納米軟件分享：如何測(cè)試電源的輸入低壓點(diǎn)循環(huán)？

namisoft

　　輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試
　　電源輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試是檢測(cè)電源在低壓條件下的性能和穩(wěn)定性，它是一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差測(cè)試。當(dāng)輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷時(shí)，帶載時(shí)欠壓;斷后由于電源內(nèi)阻原因，負(fù)載卸掉后電壓將上升，可能導(dǎo)致一次電源模塊在低壓時(shí)反復(fù)開發(fā)。通過(guò)輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試來(lái)確保電源在輸入電壓較低時(shí)能夠正常穩(wěn)定運(yùn)行。

　　測(cè)量電源輸入低壓點(diǎn)循環(huán)
　　1. 負(fù)載設(shè)置最大，讓電源模塊帶滿載運(yùn)行;
　　2. 輸入電壓從輸入欠壓點(diǎn)-3v到輸入欠壓點(diǎn)+3v緩慢變化，時(shí)間設(shè)置為5~8分鐘;
　　3. 反復(fù)循環(huán)運(yùn)行，連續(xù)運(yùn)行至少0.5小時(shí)。
　　連續(xù)測(cè)試至少0.5小時(shí)后，如果電源模塊能夠正常工作，性能沒(méi)有明顯變化，說(shuō)明電源模塊在低壓條件下的性能和穩(wěn)定性良好，電源模塊合格。否則不合格。

　　電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量輸入低壓點(diǎn)循環(huán)的優(yōu)勢(shì)
　　電源測(cè)試系統(tǒng)是專業(yè)的針對(duì)各類電源模塊測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)軟件，根據(jù)客戶需求提供測(cè)試方案，從軟件開發(fā)到硬件儀器的選型，再到整體服務(wù)，旨在滿足客戶需求，解決測(cè)試難點(diǎn)。用該系統(tǒng)測(cè)量輸入低壓點(diǎn)循環(huán)，有以下優(yōu)勢(shì)：
　　1. 儀器靈活
　　系統(tǒng)進(jìn)行了二次封裝，自定義設(shè)備指令名稱。用戶可以任意更換測(cè)試設(shè)備，完成測(cè)試;也可以不用捆綁固定儀器，充分利用測(cè)試設(shè)備。
　　2. 流程靈活
　　系統(tǒng)采取無(wú)編程方式，不用學(xué)習(xí)編程就可以完成測(cè)試。也可以節(jié)約成本，不用購(gòu)買和維護(hù)多套ATE測(cè)試系統(tǒng)軟件，留存固定資產(chǎn);可以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)開發(fā)、測(cè)試及產(chǎn)線數(shù)據(jù)方案統(tǒng)一管理。
　　3. 報(bào)告靈活
　　系統(tǒng)會(huì)將測(cè)試指標(biāo)編碼化，用戶可以自定義報(bào)告模板，選擇需要的數(shù)據(jù)以word格式導(dǎo)出，可以自由修改。
　　4. 分析靈活
　　數(shù)據(jù)洞察功能可以對(duì)接MES上傳數(shù)據(jù)，自動(dòng)及時(shí)地分析測(cè)試指標(biāo)，快速查找定位問(wèn)題，為產(chǎn)品地優(yōu)化和提升提供數(shù)據(jù)支撐。
　　5. 批量測(cè)試和同步測(cè)試
　　如果測(cè)試產(chǎn)品較多，可以用電源測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)批量測(cè)試和同步測(cè)試，提高測(cè)試效率。

　　電源輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試是電源測(cè)試的重要內(nèi)容，主要測(cè)試電源模塊在輸入電壓較低時(shí)的表現(xiàn)以及輸入欠壓點(diǎn)回差，保證電源在低壓環(huán)境下可以正常工作。若要了解更多電源測(cè)試系統(tǒng)的信息，可訪問(wèn)：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1136.html