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一種適用于寬電源電壓幅度的高精度雙極帶隙基準(zhǔn)電路

發(fā)布時間:2010-7-23 16:22    發(fā)布者:lavida
關(guān)鍵詞: 基準(zhǔn)
引言  

電壓基準(zhǔn)廣泛地應(yīng)用在模擬電路中,在A/D、D/A的集成電路設(shè)計中,也需要基準(zhǔn)來確定其輸入或輸出的全程范圍。隨著電路系統(tǒng)的不斷復(fù)雜化,對基準(zhǔn)源的要求也越來越高。盡管MOS器件的許多參數(shù)已被考慮用于基準(zhǔn)產(chǎn)生,但雙極電路,因其晶體管的特征參數(shù)具有最好的重復(fù)性,并能提供正溫度系數(shù)和負(fù)溫度系數(shù)的、嚴(yán)格定義的量,形成了此類電路的核心。由于基準(zhǔn)源的精度與溫度有關(guān),提高精度必須降低溫度系數(shù)。因此本文采用溫度補(bǔ)償及負(fù)反饋的方法,大大的降低了基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù),并且在寬電源電壓幅度范圍作用下,使其仍具有很好的電源抑制特性和很高的電源抑制比PSRR(Power-Supply Rejection Ratio)。  

帶隙基準(zhǔn)源原理  

基準(zhǔn)是直流量,它與電源的關(guān)系很小,與溫度和工藝有一定的關(guān)系。由于基準(zhǔn)源的精度與溫度有關(guān),提高精度必須降低溫度系數(shù)。采用溫度補(bǔ)償?shù)姆椒ǎ丛跍囟葏^(qū)域內(nèi)找到一點(diǎn),使得基準(zhǔn)源的輸出在該點(diǎn)的溫度導(dǎo)數(shù)為零,只要此點(diǎn)選取合適,就能獲得較小的溫度系數(shù)。  

圖1為帶隙基準(zhǔn)源的原理示意圖。  



圖1 帶隙基準(zhǔn)源的原理示意圖  

利用熱電壓VT的正溫度系數(shù)與雙極型晶體管B、E結(jié)電壓VBE的負(fù)溫度系數(shù)相互補(bǔ)償,以減小溫度漂移。其中VBE的溫度系數(shù)在室溫時大約為-2mV/°C。而熱電壓VT=KT/q,其溫度系數(shù)在室溫時大約為+0.086mV/°C。將電壓VT乘以常數(shù)K以后與電壓VBE相加,便可得輸出電壓VREF為:  


  
將式(1)兩端同時對溫度T求微分,并將VBE和VT的溫度系數(shù)值代入,令等式值為零,就可求得K的值,它使得帶隙基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)值在理論上為零。由于VT與電源值無關(guān),而VBE受電源變化的影響極小,故VREF受電源的影響也很小。  

高精度帶隙基準(zhǔn)電路  

等效電路結(jié)構(gòu)與分析

圖2為文本文介紹的一種雙極帶隙基準(zhǔn)電路的等效電路圖。  



圖2 帶隙基準(zhǔn)電路的等效電路圖  

此帶隙基準(zhǔn)電路基本工作原理是通過負(fù)反饋,保證穩(wěn)定的輸出電壓。在電路中,雙極型晶體管Q2提供發(fā)射極偏壓為VBE,由取樣電阻R2上的電壓mVREF產(chǎn)生了nVT,其中n/m=K。由以上分析知,選擇適當(dāng)K,可使兩個電壓的溫度漂移相互抵消,即令:  


  
其中:?????  


  


  
將式(3)、(4)代入式(2),有:  


  
即理論值K≈26.23,從而由式(1)得到了在某一溫度下溫度系數(shù)為零的基準(zhǔn)電壓。當(dāng)然由于不同工藝下的VBE的負(fù)溫度系數(shù)有很大的差別,K的實(shí)際值略有不同。  

此電路中的運(yùn)放與常規(guī)運(yùn)放的不同之處在于其輸入差分對尺寸不同,故亦可理解成為加入一失調(diào)電壓。當(dāng)電阻R2上的電壓等于此失調(diào)電壓時,運(yùn)放處于平衡狀態(tài)。當(dāng)輸出電壓增加時,R2上的電壓增加,差分信號增大,運(yùn)放輸出電壓升高,輸出電流減小以抑制輸出電壓的上升;同時,當(dāng)輸出電壓減小時,差分信號減小,運(yùn)放輸出電壓降低,輸出電流增大以抑制輸出電壓的下降,從而達(dá)到穩(wěn)定輸出電壓的目的。下文將作對此詳細(xì)討論。  

實(shí)際電路結(jié)構(gòu)與分析

圖3為本文介紹的雙極帶隙基準(zhǔn)電路的實(shí)際電路圖。  



圖3 高精度帶隙基準(zhǔn)電路的實(shí)際電路圖  

基準(zhǔn)源中的運(yùn)放AREF由四級組成,輸入級為差分對輸入,經(jīng)過兩級射隨后,最后經(jīng)過一級反向放大輸出。晶體管Q7、Q8、Q9構(gòu)成威爾遜電流源,作為差分對的有源負(fù)載,同時完成雙端輸入到單端輸出的轉(zhuǎn)換。威爾遜電流源具有大的動態(tài)內(nèi)阻,并且輸出電流受β的影響也大大減小,在設(shè)計中選用它使基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)有了極大改善。

下面以電流關(guān)系來闡述此電路補(bǔ)償原理。在圖3中,用ixn表示電流,當(dāng)x為C、B、E時,表示流經(jīng)三極管Qn的集電極、基極、發(fā)射極的電流;當(dāng)x為R時,表示流經(jīng)電阻Rn的電流。通過分析可以得到:  


  
其中i B4、i E5 、i R4為定值,即i C6與i R5、i C4與i B1同方向變化。當(dāng)該電路處于平衡態(tài)時,i C5也為定值,繼而有:i B4 → i R4→i B1→ i C1皆為定值。當(dāng)溫度降低時,有以下關(guān)系:  


  
由式(8)可以看出,當(dāng)溫度降低時,此電路通過負(fù)反饋可以使得輸出基準(zhǔn)電壓保持穩(wěn)定。 同理,當(dāng)溫度升高時,此電路通過負(fù)反饋也能使得輸出基準(zhǔn)電壓保持穩(wěn)定。  

設(shè)計該電路中運(yùn)放輸入差分對的兩個晶體管發(fā)射結(jié)面積不對稱,A10=6A11,則反向飽和電流的關(guān)系為IBES10=6IBES11。當(dāng)IE10=IE11時,電路處于平衡狀態(tài)。C1、C2用于相位補(bǔ)償。由晶體管的原理可知:  


  
因此,為獲得平衡狀態(tài),由以上條件可得:  


  
由于基準(zhǔn)源中的電阻網(wǎng)絡(luò)與運(yùn)放形成負(fù)反饋,運(yùn)放的差分輸入電壓(V- -V+ )由輸出電壓VREF的反饋網(wǎng)絡(luò)決定。即平衡狀態(tài)下,電阻R2兩端的電壓為VTLn6,故有:  


  
比較(1)和(8)可知:  


  
K=23.06,跟理論值非常接近,其偏差是由于計算時沒有考慮電阻的非線性溫度系數(shù)所致。

在實(shí)際電路中,為了提高基準(zhǔn)電壓的精確度,還對電阻R2和R3用調(diào)節(jié)腳進(jìn)行調(diào)節(jié)。這樣,即使實(shí)際工藝有一定偏差,也可以在一定范圍內(nèi)對基準(zhǔn)電壓進(jìn)行調(diào)節(jié)。  

仿真與分析  

仿真結(jié)果

通過以上分析,初步確定此電路的器件尺寸,并給定電路的工作條件為:溫度范圍:--25°C"75°C;電源電壓范圍:4.5V"14.5V。  
在TT-Model下采用HSpice仿真軟件,基于Samsung BipolarP rocess BCH4仿真模型。對電源工作電壓在10V范圍內(nèi)進(jìn)行直流掃描,得基準(zhǔn)電壓曲線如圖4所示。  



圖4 基準(zhǔn)電壓(VREF)電源抑制特性曲線

對溫度在100°C范圍內(nèi)進(jìn)行直流掃描,得基準(zhǔn)電壓曲線如圖5所示。  



圖5 基準(zhǔn)電壓(VREF)的溫度特性曲線  

分析結(jié)論

帶隙基準(zhǔn)電壓在溫度、電源電壓變化時的數(shù)據(jù)如表1所示。從以上的仿真結(jié)果與表1中的數(shù)據(jù)中可以得到以下結(jié)論:  



表1 VREF隨溫度、電源電壓變化數(shù)據(jù)表  
1)此帶隙基準(zhǔn)電路輸出電壓溫度系數(shù)為:  


  
在實(shí)際電路中由于工藝及運(yùn)放失調(diào)等因素的影響,溫度系數(shù)實(shí)際值會增大一些。

2)此帶隙基準(zhǔn)電路工作在寬電源電壓范圍內(nèi),其電源抑制特性表現(xiàn)為:  


  
直流電源抑制比:  


  
為了說明本文所設(shè)計的雙極帶隙基準(zhǔn)電路的特點(diǎn),將其與國際上經(jīng)典電路之主要指標(biāo)進(jìn)行比較,結(jié)果如表2所示,顯然,具有明顯的優(yōu)勢和工程應(yīng)用價值。  



表2 與國際上經(jīng)典電路之比較結(jié)果  

結(jié)束語  

本文作者所設(shè)計的雙極帶隙基準(zhǔn)電路,通過改變負(fù)反饋運(yùn)算放大器的性能,從而使基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)達(dá)到了2.28×10-6 ppm/°C的高精度,并且在△V=10V寬電源電壓幅度范圍作用下,使其具有1.2mV/V的電源抑制特性和79dB的直流電源抑制比PSRR。基于以上性能優(yōu)點(diǎn),使得該基準(zhǔn)電路可以廣泛應(yīng)用在溫度變化范圍大、工作電壓幅度寬的Bipolar/BiCOMS型集成電路設(shè)計中。
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