由北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱“泛華測控”)DAQ事業部舉辦的“2010數據采集全國巡回研討會”即將全面啟動。本次研討會將以快速搭建高效精準的數據采集系統為核心,以X系列和CompactDAQ數據采集革新技術為切入點,深度剖析NI公司數據采集產品從入門到高級的具體行業應用。 X系列數采卡憑借高處理能力的PCI Express總線、NI-STC3定時和同步技術、多核獲得優化的驅動與應用軟件,將性能提升至新高度;CompactDAQ將用于USB的NI信號流技術與真正的即插即用軟件體驗相結合,在精小便攜、簡單易用、低價位的系統中實現快速精確的測量應用。在本次研討會中,我們將就如何利用這些模塊,快速建立一個便捷、易用、安全、可靠、穩定而精確的測試測量系統,與各位參會工程師進行深入探討,并分享我們歷年來在多領域的成功案例。 2009年,DAQ事業部全國巡回研討會在全國9大城市成功舉辦,有近千名測試測量工程師和國家重點工程項目負責人參與其中。今年,研討會將途經無錫、北京、廈門、上海、蘇州、天津、杭州、常州、西安、合肥等地,輻射全國,貫穿全年,其覆蓋面之廣、影響之深遠,是關注數據采集服務的各類人群不可忽略的交流平臺。
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