|
半導體結自加熱效應 隨著測試時間增加，VCSEL的半導體結逐漸變熱。正向電壓測試變得對半導體結自加熱效應敏感。隨著半導體結發(fā)熱，電壓下降，更嚴重的是，在恒定電壓測試中漏電流會上升。 因而，在不犧牲測量精度和穩(wěn)定性的前提下保持盡可能短的測量時間變得非常重要。SourceMeter©系列設備允許用戶在測量前定義器件的熱機時間，以及獲得輸入信號的時間長度。熱機時間可以保證任何電路電容在測量開始前進入穩(wěn)態(tài)。測量積分時間由電源的線性周期數(shù)（NPLC，number of power line cycles）決定。如果輸入電源是60Hz，1個電源線性周期測量需要1/60 s，即16.667ms。積分時間決定了模數(shù)轉換器ADC采集輸入信號的時間。通常，所選擇的積分時間表示了速度和精度之間的折中。 VF測試的典型熱機時間范圍是1~5ms，對于光強度-電流測試，該時間范圍是5~20ms。這段短暫的熱機時間有助于減少由半導體結自加熱效應帶來的誤差。通過進行一系列測試并且在每一次重復測試時只改變熱機時間的做法，可以進行半導體結的熱特性測試。 漏電流 除了電纜和待測器件夾具通常的漏電特性之外，測試夾具的導電性沾污會隨著時間增加，產(chǎn)生漏電流。在測量小電流或采用小電流光電二極管時，需要想辦法減小漏電流。 一種減小漏電流的方法是，采用帶保護的夾具。在帶保護的夾具中，待測件附近的區(qū)域與輸出的HI信號保持相同的電勢，可以減小待測件和漏電流路徑上的電壓。要了解更多更詳細的關于保護裝置和防護敏感信號的解釋，請參見吉時利名為“Obtaining More Accurate Resistance Measurements Using the 6-Wire Ohms Measurement Technique”的文章，可以在吉時利網(wǎng)站上查到。 圖1 使用開關進行多器件測試 圖2 采用多個2602型源表系統(tǒng)進行并行測試的配置 了解吉時利2602型源表更多信息，請戳http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2602/ 想與吉時利測試測量專家互動？想有更多學習資源？可登錄吉時利官方網(wǎng)站http://www.keithley.com.cn/ |
