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JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動組)是一種國際標準測試協(xié)議(IEEE 1149．1兼容)。標準的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 JTAG的主要功能有兩種，或者說JTAG主要有兩大 類：一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；另一類用于Debug，對各類芯片以及其外圍設(shè)備進行調(diào)試。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器、掛在CPU總線上的設(shè)備以及內(nèi)置模塊的寄存器。本文主要介紹的是Debug功能。 1 JTAG原理分析 簡單地說，JTAG的工作原理可以歸結(jié)為：在器件內(nèi)部定義一個TAP(Test Access Port，測試訪問口)，通過專用的JTAG測試工具對內(nèi)部節(jié)點進行測試和調(diào)試。首先介紹一下邊界掃描和TAP的基本概念和內(nèi)容。 1．1 邊界掃描 邊界掃描(Boundary-Scan)技術(shù)的基本思想是在靠近芯片的輸入／輸出引腳上增加一個移位寄存器單元，也就是邊界掃描寄存器(Boundary-Scan Register)。 當芯片處于調(diào)試狀態(tài)時，邊界掃描寄存器可以將芯片和外圍的輸入／輸出隔離開來。通過邊界掃描寄存器單元，可以實現(xiàn)對芯片輸入／輸出信號的觀察和控制。對于芯片的輸入引腳，可以通過與之相連的邊界掃描寄存器單元把信號(數(shù)據(jù))加載到該引腳中去；對于芯片的輸出引腳，也可以通過與之相連的邊界掃描寄存器“捕獲”該引腳上的輸出信號。在正常的運行狀態(tài)下，邊界掃描寄存器對芯片來說是透明的，所以正常的運行不會受到任何影響。這樣，邊界掃描寄存器提供了一種便捷的方式用于觀測和控制所需調(diào)試的芯片。另外，芯片輸入／輸出引腳上的邊界掃描(移位)寄存器單元可以相互連接起來，在芯片的周圍形成一個邊界掃描鏈(Boundary-Scan Chain)。邊界掃描鏈可以串行地輸入和輸出，通過相應(yīng)的時鐘信號和控制信號，就可以方便地觀察和控制處在調(diào)試狀態(tài)下的芯片。 1．2 測試訪問口TAP TAP(Test Access Port)是一個通用的端口，通過TAP可以訪問芯片提供的所有數(shù)據(jù)寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。對整個TAP的控制是通過TAP控制器(TAP Controller)來完成的。下面先分別介紹一下TAP的幾個接口信號及其作用。其中，前4個信號在IEEE1149．1標準里是強制要求的。
簡單地說，PC機對目標板的調(diào)試就是通過TAP接口完成對相關(guān)數(shù)據(jù)寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的訪問。 系統(tǒng)上電后，TAP Controller首先進入Test-LogicReset狀態(tài)，然后依次進入Run-Test／Idle、Selcct-DR-Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR狀態(tài)，最后回到Run-Tcst／Idle狀態(tài)。在此過程中，狀態(tài)的轉(zhuǎn)移都是通過TCK信號進行驅(qū)動(上升沿)，通過TMS信號對TAP的狀態(tài)進行選擇轉(zhuǎn)換的。其中，在Capture-IR狀態(tài)下，一個特定的邏輯序列被加載到指令寄存器中；在Shift-IR狀態(tài)下，可以將一條特定的指令送到指令寄存器中；在Update—IR狀態(tài)下，剛才輸入到指令寄存器中的指令將用來更新指令寄存器。最后，系統(tǒng)又回到Run—Test／Idle狀態(tài)，指令生效，完成對指令寄存器的訪問。當系統(tǒng)又返回到Run—Test／Idle狀態(tài)后，根據(jù)前面指令寄存器的內(nèi)容選定所需要的數(shù)據(jù)寄存器，開始執(zhí)行對數(shù)據(jù)寄存器的工作。其基本原理與指令其存器的訪問完全相同，依次為seIect—DR—Scan、Capture—DR、Shift—D、Exitl一DR、Update—DR，最后回到Run-Tcst／Idle狀態(tài)。通過TDl和TDO，就可以將新的數(shù)據(jù)加載到數(shù)據(jù)寄存器中。經(jīng)過一個周期后，就可以捕獲數(shù)據(jù)寄存器中的數(shù)據(jù)，完成對與數(shù)據(jù)寄存器的每個寄存器單元相連的芯片引腳的數(shù)據(jù)更新，也完成了對數(shù)據(jù)寄存器的訪問。 目前，市場上的JTAG接口有14引腳和20引腳兩種。其中，以20引腳為主流標準，但也有少數(shù)的目標板采用14引腳。經(jīng)過簡單的信號轉(zhuǎn)換后，可以將它們通用。 下面通過對JD44BOX實驗開發(fā)板的簡易JTAG的基本原理進行分析，以及對JD44BOX和STR710試驗開發(fā)板主板的JTAG原理進行對比，進一步闡述JTAG的工作原理。JD44BOX實驗開發(fā)板的簡易JTAG的原理圖如圖1所示。 圖1中，74LS244為三態(tài)輸出的8組緩沖器和總線驅(qū)動器，其功能如表l所列。 由表1可知，在JD4480X實驗板的調(diào)試過程中，這款簡易JTAG的主要作用就是將PC機發(fā)出的電信號與實驗板的電信號進行匹配，以實現(xiàn)驅(qū)動目標板的功能。 STR710和JD44BOX主板的JTAG原理圖如圖2和圖3所示。 通過圖2和圖3的對比可以發(fā)現(xiàn)，雖然所用的仿真器有很大的差別，但是，實際上忽略一些上下拉電阻以及保護電容(這些電阻、電容對于電路功能沒有意義)，它們的基本原理圖是十分相似的，唯一的差別就在于對RTCK信號(用于測試時鐘返回)和DBGRQ信號(用于設(shè)置目標板工作狀態(tài))的處理。實際上，在IEEE1149．1標準中這兩個信號都不是強制要求的。因此，在分析仿真器(JTAG)的工作原理時完全可以忽略這兩個信號的情況，而僅對IFEE 1149．1標準中強制要求的4個信號進行分析。 2 仿真器與簡易JTAG的性能對比 2．1 仿真器硬件連接
硬件連接如圖4所示。通過主機的并口與仿真器相連接，再將仿真器與目標板的JTAG調(diào)試接口連接。 2．2 性能對比 如表2所列，雖然通過不同的調(diào)試代理所需的下載時間有所不同，但是兩種仿真器所存在的性能差異仍然很明顯。在選用簡易JTAG下載文件的過程中，效率最高的調(diào)試代理所需的時間仍將近是仿真器的6倍，這就是仿真器的優(yōu)勢所在。性能的提高必然要付出更多的代價，對開發(fā)者來說這個代價就是成本。經(jīng)過市場的考察，仿真器的價格一般在千兀左右，而簡易JTAG的價格一般在百元左右，也就是存在將近10倍的差別。另外，還需要考慮的就是其兼容性。兼容性包括與H標板的兼容和與調(diào)試代理的兼容。在與目標板的兼容方面，后面的內(nèi)容中會有詳細說明；在與調(diào)試代理的兼容方面也有所反映。簡易JTAG能夠與多個調(diào)試代理兼容，而仿真器只能使用其自帶的調(diào)試代理，具有一定的局限性。 2.3 原因分析 既然所有JTAG的基本原理都是一樣的，為什么這兩種仿真器的速度會存在如此大的差異，而且并不是所有的仿真器都是通用的呢? 首先介紹一下ARM7掃描鏈架構(gòu)，如圖5所示。 與簡易JTAG比較，在掃描過程中，STR710的仿真器為ARM7TDMI添加了一個專門的指針通道以及相應(yīng)的存儲空間store-multiple(STM)。因此在調(diào)試狀態(tài)下，仿真器不再利用系統(tǒng)除了邊界扣描寄存器外的任何其他資源，而是通過JTAG-style接口直接獲取系統(tǒng)的狀態(tài)信息，對系統(tǒng)狀態(tài)進行觀測以及調(diào)試，進而大大提高調(diào)試速度。 在STR7lO目標板中，ARM7TDMI可以通過外部信號和內(nèi)部電路模塊(ICE)進入調(diào)試狀態(tài)。當目標板一旦進入調(diào)試狀態(tài)后，內(nèi)核就將其與存儲器分離開來，這樣內(nèi)核就可以保證在不影響系統(tǒng)正常運作的狀態(tài)下對系統(tǒng)的狀況進行監(jiān)測和調(diào)試。同時，ARM7TDMI內(nèi)部狀態(tài)的檢測是通過JTAG-style接口進行的，這個接口允許指令不通過數(shù)據(jù)線直接進入到內(nèi)核的掃描通道。這樣在調(diào)試狀態(tài)下，STM就可以直接嵌入到指令通道并存儲ARM7TDMI寄存器的內(nèi)容，在不影響系統(tǒng)工作的情況下將這些內(nèi)容移位出來，使仿真器獲得目標板的狀態(tài)信息。 與仿真器比較，簡易JTAG完成的工作就要少得多。它只是完成了對主機信號的電平轉(zhuǎn)換，也就是相當于一個驅(qū)動器。上面提到的所有工作都要交給CPU去做，因此在使用簡易JTAG下載文件時目標板自然會相應(yīng)地降低速度。尤其是當程序相對較大時，其速度就會大大降低，對于一些開發(fā)人員來講，這是相當致命的缺點。 關(guān)于仿真器與目標板的兼容問題，現(xiàn)在市場上的部分仿真器出現(xiàn)不同程度的不兼容問題，其產(chǎn)生的主要原因是對RTCK信號(DBGRQ信號極不常見，這里不作介紹)的處理情況存在一些差異(不包括周立功系列的實驗開發(fā)板，它們的仿真器使用的足單片機，與大多數(shù)的仿真器都不能兼容)。例如，在STR710中是將STCK信號與TCK信號直接相連了，而在nano2410A實驗開發(fā)板中是將STCK信號直接接地，因此造成了ARM JTAG Emulator在nano2410A實驗開發(fā)板中的不兼容。在對nano2410A主板的JTAG進行了小小的改動后就完成了仿真器兼容性的擴展。 備注：①JD4480X為北京交通大學自控室實驗開發(fā)板，STR710為北京微芯力科技有限公司實驗開發(fā)板；②實驗數(shù)據(jù)為秒表所測。 |
