jì)算機(jī)作為主體來完成系統(tǒng)功能的實(shí)現(xiàn)和人機(jī)界面的交互，同時(shí)內(nèi)配GPIB-USB 模塊、JTAG-Control-PCI-USB 控制器，分別控制可編程電源（Agilent 6600）及BS Interface Pod模塊。整個(gè)硬件設(shè)計(jì)的核心為BSEC(邊界掃描擴(kuò)展卡)、JTAG-Control-PCI-USB 控制器及BSInterface Pod 模塊。其系統(tǒng)硬件框圖如圖 2 所示。 BSEC(邊界掃描擴(kuò)展卡) MERGE 邊界掃描擴(kuò)展卡采用符合IEEE 1149.1 邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的可測試性設(shè)計(jì)方案，應(yīng)用5 片XILINX 公司的XC95144 芯片構(gòu)建完整的從TDI 至TDO 的邊界掃描鏈路，其中掃描鏈路的上游電路及下游電路采用74ACQ244 對(duì)信號(hào)進(jìn)行緩沖及整形，以增強(qiáng)上游電路的扇出能力，同時(shí)整板的邊緣連接器采用了牢固可靠、抗腐蝕的歐式Eurocard 結(jié)構(gòu)形式的連接器，保證測試信號(hào)穩(wěn)定、可靠。原理圖如圖 3 所示。 JTAG-Control-PCI-USB 控制器 JTAG-Control-PCI-USB 控制器是測試系統(tǒng)筆記本記算機(jī)與被測試單元（BUT）進(jìn)行信號(hào)控制的主要部件，實(shí)現(xiàn)工控機(jī)并行控制指令和數(shù)據(jù)向符合邊界掃描測試協(xié)議的串行指令和數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換。電路采用DSP+CPLD 的電路設(shè)計(jì)模式，DSP 芯片采用TI 公司的TMS320LF2407A，運(yùn)行速度可高達(dá)40MIPS（25ns）、具有至少544 字的在片雙訪問存儲(chǔ)器DARAM、2K 大小的在片單訪問存儲(chǔ)器SARAM，32K 的片內(nèi)程序存儲(chǔ)器FLASH；CPLD 選用ALTERA 公司的MAX7000S 系列的EPM71285，其集成度為600"5000 可用門、有32"256 個(gè)宏單元和36"155 個(gè)用戶自定義I/O 引腳、其3.3V 的I/O 電平與DSP 芯片端口電平兼容、并可通過符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的I/O 引腳JTAG 接口實(shí)現(xiàn)在線編程及調(diào)試。JTAG-Control-PCI-USB 控制器是PCI/IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)的主控單元，當(dāng)與BS Interface Pod 結(jié)合使用時(shí)，控制IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)自適應(yīng)測試總線及與之相適應(yīng)的離散信號(hào)。同時(shí)，該控制器還可控制施加到測試總線上負(fù)責(zé)JTAG-Control-PCI-USB 控制器與BS Interface Pod 進(jìn)行通訊的低電壓差分信號(hào)（基于TIA/EIA-644 及IEEE 1596.3 標(biāo)準(zhǔn)）。 BS Interface Pod 模塊 BS Interface Pod 模塊，作為測試輸入/輸出信號(hào)傳輸?shù)闹虚g級(jí)模塊，主要實(shí)現(xiàn)JTAG-Control-PCI-USB 控制器與BUT 之間測試通道的擴(kuò)展和信號(hào)的同步與緩存。FPGA（Altera 公司，EP20K160EBC365-1）是本電路設(shè)計(jì)的核心，其功能是將前級(jí)JTAG-Control-PCI-USB 控制器發(fā)出的不同的控制信號(hào)轉(zhuǎn)換成UUT 測試終端能夠識(shí)別的TAP控制信號(hào)，保證TDI、TCK、TMS、TRST 準(zhǔn)確施加到UUT 的測試端，同時(shí)將采集到的TDO信號(hào)返回給測試前端控制模塊。74LVC125（Buffer）則用來完成信號(hào)暫存，輸出級(jí)的74LVC125還可增強(qiáng)信號(hào)的扇出能力。整個(gè)BS Interface Pod 模塊采用抗EMI（電磁干擾）屏蔽封裝，前面板預(yù)留4 個(gè)20Pin 的JTAG 控制端口，另外設(shè)計(jì)了一個(gè)電源指示燈，用于上電確認(rèn)。 測試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) 系統(tǒng)軟件在Windows XP 環(huán)境下采用Visual C++6.0 及National Instruments 公司的LabWindows 6.0 集成開發(fā)環(huán)境完成。Visual C++ 6.0 能夠提供豐富的Windows 程序開發(fā)功能，靈活性強(qiáng)、編程效率高；LabWindows 6.0 提供了多種接口協(xié)議、豐富的控件及儀器驅(qū)動(dòng)程序，其支持虛擬儀器技術(shù)的特性是其它開發(fā)環(huán)境無法比擬的，同時(shí)它提供了豐富的軟件包接口，為軟件開發(fā)提供了極大的方便。 軟件設(shè)計(jì)采取了軟件模塊化及自頂向下的設(shè)計(jì)原則，首先根據(jù)MERGE 原則劃分電路模塊，將測試程序分割成不同的測試模塊，其次采用宏的方式構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)的測試模塊并優(yōu)化模塊接口，然后將其它待測模塊與該模塊接口進(jìn)行有效鏈接，再分別進(jìn)行編譯及調(diào)試，最后一起進(jìn)行合并構(gòu)建 完整的測試體。在開發(fā)過程中，將該軟件分為若干模塊不但減少了軟件的工作量，而且對(duì)于函數(shù)的公共部分進(jìn)行了類的封裝，提高了模塊的復(fù)用性，同時(shí)提高了軟件本身的可測試性。系統(tǒng)軟件流程如圖 4 所示。 測試優(yōu)化 為減少ATE 在故障診斷中誤判的概率，系統(tǒng)采用加權(quán)偽隨機(jī)向量關(guān)系生成、插入間隔刷新測試矢量優(yōu)化測試矢量和測試過程。 (1) 加權(quán)偽隨機(jī)測試矢量生成：加權(quán)偽隨機(jī)測試矢量生成能夠利用較短的測試碼長度（即較短的測試時(shí)間）達(dá)到較高的測試故障覆蓋率。為了縮短測試碼并改進(jìn)故障覆蓋率，這種測試矢量生成方式可以調(diào)節(jié)在輸入端產(chǎn)生０或１的概率，有效檢測到難檢測的故障。在偽隨機(jī)測試碼中，每個(gè)輸入端產(chǎn)生0 或１的概率為50%。 (2) 插入式間隔刷新：由于數(shù)據(jù)線具有一定的電平保持特性，因此對(duì)于一組數(shù)據(jù)總線I/O而言，在BS-Cell 處于讀狀態(tài)時(shí)（如處于Update 狀態(tài)），Cell 單元的Output Enable ControlCell 處于有效狀態(tài)，測試矢量通過BS-Cell 施加至I/O 數(shù)據(jù)總線，如果下一個(gè)時(shí)鐘節(jié)拍，BS-Cell 處于寫狀態(tài)（如處于Capture 狀態(tài)），由于數(shù)據(jù)線的電平保持特性，則有可能在此時(shí)間，BS-Cell所Capture 回讀的數(shù)據(jù)為上一個(gè)時(shí)鐘節(jié)拍的Update 數(shù)據(jù)，造成測試不穩(wěn)定。解決的辦法是在每一次讀狀態(tài)結(jié)束后，系統(tǒng)根據(jù)讀狀態(tài)的間隔時(shí)間，隨機(jī)產(chǎn)生一組與上一組測試矢量不同的數(shù)據(jù)，命名為*data，對(duì)I/O 總線進(jìn)行間隔刷新。 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析 現(xiàn)以某新型雷達(dá)點(diǎn)跡處理數(shù)字電路為例進(jìn)行系統(tǒng)功能驗(yàn)證。整個(gè)電路采用DSP+FPGA 的設(shè)計(jì)架構(gòu)，其主要芯片包括：5 片DSP（ADSP21060）、2 片F(xiàn)PGA（Atlera Flex EPF10K 系列）、8 片雙口RAM（QFP 封裝），其他E2PROM、HC244（SOP 封裝）、HC245（SOP封裝）等。電路設(shè)計(jì)復(fù)雜，芯片多，PCB 布局布線密度大，采用ICT、功能測試TPS 開發(fā)難度大。 利用本邊界掃描自動(dòng)測試系統(tǒng)，結(jié)合MERGE 方法，對(duì)上述電路板進(jìn)行TPS 開發(fā)實(shí)驗(yàn)及故障診斷，測試結(jié)果如圖 5 所示。 插入模擬故障（U8-6 stuck to 0）,重新仿真：掃描鏈測試--＞PASS--＞B-Scan 器件簇測試--＞PASS--＞NB-Scan 器件簇測試--＞Failed (Report: Pin(s): U3-25, R26-2, U8-6,R26-1 possible stuck at low, the BS nodes is U31-21(R/W))。 上述仿真結(jié)果表明，融合MERGE 方法所構(gòu)建的基于邊界掃描的板級(jí)自動(dòng)測試系統(tǒng)，自動(dòng)化程度高，故障隔離準(zhǔn)確有效。 結(jié)語 邊界掃描技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)字電路的高速測試，不但可以減少ICT 測試高昂的夾具開發(fā)成本，縮短測試時(shí)間，還能夠滿足時(shí)延故障和芯片性能測試的要求。本文主要針對(duì)基于邊界掃描技術(shù)的測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)難度大、故障覆蓋率低等問題，創(chuàng)造性的提出了MERGE 法邊界掃描技術(shù)。通過對(duì)該方法的深入研究，構(gòu)建了基于該技術(shù)的新型雷達(dá)數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測試系統(tǒng)。經(jīng)綜合評(píng)定該系統(tǒng)性能可靠，符合我軍新型雷達(dá)裝備維修保障的要求，具有良好的發(fā)展前景。目前該ATE 正擔(dān)負(fù)著新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路的維修保障任務(wù)，其整體設(shè)計(jì)思路對(duì)同類型故障診斷平臺(tái)的研發(fā)具有重要的借鑒價(jià)值和參考意義。 |
