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1 引言 隨著IC設(shè)計(jì)方法與工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步，集成電路結(jié)構(gòu)和功能日益復(fù)雜，測試問題成為必 須考慮的關(guān)鍵問題，測試成本作為整個(gè)IC產(chǎn)品成本的主要組成部分，也受到了極大的重視。由 于國內(nèi)自動(dòng)測試設(shè)備（Automatic testing EquIPMent）主要依賴進(jìn)口，價(jià)格昂貴，測試圖形產(chǎn)生， 特別是測試量產(chǎn)過程的花費(fèi)（例如測試時(shí)間），就顯得尤為重要。為了使測試成本保持在合理 的限度內(nèi)，最有效的方法就是采用可測性設(shè)計(jì)（Design For Testibility）。可測性設(shè)計(jì)（DFT） 是適應(yīng)集成電路的發(fā)展要求所出現(xiàn)的一種技術(shù)，主要任務(wù)是通過適當(dāng)?shù)脑O(shè)計(jì)重構(gòu)或調(diào)整來提高 電路整體性能的輔助設(shè)計(jì)方法，其核心是通過適當(dāng)?shù)那捌诖鷥r(jià)來提高電路的可測性，即可控制 性和可觀察性，降低產(chǎn)品的測試成本。本文設(shè)計(jì)的RISC_CPU是一個(gè)復(fù)雜的數(shù)字邏輯電路，采 用DFT策略可以很好地解決測試問題。 2 CPU 結(jié)構(gòu) 本文設(shè)計(jì)的RISC_CPU，主要分為幾個(gè)模塊，各個(gè)模塊之間的互連關(guān)系如圖1所示。 1． 時(shí)鐘發(fā)生器(clkgen)：產(chǎn)生一系列的時(shí)鐘信號送往 CPU 其他部件； 2． 指令寄存器(register)：存儲(chǔ)指令； 3． 累加器(accum)：存放算術(shù)邏輯運(yùn)算單元當(dāng)前的結(jié)果，它也是算術(shù)邏輯運(yùn)算單元雙目運(yùn)算中的一個(gè)數(shù)據(jù)來源； 4． 算術(shù)邏輯運(yùn)算單元(alu)：根據(jù)輸入的不同操作碼分別實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的加、與、讀、寫、異或，跳轉(zhuǎn)等指令； 5． 數(shù)據(jù)輸出控制器(datactl)：控制累加器的數(shù)據(jù)輸出； 6． 狀態(tài)控制器(control)：CPU 的控制核心，用于產(chǎn)生一系列的控制信號，啟動(dòng)或停止某些部件； 7． 程序計(jì)數(shù)器(counter)：提供指令地址，以便讀取指令； 8． 地址多路器(adr)：選擇輸出的地址是 PC（程序計(jì)數(shù)）地址還是跳轉(zhuǎn)的目標(biāo)地址； 9. 狀態(tài)復(fù)位器（machine），狀態(tài)控制器復(fù)位信號生成模塊。 3 基本概念釋義 3.1 掃描 掃描設(shè)計(jì)方法是通過將電路中的時(shí)序元件替換為相應(yīng)的可掃描的時(shí)序元件（即掃描單元）， 然后將它們串聯(lián)起來，形成一個(gè)從測試輸入到測試輸出的串行移位寄存器。這樣，測試數(shù)據(jù)由 測試輸入，通過移位，到達(dá)要控制的單元；內(nèi)部數(shù)據(jù)，再次通過移位，由測試輸出的端口，觀 察結(jié)果。 3.2 基于沿觸發(fā)的掃描單元結(jié)構(gòu) 圖2是掃描單元構(gòu)成，其工作原理是：在掃描模式控制下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的掃描輸出，即T/N =1 時(shí)，掃描數(shù)據(jù)從i s 輸入，在時(shí)鐘作用下從Q輸出，輸出的是掃描輸入的數(shù)據(jù)。而當(dāng)T/N = 0時(shí)， 掃描單元處于正常工作模式，也就是在時(shí)鐘作用下從Q輸出，但輸出的是單元正常工作的數(shù)據(jù)。 4 掃描設(shè)計(jì) 4.1 自動(dòng)掃描單元替換 RISC_CPU有近萬個(gè)時(shí)序單元，為了獲得較高的故障覆蓋率，采用了全掃描的設(shè)計(jì)方案， 使用Synopsys公司Design Compiler自動(dòng)完成測試插入功能，用最基本的掃描觸發(fā)器來替換時(shí)序 單元，共設(shè)計(jì)了9條掃描連, 測試激勵(lì)使用Synopsys公司的TetraMAX測試產(chǎn)生工具產(chǎn)生出來：共 產(chǎn)生組合測試向量1413個(gè)，其故障覆蓋率達(dá)到95.06%；產(chǎn)生時(shí)序測試向量147個(gè)，覆蓋率增加到 97.39%。在剩余2.61%未覆蓋的故障中，1.4%的故障是電路設(shè)計(jì)中的冗余故障。 4.2 掃描移位測試 測試使能端test_se=1,將電路置為掃描模式，每條掃描鏈上的所有觸發(fā)器數(shù)為n,從scan_in送 入一個(gè)長為n+4的輸入序列：00110011…0011。這個(gè)序列將在每個(gè)掃描觸發(fā)器中產(chǎn)生所有可能的 4種跳變信號情況：0→0，0→1，1→1，1→。從scan_out可以觀測到信號跳變情況。這個(gè)測試覆 蓋了觸發(fā)器中大多數(shù)單故障型故障，從而確保掃描鏈的移位操作不出錯(cuò)。由于9條掃描鏈可以并 發(fā)測試，以最長掃描鏈的長度為準(zhǔn)，完成移位測試的測試時(shí)間約為582=（289*2+4）個(gè)測試時(shí)鐘 周期。 4.3 固定型故障的測試 單固定型故障是芯片測試的主要目標(biāo)。由于我們采用全掃描設(shè)計(jì)，因此對大部分電路可以 使用組合電路的測試方式完成，即測試輸入數(shù)據(jù)通過掃描鏈準(zhǔn)備好后，只經(jīng)過一個(gè)節(jié)拍就進(jìn)行 輸出響應(yīng)的捕獲。但是，由于RAM的存在，讀寫RAM的信號不可觀測和控制，因此對于最靠近 RAM的一級觸發(fā)器到RAM之間的組合邏輯，稱為RAM的陰影邏輯(shadow logic)，無法通過組 合電路的測試方式完成。解決這個(gè)問題一般有兩種方式，一種方式是在RAM外部插入測試點(diǎn)來 提高陰影邏輯的可控制性和可觀測性， 由于這會(huì)影響訪存RAM的性能，這種方案在該 RISC_CPU中不可取。另一種方式被采用，即對RAM建立等價(jià)功能模型，這將導(dǎo)致需要用測試 時(shí)序電路的方式來測試陰影邏輯。 為了保證測試時(shí)鐘的可控性，在芯片測試時(shí)需要將測試控制信號test 置為有效(test=1)，使 芯片工作在測試方式。對一個(gè)芯片的測試過程如下：在掃描模式下，測試激勵(lì)通過一條或幾條 掃描的scan_in管腳，串行移位到響應(yīng)的掃描觸發(fā)器。當(dāng)一個(gè)測試的所有輸入激勵(lì)準(zhǔn)備好后，使 用系統(tǒng)時(shí)鐘將測試激勵(lì)送入被測邏輯。一個(gè)時(shí)鐘周期（對組合測試）或幾個(gè)時(shí)鐘周期（對時(shí)序 測試）后從被測模塊的輸出端口所在的掃描鏈上，將輸出信號依次串行移位到相應(yīng)的scan_out 引 腳，將讀出的數(shù)據(jù)與期待的輸出比較，以判斷被測邏輯中是否存在故障。 5 存儲(chǔ)器測試 本文采用了Mentor 公司的MBIST 插入工具M(jìn)BISTArchitect。MBISTArchitect 可以創(chuàng)建和 連接RTL 級BIST 邏輯到待測芯片中。RISC_CPU 的存儲(chǔ)器由RAM1、RAM2、RAM3 三塊大 小分別為20*128 字節(jié)、64*128 字節(jié)、64*48 字節(jié)的存儲(chǔ)器構(gòu)成面積約為45%，我們用三塊帶有 比較結(jié)構(gòu)的MBIST 電路，這三塊MBIST 是通過mbist_addr 和MBIST 模塊來控制的，三塊MBIST 電路共享測試控制信號hold_1 和診斷控制信號debug_z 以及三個(gè)測試輸出tst_done、fail_h 和 scan_out（錯(cuò)誤定位即診斷數(shù)據(jù)輸出）。MBIST 測試使能信號由mbist_addr 解碼得到，從而決定三塊MBIST 電路的工作次序以及最終的芯片測試輸出，他們之間的關(guān)系由表1 給出。 由表1可知：當(dāng)mbist_addr為00時(shí)，ram1的MBIST電路的控制信號即為外部相應(yīng)輸入的控制 信號，其他兩個(gè)ram模塊的MBIST電路的控制信號輸入置為0。異步復(fù)位置位有效，系統(tǒng)處于ram1 的測試狀態(tài)，系統(tǒng)測試輸出即為ram1的測試輸出；當(dāng)mbist_addr為01時(shí)，系統(tǒng)處于ram2的測試狀 態(tài)，系統(tǒng)測試輸出即為ram2的MBIST測試輸出；當(dāng)mbist_addr為10時(shí)，系統(tǒng)處于ram3的測試狀 態(tài)，系統(tǒng)測試輸出為ram3的MBIST測試輸出。 為了得到每一塊RAM的測試結(jié)果，我們將MBIST的測試結(jié)果通過第九條掃描鏈移出，在多 個(gè)分組測試中，測試時(shí)間最長的執(zhí)行MBIST算法大約需要1044800個(gè)時(shí)鐘周期，加上初始化和測 試完成后將測試結(jié)果掃描移出的時(shí)間，共需要的時(shí)鐘周期數(shù)不超過10445900個(gè)，如果測試時(shí)鐘 的頻率為20MHZ，則測試時(shí)間約為0.52秒。借助于BIST，對嵌入式存儲(chǔ)器的單固定型故障、開 路故障、地址譯碼故障均獲得了100%的故障覆蓋率，達(dá)到了預(yù)定的要求。 6 結(jié)束語 本文合理地選擇了邊界掃面和內(nèi)建自測試方式，根據(jù)時(shí)鐘域劃分各個(gè)功能單元，修改設(shè)計(jì)， 消除了設(shè)計(jì)規(guī)則違反，選擇了適當(dāng)?shù)木C合流程，在對設(shè)計(jì)負(fù)面影響不大的情況下，僅增加了0.2% 的時(shí)序消耗和0.02%的面積消耗，取得了良好的可測性效果，達(dá)到了芯片邏輯的97.39%的單固 定型故障覆蓋率，能夠監(jiān)測到RAM中100%的單固定型故障覆蓋率，滿足了芯片生產(chǎn)測試需求。 本文作者創(chuàng)新點(diǎn)：采用全掃描設(shè)計(jì)插入九條測試鏈并發(fā)測試大大縮減了測試時(shí)間，極大降 低了測試費(fèi)用。 |
