電源芯片測(cè)試方法分享：電壓調(diào)整率的測(cè)試條件、測(cè)試步驟

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　　電源芯片電壓調(diào)整率的測(cè)試條件及步驟

　　測(cè)試環(huán)境：
　　溫度：25±2℃
　　濕度：60%~70%
　　大氣壓強(qiáng)：86kPa~106kPa
　　測(cè)試工具：可調(diào)電源、可調(diào)電子負(fù)載、萬(wàn)用表

　　測(cè)試步驟：
　　1. 設(shè)置電子負(fù)載，使電源滿載輸出;
　　2. 調(diào)節(jié)電源芯片輸入端可調(diào)電源的電壓，使輸入電壓為下限值，記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U1;
　　3. 增大輸入電壓到額定值，記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U0;
　　4. 調(diào)節(jié)輸入電壓為上限值，記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U2;
　　5. 電壓調(diào)整率={(U- U0)/U0}×100%，其中U為U1 和U2中相對(duì)U0變化較大的值。

　　電源芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試優(yōu)勢(shì)

　　ATECLOUD電源芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)助力客戶解放人力，實(shí)現(xiàn)高效、快速的自動(dòng)化測(cè)試。系統(tǒng)采取B/S架構(gòu)，支持互聯(lián)網(wǎng)和局域網(wǎng)，實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試。電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在：
　　1. 靈活使用儀器
　　系統(tǒng)對(duì)測(cè)試儀器進(jìn)行二次封裝，兼容2000+測(cè)試儀器型號(hào)文字指令，自定義設(shè)備指令名稱。用戶可以任意更換設(shè)備完成測(cè)試，而且可以充分利用測(cè)試設(shè)備，自動(dòng)化測(cè)試不用捆綁固定儀器。
　　2. 靈活的操作流程
　　系統(tǒng)采取無(wú)代碼編程模式，技術(shù)人員不用學(xué)習(xí)編程也可以完成測(cè)試，程序開(kāi)發(fā)和維護(hù)不用集中在一個(gè)人身上，用戶也可以自己開(kāi)發(fā)、測(cè)試，統(tǒng)一管理測(cè)試方案和數(shù)據(jù)。同時(shí)，用戶也可以不用買多套ATE、維護(hù)多套ATE，降低成本。
　　3. 靈活的數(shù)據(jù)報(bào)告
　　系統(tǒng)會(huì)將測(cè)試指標(biāo)編碼化，支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出，用戶也可以自定義更改報(bào)告模板。
　　4. 數(shù)據(jù)分析具有靈活性
　　系統(tǒng)內(nèi)含數(shù)據(jù)洞察功能，可以對(duì)接MES上傳數(shù)據(jù)，會(huì)及時(shí)、準(zhǔn)確、多維度對(duì)測(cè)試指標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)分析，快速分析數(shù)據(jù)，查找問(wèn)題。

　　總而言之，用電源芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電壓調(diào)整率，提高了測(cè)試效率，確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。