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飛針測(cè)試是一個(gè)檢查PCB電性功能的方法(開短路測(cè)試)之一｡飛測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB抄板的系統(tǒng)｡不是使用在傳統(tǒng)的在線測(cè)試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面,飛針測(cè)試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針,移動(dòng)到測(cè)試中的元件｡在測(cè)單元(UUT, unit under test)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)｡然后固定,測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(test pad)和通路孔(via)從而測(cè)試在測(cè)單元(UUT)的單個(gè)元件｡測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號(hào)發(fā)生器､電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬(wàn)用表､頻率計(jì)數(shù)器等)來(lái)測(cè)試UUT上的元件｡當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候,UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾｡ 飛針測(cè)試程式的制作的步驟: 方法一 第一:導(dǎo)入圖層文件,檢查,排列,對(duì)位等,再把兩個(gè)外層線路改名字為fronrear.內(nèi)層改名字為ily02,ily03,ily04neg(若為負(fù)片),rear,rearmneg｡ 第二:增加三層,分別把兩個(gè)阻焊層和鉆孔層復(fù)制到增加的三層,并且改名字為fronmneg,rearmneg,mehole.有盲埋孔的可以命名為met01-02.,met02-05,met05-06等｡ 第三:把復(fù)制過(guò)去的fronmneg,rearmneg兩層改變D碼為8mil的round｡我們把fronmneg叫前層測(cè)試點(diǎn),把rearmneg叫背面測(cè)試點(diǎn)｡ 第四:刪除NPTH孔,對(duì)照線路找出via孔,定義不測(cè)孔｡ 第五:把fron,mehole作為參考層,fronmneg層改為on,進(jìn)行檢查看看測(cè)試點(diǎn)是否都在前層線路的開窗處｡大于100mil的孔中的測(cè)試點(diǎn)要移動(dòng)到焊環(huán)上測(cè)試｡太密的BGA處的測(cè)試點(diǎn)要進(jìn)行錯(cuò)位｡可以適當(dāng)?shù)膭h除一些多余的中間測(cè)試點(diǎn)｡背面層操作一樣｡ 第六:把整理好的測(cè)試點(diǎn)fronmneg拷貝到fron層,把rearmneg拷貝到rear層｡ 第七:激活所有的層,移動(dòng)到10,10mm處｡ 第八:輸出gerber文件命名為fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole,met01-02,met02-09,met09-met10層｡然后用Ediapv軟件 第一:導(dǎo)如所有的gerber文件fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole,met01-02,met02-09,met09-met10層｡ 第二:生成網(wǎng)絡(luò)｡net annotation of artwork按扭｡ 第三:生成測(cè)試文件.make test programs按扭,輸入不測(cè)孔的D碼｡ 第四:保存, 第五:設(shè)置一下基準(zhǔn)點(diǎn),就完成了｡然后拿到飛針機(jī)里測(cè)試就可以了｡ 個(gè)人感覺(jué):1､用這種方法做測(cè)試文件常常做出很多個(gè)測(cè)試點(diǎn)來(lái),不能自動(dòng)刪除中間點(diǎn)｡ 2､對(duì)孔的測(cè)試把握不好｡在ediapv中查看生成的連通性(開路)測(cè)試點(diǎn),單獨(dú)的孔就沒(méi)有測(cè)試點(diǎn)｡又比如:孔的一邊有線路,而另一邊沒(méi)有線路,按道理應(yīng)該在沒(méi)有線路的那一邊對(duì)孔進(jìn)行測(cè)試｡可是用ediapv轉(zhuǎn)換生成的測(cè)試點(diǎn)是隨機(jī)的,有時(shí)候在對(duì)有是后錯(cuò)｡ 3 針對(duì)REAR面防焊沒(méi)有開窗的可以將REAR層的名字命成其它名字,這樣在EDIAPV中就不會(huì)莫明其妙的跑出測(cè)點(diǎn)來(lái)了｡ 4 如果有MEHOLE兩面只有一面開窗,但是跑出來(lái)有兩面都有測(cè)點(diǎn)的話,可以再按一次這個(gè)make test programs按扭,需要注意的是將光標(biāo)定在MEHOLE這一層上方可 |
