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三菱電機功率器件的技術和產品趨勢

發布時間:2012-2-25 19:02    發布者:1770309616
三菱電機功率器件的技術和產品趨勢.pdf (1.11 MB)

  在對環境的投入已成社會必然要求的背景下,可有效利用資源和能源的電力電子技術主角 — 功率器件的作用,也就顯得尤為重要。
  我們三菱電機以“低損耗”和“小型化”功率器件的命題為基礎,時刻聽取大家的意見;迄今為止,以引領變頻器產品市場的智能功率模塊為首,已制造出眾多產品。
  今后,為了各領域中欲創造高附加價值產品的企業客戶,將更進一步致力于功率器件的高功能化。不僅著眼于提高基本功能和開發新功能,還將致力于可提高開發設計及生產效率的集成技術、合乎客戶需求的高性價比封裝技術等方面的技術鉆研。
  我們將充分發揮積累至今的綜合性技術以及技術人員的精神,通過為企業客戶創造有用的產品,掀起電力電子技術世界的新潮流,一如既往地致力于功率器件的開發,為建設未來環保型社會做貢獻。
  在數百Hz〜數十kHz的領域中,三菱電機以IGBT元件為主要器件,開發和生產了可適用于電氣化鐵道、工業、汽車、醫療設備、消費電子等眾多領域的各種功率模塊。在此,向大家介紹這一領域中的產品和技術趨勢。

  
  首先從功能方面來講,從系統結構中搭載多個分立半導體的器件初期開始,為提高其便利性,就已開發了內置主電路排線的IGBT模塊。然后,通過集成驅動功能及保護功能,誕生了具備更高功能的智能功率模塊(IPM)。
  IPM產品通過內置周邊電路,可縮短客戶的開發、設計時間,有利于減少生產線上的裝配工序數及設備小型化。最近,除工業用途外,在家電產品中也得到了廣泛的應用。而且,為有利于今后提高整體系統的效率,將繼續推進周邊零部件的集成化及系統控制、系統保護功能、以及含信息通信功能等在內的高功能化。
  1:封裝的發展
  封裝在由分立式轉化為盒式的進程中,現已出現了通用封裝概念的NX系列,和用于電氣化鐵道等的大容量、高絕緣型。而且,還開發出可適用于半導體IC封裝技術的壓注模封裝,以DIPIPM™ 產品群為代表,以消費電子為中心不斷推廣發展。
  1-1:可靈活應對客戶需求、實現高性價比的NX系列
  被稱為新一代盒式封裝的NX系列,其封裝概念為利用基本零件的通用化和裝配流程的靈活性,靈活應對客戶需求,提高性價比。對盒體、底板、管腳、端子和盒蓋等基本零部件進行通用化的同時,通過裝配過程中改變管腳配置、主端子安裝位置等方式,可滿足各客戶需求。
  
  1-2:進化的IPM和DIPIPM™
  在IPM中,將驅動電路內置于IGBT,并將溫度保護、控制電壓的欠壓保護、短路時的保護功能等一體化。現在的L系列,在此基礎上增加了EMI噪聲對策的柵極調整電路,還內置了各電流頻段中的噪聲減少功能。壓注模封裝的產品 DIPIPM™ ,應用IC的制作方法,實現全硅化,提高了生產效率。目前,正在推進往其中的控制IC里載入更多功能的技術開發。
  
  DIPIPM™ 的封裝,是在引線框上安裝芯片,以往都是用樹脂進行模塑。但用此模塑樹脂進行散熱和絕緣時,根據樹脂特性需要達到一定的厚度,難以實現低熱阻。因此,從DIPIPM™ 第4代的新系列起,開發導入了絕緣片,確保其高絕緣性的同時,又使其擁有良好的熱阻特性。產品本身也變得非常小巧。與之相反,若相比小型化,更追求與以往尺寸一致的情況下,可在同等封裝下控制更大電流。在初期的大型產品中,我們推出了600V/15A型產品。通過改善熱阻和損耗,額定電流增加到了50A,最近連75A也在可控范圍內了。
  同等產品(封裝尺寸)中獲取更多電流。反之,使必需電流實現更小封裝/產品的技術,已成為達到系統小型化及系統高電流密度的關鍵之一。
  2:第6代IGBT芯片開發
  2-1:功率損耗和FOM上所見的功率芯片性能
  功率模塊共同點課題就是“低損耗”和“小型化”。邁向新一代繼續發展高功能化、高性能化,也是以解決這些課題為大前提來考慮的。因此需要開發出性能更優越功率芯片。
  首先看看搭載于功率模塊中的功率芯片與系統功率損耗的關系。從80年開始,通過替換為使用雙極晶體管的第1代IGBT,就已產生了約30%的改善效果。其后從第1代更新到第3代,改善了約40%,切實降低了功率損耗,而目前的第5代為第1代的1/3〜1/4。這些損耗降低有利于實際應用中節省電力,尤其在室內空調等變頻家電產品達到了令人驚嘆的省電效果。
  
  下面,介紹一下測量功率芯片性能的Figure Of Merit(FOM)。以通態壓降和開關損耗的乘積除以導通功率芯片的電流密度即為FOM。通態壓降表示導通時的損耗,而切斷功率損耗是以開關損耗為基準的特性值。這里再加上可確定通電能力的電流密度,這三個特性值即可形成FOM。
  FOM值越大,性能就越高。
  
  從FOM來看,IGBT第1代到第3代,性能提高了約4倍,F在的第5代比第1代性能提高了約10倍。今后的第6代當然要比第5代更低損耗,以性能指標提高約30%為目標推進開發。
  2-2:結構技術的進化實現低損耗
  集電極到發射極的所經路線,可用若干電阻元件分解表示。初期產品平面型IGBT有JFET電阻元件。為改善這一問題,從第4代起導入溝槽結構,消除了 JFET電阻元件,降低了功率損耗。而第5代,更設計了可減小體電阻的載流子蓄積層,力求降低損耗。在第6代,我們繼續追求從結構上也降低損耗。
  
  2-3:利用劃時代的獨創技術,推進開發第6代功率芯片
  目前在第5代IGBT芯片上,開發并采用了降低損耗效果極佳的CSTBT™ 結構,F在第6代IGBT芯片的開發也采用了CSTBT™ 結構。
  第6代IGBT芯片開發的核心技術有以下兩點。改善短路耐量的結構技術 ––“雜質濃度分布曲線的優化”,和降低通態壓降、擴大電流通道的“晶圓微細加工”。
  IGBT芯片中安裝的晶體單元數量決定電流導通順暢程度,因此如何縮短溝槽間隔,將更多的晶體單元安裝到IGBT芯片中,就成為關鍵。從模擬結果發現,若將溝槽間隔從目前的間距4µm壓縮到2.5µm時,功率損耗的基準導通電阻可降低約20〜30%。
  
  2-4:優化減少閾值電壓偏差的濃度分布曲線
  采用這項技術,可以降低導通阻抗,但其弊端是導致安全工作區 (SOA) 變窄。為抑制這一弊端,確立了“優化濃度分布曲線”的技術。
  柵極閾值電壓是決定短路耐量和安全工作區SOA的一項指標。閾值電壓低時,雖可獲得電流,但短路耐量會變短。反之,閾值電壓高時,短路耐量加強,但無法獲得電流。也就是說,以閾值電壓為參數,電流容量和短路耐量存在背反關系。為改善此背反關系,確立了“優化濃度分布曲線”的技術。
  CSTBT™ 結構在構造上,雖有生產流程偏差容易影響閾值電壓等特性的問題,但第6代IGBT芯片利用高能離子注入技術優化濃度分布曲線,從結構上改善了生產流程偏差的影響。減少閾值電壓偏差可使SOA的設計更有余地。故可通過微細加工力求低損耗,還可確保SOA。
  
  
  通過改善偏差,在與以往相同的感性負載短路下,保證時間為10µs
  
  
  定常損耗中,開關損耗比第5代改善了約30%
  
  
  除性能提高外,外觀比以往的NF系列尺寸縮小了約30%。
  
  
  與第5代整體比較,通態壓降減小,偏差減半,從原來的±1V變成±0.5V。
  在保持一般能力的同時,也確保了短路耐量和SOA,從整體上大幅度改善了權衡關系。
  2-5:與IGBT芯片共同發展的二極管技術開發
  這些IGBT芯片從第5代到第6代發展的同時,二極管的技術開發也與時俱進。目標就是通過使VF溫度系數為正,及背面陰極部分厚度變薄,以降低通態壓降。
  
  
  與以往250〜300µm的厚度相比,減少到一半以下,為100幾十µm
  
  通過晶圓薄型化和優化雜質濃度,使交點(Tj=125℃的正向電壓(VF)-正向電流(IF)曲線和Tj=25℃的VF-IF曲線相交叉的電流值)略低于額定電流,二極管超負荷使用時,利用正溫度系數消除電流集中。以此概念為基礎,達到低VF化和正溫度系數。
  二極管還有一個很大的問題,即反向恢復工作時會引起電壓振蕩,成為噪聲源。二極管的特性決定在低溫、高壓、低電流的情況下,使之反向恢復工作時,會產生電壓振蕩。但與第6代IGBT芯片組合使用的二極管器件,通過優化濃度,可抑制電壓振蕩。
  
  
  150A、1200V二極管芯片的驗證。在額定電流(300A)約1/15左右的23A/cm²低電流下,使之工作。圖為開關時的恢復波形
  
  
  通態壓降和恢復損耗的關系。通態壓降變小時反向恢復電場變大。第6代比以往改善了約35%左右。
  3:功率器件的展望
  3-1:產品發展
  第6代IGBT芯片從FOM來說,比以往改善了約1.3倍。即在同一電流密度下使用時,損耗降低了約30%。二極管芯片的損耗也比以往產品降低了約30%。使用這些芯片的IGBT模塊實現了低損耗,抑制了二極管恢復動作時的電壓振蕩,做到了低EMI化。而且,利用封裝技術,進行通用封裝下更大容量產品的開發。
  IPM及DIPIPM™ 方面,在力求低損耗和低EMI化的同時,更為提高功率密度,將可提高附加值的功能集成化,并結合到新一代產品中。
  此外,關于比DIPIPM™ 更小容量即1A〜2A水平的產品方面,不采用模塊形式,而是開發出用硅片將整個電路單元全部裝入在內的芯片。1個半導體芯片即可構成變頻電路的單片機變頻器。含共三層變頻驅動用IGBT、保護電路、柵極驅動功能,也包括控制功能,全部單片化。最初目標 — 500V/1A級別的產品已進入開發收尾階段,可向客戶提供樣品。
  
  3ー2:功率器件的發展
  功率器件通過各項技術改善,可控制功率密度也得以提高。用雙極晶體管構成的變頻器,功率密度為0.1 W/cc。體積為1 cc時,可控制功率密度為0.1 W左右。此數值IGBT芯片登場后,提升了一個數位,達到1 W /cc。而現在的第5代,已進化到可控制數W/cc的水平。按此趨勢,通過低損耗的探索和技術革新,今后也將持續進步。
  
  作為可替代硅的新半導體材料而備受矚目的碳化硅(SiC),因為材料價格非常昂貴,考慮到性價比方面,會優先使用于一些特殊用途。因為它在數百℃的環境中也能工作,今后會考慮將其器件化,以彌補硅無法應用的領域。
  由此,今后功率器件可望獲得更大的發展。

來源:三菱半導體
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