同惠TH2851 LCR測試儀測量操作與校準指南

agitek2008

一、儀器概述

同惠TH2851 LCR測試儀是一款高精度、多功能電參數測量儀器，適用于電感（L）、電容（C）、電阻（R）及阻抗（Z）、相位角（θ）、品質因數（Q）等參數的測試。其操作簡便、測試速度快、精度高，廣泛應用于電子元器件生產、研發及質檢領域。本文將詳細介紹該儀器的測量操作流程及校準方法，幫助用戶規范使用，確保測試數據的準確性。

二、測量前準備

1. 環境檢查

確保工作環境溫度在15℃~35℃之間，濕度低于80%，避免強電磁干擾。

儀器需放置于平穩的工作臺上，避免震動影響測試結果。

2. 儀器連接

連接電源線，確認電源適配器的電壓與當地供電標準一致。

使用專用測試線連接測試夾具，根據被測元件類型（如SMD元件、直插元件）選擇合適的夾具。

若需外部信號源，可通過信號輸入端口連接，注意信號幅度不超過儀器允許范圍。

3. 開機預熱

啟動儀器后，建議預熱15-30分鐘，使內部電路達到穩定狀態。

三、測量操作步驟

1. 參數設置

測試模式選擇：根據被測元件類型選擇L、C、R或Z模式。

測試頻率設置：根據元件特性選擇合適的測試頻率（默認1kHz），高頻元件需選擇更高頻率（如10kHz~100kHz）。

測試電平設置：根據元件阻抗范圍選擇電平（如10mV~2Vrms），避免因信號過強導致元件損壞。

其他參數：如需測量Q值或D值（損耗角正切），需在菜單中開啟對應功能。

2. 連接被測元件

將元件正確接入測試夾具，確保引腳接觸良好，避免寄生電容或接觸電阻影響測試結果。

對于帶磁芯的電感，注意磁芯方向，避免因磁場干擾導致誤差。

3. 啟動測試

按下“測試”鍵或通過軟件控制觸發測試，儀器將自動顯示測量結果。

如需保存數據，可通過USB接口或RS-232接口連接電腦，使用配套軟件記錄數據。

4. 結果分析

觀察測量結果是否穩定，若數值波動較大，需檢查連接或調整測試參數。

對比標準值判斷元件是否合格，注意公差范圍。

四、校準流程

1. 內部校準（自校準）

定期（建議每月一次）進行內部校準，確保儀器基準參數準確。

操作步驟：

1. 進入“校準”菜單，選擇“內部校準”。

2. 按提示連接短路器（Short）、開路器（Open）及負載（Load）。

3. 儀器自動校準零點、增益及相位，完成后顯示校準結果。

2. 外部校準（使用標準件）

當內部校準無法通過或需更高精度時，需使用經計量認證的標準元件進行外部校準。

操作步驟：

1. 連接標準元件（如高精度電阻、電容）。

2. 記錄儀器測量值，與標準值對比計算誤差。

3. 調整儀器校準參數（如偏移量、增益系數），使誤差最小化。

3. 校準注意事項

校準環境需與測試環境一致，避免溫度漂移影響。

標準元件需定期送檢，確保其精度在有效期內。

五、注意事項與常見問題處理

1. 測量注意事項

避免人體接觸測試夾具，防止引入寄生參數。

高頻測試時，使用屏蔽電纜并縮短測試線長度。

測量大電感時，注意Q值是否超限，避免測試結果異常。

2. 常見問題處理

測試結果偏差大：檢查連接是否正確、測試參數是否合適、是否進行校準。

儀器報錯“Over Range”：被測元件超出量程，需調整測試電平或更換夾具。

數據波動：檢查環境是否有電磁干擾、測試線是否接觸良好、預熱是否充分。

六、維護與保養

1. 定期清潔儀器表面，避免灰塵和油污影響散熱。

2. 避免長時間暴露在潮濕或腐蝕性環境中。

3. 若長期不使用，建議每月通電1次，防止內部電路老化。

同惠TH2851 LCR測試儀的高效使用離不開規范的測量操作和定期校準。通過遵循本文指南，用戶可有效提升測試精度，延長儀器使用壽命，為電子元器件的研發與生產提供可靠數據支持。