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電壓上升時(shí)間是電源模塊一個(gè)非常重要的參數(shù),它直接影響著電路的穩(wěn)定性。電源模塊電壓上升過快或過慢都有可能會(huì)使系統(tǒng)發(fā)生故障,造成設(shè)備器件受損。因此,上升時(shí)間測(cè)試是電源模塊測(cè)試非常重要的環(huán)節(jié)。納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)助力自動(dòng)化測(cè)試,確保上升時(shí)間測(cè)試的準(zhǔn)確性。
如何測(cè)試電源電壓上升時(shí)間?
測(cè)試目的:檢測(cè)S.M.P.S. POWER ON時(shí),各組輸出從 10% ~ 90% POINT的上升時(shí)間,通常來說時(shí)間應(yīng)該 ≤20mS。
測(cè)試設(shè)備:交流電源、電子負(fù)載、示波器
測(cè)試條件:
電源模塊上升時(shí)間測(cè)試條件.png
電源電壓上升時(shí)間測(cè)試條件
測(cè)試方法:
1.依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE,F(xiàn)REQUENCY、LOAD
2.SCOPE 的 CH1 接 Vo,并設(shè)為 TRIGGER SOURCE,LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% ~ 80% 較為妥當(dāng),TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 "+",TIME/DIV和VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定
3.用CURSOR中"TIME"測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓10%上升到90%的時(shí)間
測(cè)試前要注意先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài),待BUCK Cap.電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試。
電源上升時(shí)間測(cè)試.png
上升時(shí)間測(cè)試
上升時(shí)間通常用來描述電源的響應(yīng)速度,是設(shè)計(jì)電路和解決問題的重要參數(shù)。納米軟件助力儀器測(cè)試行業(yè),其ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)電源模塊各類指標(biāo)測(cè)試提供解決方案,更加方便、快速、準(zhǔn)確測(cè)試。該系統(tǒng)無需手動(dòng)編寫代碼,只用選擇對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令即可快速搭建測(cè)試流程,進(jìn)行測(cè)試。而且該系統(tǒng)支持設(shè)置響應(yīng)的參數(shù),可以精準(zhǔn)測(cè)試,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。更多詳情可了解:https://www.namisoft.com/Softwarecenter/228.html
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