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USB3.0的測試難點與物理層測試探討

發(fā)布時間:2010-3-29 10:38    發(fā)布者:李寬
關(guān)鍵詞: 難點 , 探討 , 物理
2002年Intel將USB2.0端口整合到計算機(jī)南橋芯片ICH4上的舉動,推動了USB2.0的普及。USB2.0版本支持三種速率:高速 480Mbps、全速12Mbps以及低速1.5Mbps。隨著電子行業(yè)的快速發(fā)展,480Mbps對于藍(lán)光DVD、高清視頻、TB級別大容量硬盤的數(shù)據(jù)傳輸而言已經(jīng)稍顯不足,于是在2008年11月,HP、Intel、微軟、NEC、ST-NXP、TI等公司聯(lián)合起來正式發(fā)布了USB3.0的V1.0規(guī)范。USB3.0又稱為SuperSpeed USB,比特率高達(dá)5Gbps,如圖1所示,使用USB2.0拷貝25GB的文件需要14分鐘,3.0卻只需70秒左右,而25GB恰好是單面單層藍(lán)光光盤的容量。USB3.0預(yù)計將在2011年逐步在計算機(jī)和消費(fèi)電子產(chǎn)品中亮相,因此目前就USB 3.0的測試問題展開討論十分必要。本文在介紹USB 3.0測試難點以及力科解決方案的同時,也將就USB3.0的物理層測試內(nèi)容進(jìn)行重點討論。


圖1:USB2.0與USB3.0的速度對比

USB3.0 的測試難點

目前在USB3.0的物理層測試中主要存在以下難點:

1. 發(fā)送端(TX)的全部測試需要不同的兼容性測試碼型(全部測試需要CP0/CP1/CP7/CP8),而對于USB3.0的板級開發(fā)工程師來說,去配置 PUT發(fā)送出不同的測試碼型比較困難;

2. 接收端(RX)的測試需要讓待測試產(chǎn)品(PUT)進(jìn)入環(huán)回(Loopback)模式,而板級開發(fā)工程師很難讓PUT的芯片進(jìn)入環(huán)回模式來測試其誤碼和抖動容限;

3. TX和RX都是兼容性測試的必測項目,但是目前的測試方案需要多臺儀器,TX和RX的測試結(jié)果分別出現(xiàn)在兩臺儀器上,生成兩個獨立的測試報告,測試的配置和操作過程非常復(fù)雜,完成全部項目測量需要很長時間。

解決上述難點,可以考慮采用力科最新的USB3.0物理層測試方案。圖 8、9即為力科USB3.0的解決方案示意圖,測試儀器和附件由帶寬13GHz以上的示波器、PeRT3、RF Switch、USB3.0測試夾具等組成。


圖8:USB3.0的全自動測試原理示意圖

在TX測試時,信號的傳輸鏈路如圖8的上半部分所示,力科示波器通過USB電纜控制PeRT3,PeRT3通過同軸電纜向PUT的RX端發(fā)送Ping.LFPS,PUT的TX連接到示波器的通道。PeRT每發(fā)送一次 Ping.LFPS,則PUT的TX發(fā)送的碼型在CP0到CP8之間切換一次(比如從CP0變?yōu)镃P1,或從CP8變?yōu)镃P0),這樣就無需測試人員去配置PUT發(fā)送不同的測試碼型。通過PeRT3,力科的QualiPHY軟件會自動控制PUT發(fā)送不同的測試碼型,完成TX的所有測試。

在RX測試時,示波器通過GPIB接口控制RF Switch切換到另一鏈路,如圖8下部分所示,PeRT3的碼型發(fā)生器輸出的加入抖動的信號先通過Compliance Test Channel(由Intel的11英寸背板和3米USB3.0電纜組成),然后連接到USB3夾具,進(jìn)入PUT的RX端,PUT的TX端通過夾具,把信號發(fā)送給PeRT3的Error Dector端。


圖2:力科的USB3.0測試夾具

由于示波器通過USB電纜控制PeRT并讀取PeRT的測試結(jié)果,并通過GPIB控制RF Switch在鏈路間自動切換,因此USB3.0的TX和RX測試完全實現(xiàn)自動化,無需人工干預(yù),操作步驟非常簡單,節(jié)省了測試時間。

USB3.0 物理層測試內(nèi)容

本文以力科最新版本的一致性測試軟件QualiPHY-USB3對USB 3.0的物理層測試內(nèi)容進(jìn)行分析。該軟件根據(jù)2009年11月發(fā)布的USB3.0的電氣兼容性測試規(guī)范Rev0.9版本開發(fā),安裝在示波器上,示波器通過 USB電纜連接到PeRT3,使用USB與PeRT3進(jìn)行通信,在測試中,QualiPHY軟件可以控制PeRT3發(fā)送特定的信號,或從PeRT3中讀取 RX測試結(jié)果,這樣只需QualiPHY軟件即可完成TX和RX的所有測試。在QualiPHY-USB3測試軟件中,包括了以下測試項目:

LFPS(Low Frequency Periodic Signaling)信號測量

測量Polling.LFPS信令的電壓和時間參數(shù),這在 USB3.0規(guī)范CTS Rev0.9中是必測項目。測試方法為:待測試產(chǎn)品(PUT)的端口上插入USB3.0夾具,夾具上的TX端通過同軸電纜連接到示波器的兩個通道,將 PUT上電后,PUT會發(fā)送出Polling.LFPS信令,示波器捕獲后測量其水平或垂直參數(shù)。如圖3所示為LFPS的信號特征。在力科一致性測試軟件中會分析脈沖的上升、下降時間、周期、占空比、峰峰值、共模電壓,以及脈沖串的突發(fā)持續(xù)時間(tBurst)和重復(fù)時間(tRepeat)。


圖3:LFPS信號的波形

SSC(Spread Spectrum Clock)展頻測量

SSC經(jīng)常使用在計算機(jī)主板的電路上,用于減小電磁輻射。在USB3.0中,需要測試擴(kuò)頻時鐘的調(diào)制頻率(SSC Modulate Rate)、頻偏最大值(SSC Deviation Max)和頻偏最小值(SSC Deviation Min),測試時PUT發(fā)送出CP1碼型的數(shù)據(jù)流(CP是Compliance Pattern的簡寫,在USB3的物理層測試中,各項測試需要不同的測試碼型),CP1碼型為D10.2,即0101連續(xù)跳變的碼型,相當(dāng)于頻率 2.5GHz的時鐘,規(guī)范要求擴(kuò)頻時鐘的調(diào)制頻率為30-33KHz之間,頻偏最小值在+/-300ppm之間,頻偏最大值在-5300ppm到 -3700ppm之間。圖4為力科示波器測量擴(kuò)頻時鐘的結(jié)果。SSC在CTS Rev0.9中是必測項目,跟USB3.0芯片輸入時鐘緊密相關(guān),如果輸入時鐘的SSC不符合要求,通常USB3.0輸出信號的SSC也無法通過測試。


圖4:擴(kuò)頻時鐘測試結(jié)果

抖動與眼圖測量

在USB3.0的TX眼圖和抖動測試中,測量的是待測試信號經(jīng)過參考測試信道后TP1點的眼圖和抖動。如圖5中的Reference test channel即為參考測試信道,在規(guī)范中定義了long channel、short channel和3米電纜三種參考測試信道。如果使用long channel或者較長電纜,信號到達(dá)接收端時衰減比較大,眼圖已經(jīng)閉合,USB3.0芯片接收端使用了CTLE均衡器對信號進(jìn)行均衡后,信號眼圖的質(zhì)量將大大改善,所以要求測試儀器分析出CTLE均衡器處理后信號的眼圖和抖動。目前業(yè)界常用的是Intel的11英寸背板和3米USB電纜作為參考信道。


圖5:USB3.0的TX的眼圖測試點(來自USB3.0 規(guī)范)

如圖6所示,左邊的眼圖是靠近TX近端測量到的眼圖;中間的眼圖是通過兼容性信道(參考測試信道)后測量的眼圖,可見眼圖的張開程度較小,抖動較大;右邊的眼圖是仿真CTLE均衡后的眼圖,可見眼高和抖動都得到改善。


圖6:USB3.0的 Transmitter測試在近端、遠(yuǎn)端和均衡后的眼圖對比

眼圖和抖動測試中信號源需要發(fā)出特別的測試碼型,對于眼圖測試,需要CP0碼型(擾碼的D0.0);對于抖動測試,需要CP0碼流或者CP1碼流(D10.2),前者用于確定性抖動Dj的測量,后者用于隨機(jī)抖動Rj的測量。眼高必須從連續(xù)的1百萬個比特疊加的眼圖中測量,力科SDA813Zi示波器完成1百萬比特的眼圖僅需2秒,速度是同類示波器的 10-50倍以上。抖動為10e-12誤碼率時抖動的峰峰值(即總體抖動Tj)。

AC和DC共模電壓測量

這項測試需要PUT發(fā)送CP0碼流,測量差分信號的交流和直流共模電壓,在USB3.0 Specification Rev1.0中有要求(前者Vtx-ac-cm-pp<=0.1V,后者Vtx-dc-cm在0-2.2V之間),但是在USB3.0的兼容性測試規(guī)范CTS Rev0.9中未作要求。

差分電壓幅度和去加重測量

差分電壓擺幅測試的目的是驗證信號峰峰值是否在0.8-1.2V之間。測試中PUT需要發(fā)送出測試碼型CP8,CP8由50-250個連續(xù)的1和50-250個連續(xù)的0 重復(fù)交替組成,而且消除了去加重,其波形相當(dāng)于50-250分頻的時鐘。在這些測試中,把USB3.0測試夾具去嵌后測量結(jié)果更精確。

為了把5Gbps速率的數(shù)據(jù)傳送較遠(yuǎn)的距離,USB3.0的發(fā)送端使用了去加重技術(shù),這項測試可以測量PUT的去加重程度是否滿足規(guī)范要求(要求在-3dB 到-4dB之間)。測試時DUT發(fā)送出CP7碼流,CP7碼型由50-250個連續(xù)的1和50-250個連續(xù)的0重復(fù)交替組成,而且是添加了去加重的信號波形。在USB3.0的兼容性測試規(guī)范CTS Rev0.9中對差分電壓幅度和去加重測量未作要求。

誤碼與抖動容限測試

由于USB3.0的速率高達(dá)5Gbps,在USB3.0規(guī)范中接收機(jī)測試成為必測項目。接收機(jī)測試包括了誤碼和抖動容限測試兩部分。

對于Receiver Compliance測試,需要使用誤碼率測試儀BERT(Bit Error Ratio Tester,簡稱BERT),比如力科的PeRT3。BERT由Pattern Generator和Error Detector組成。如下圖7左圖所示為傳統(tǒng)的BER測試和抖動容限測試的示意圖。BERT的Pattern Generator發(fā)送出特定的測試碼流,碼流中添加了定量的抖動,通過參考測試信道后到達(dá)待測試芯片(DUT)的RX端,DUT設(shè)置為retimed loopback模式(重定時自環(huán)模式),將接收到的數(shù)據(jù)從芯片的TX端發(fā)送到BERT的Error Detector,BERT分析收到的碼流和發(fā)送的碼流,對錯誤的比特計數(shù),得到誤碼率。調(diào)節(jié)Pattern Generator輸出碼流在各種頻段的抖動值,并測試誤碼率,可以得到DUT的抖動容限。


圖7:USB3.0的兩種誤碼測試和抖動容限測試方法示意圖

對于USB3.0的接收機(jī)測試還可以使用另一種方法:即Loopback BERT Method。如圖7右圖所示:DUT的接收端工作在Loopback BERT模式,直接分析BERT發(fā)送出的已知的測試碼流,對接收到的誤碼計數(shù),誤碼數(shù)量存入誤碼寄存器(如下圖7的Error Register),LeCroy PeRT3直接讀取誤碼寄存器,得到誤碼率和抖動容限測試結(jié)果。

兩種測試方法對比,前者是串行信號接收端測試通常使用的傳統(tǒng)方法,其誤碼判定在BERT端,即在DUT的外部進(jìn)行BER測試;后者是USB3.0芯片接收端直接測量誤碼率,測試儀器讀取待測試芯片的誤碼寄存器來了解誤碼值,即DUT內(nèi)部進(jìn)行BER測量。力科的PeRT3同時支持以上兩種測試方法。

結(jié)語

本文簡要介紹了USB3.0的物理層測試內(nèi)容和測試難點。力科的一致性測試軟件QualiPHY-USB3.0可以控制示波器、誤碼率測試儀PeRT3,快捷的、全自動的測量USB3.0的所有測試項目,大大的簡化了工程師的測試與調(diào)試時間,是業(yè)內(nèi)最全面和 快捷的測試解決方案。

參考文獻(xiàn)

1, Universal Serial Bus 3.0 Specification, Revision 1.0.
2, Electrical Compliance Test Specification Rev0.9, SuperSpeed USB.
3, LeCroy USB3.0 Datasheet.

作者: 美國力科公司深圳代表處 張昌駿
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