IC芯片自動化測試：如何測試芯片過壓保護和過流保護？

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　　在電測行業中大家肯定都聽說過過壓保護和過流保護的概念，它具體是指被保護的產品或電路在電壓/電流超過正常運行的最大值時，使輸入斷開或內部電壓/電流降低的一種保護方式。
　　過壓保護和過流保護是為了防止電路中電壓/電流過大從而損壞產品，所以一般的電子器件的內部都會有保護電路，保障器件在電壓/電流過大時可以自動斷開輸出，因此過壓/過流保護電壓值和電流值也是電子測試中不可或缺的一項指標。
　　對于電源芯片來說，它的過流保護和過壓保護參數的測試也是芯片出廠時的必要檢測指標之一。對于電源芯片的過流保護和過壓保護測試來說，手動測試需要一臺多通道電源、數字萬用表以及電子負載三種硬件儀器即可完成，具體步驟如下：
　　1. 將芯片的VIN端和EN端分別與電源的兩個通道的正級相連，負極接地
　　2. 在芯片的VOUT端連接數字萬用表的正級，負極接地
　　3. 將電子負載接入芯片的VOUT端口
　　4. 硬件連接完成之后，設置數字萬用表為測電壓模式，量程選擇自動;給電源的兩個通道分別設置工作電壓與電流值，打開電源通道，保證芯片正常啟動
　　5. 芯片正常啟動后，緩慢調整電源的輸入電壓，保證VIN端的電壓緩慢上升，同時注意讀取VOUT端數字萬用表的讀數
　　6. 增加VIN端的電壓直至VOUT端萬用表的電壓讀數跳變為遠小于額定輸出電壓的電壓值
　　7. 讀取VIN端此時的電壓值，此電壓即為該芯片的過壓保護的最大電壓。
　　8. 關閉電源輸出，改變萬用表正極接線，將萬用表正級接入芯片的FB端口
　　9. 負載設為CC模式，拉載芯片的額定工作電流，打開負載
　　10. 電源的兩個通道分別設置為芯片的額定工作電壓與電流，打開電源
　　11. 將負載拉載的電流緩慢增加，直至萬用表讀取的電壓值躍變為遠小于額定輸出電壓的電壓值
　　12. 讀取電子負載拉載的電流值，此電流值即為該芯片的過流保護的最大電流。
　　雖然看起來手動測試的步驟不多，但是真正操作起來的話整個測試過程至少需要10-15分鐘，因為涉及到電源電壓和負載電流緩慢增加這一步驟，所以在實操中需要手動緩慢調整參數，直至達到要求，這個步驟會耗費大量的時間，所以手動測試這兩個項目，需要大量的人手和時間，整體測試效率較為低下。
　　那么使用芯片測試系統對電源芯片的過壓保護和過流保護又需要那些步驟呢?系統測試電源芯片時會比手動測試時多出一個硬件儀器，即納米BOX，也叫邊緣計算設備，我們的軟件運行和數據計算都會在這個設備中進行，具體的測試步驟如下：
　　1. 同樣我們先需要將儀器和芯片的接線連接好
　　2. 將使用到的硬件儀器通過USB/LAN/RS232等方式連接到BOX上，之后通過網線和計算機連接
　　3. 在計算機上打開瀏覽器，進入ATECLOUD的網站并登陸
　　4. 在ATECLOUD平臺上根據手動操作的步驟搭建一套測試過壓/過流保護的方案
　　5. 直接點擊運行方案，等待測試完成后，在記錄報告中查看測試的數據并導出測試報告。
　　6. 在數據洞察界面查看所有測試數據的分析報告，圖形展示等
　　系統自動測試的過程相比于手動測試要簡單許多，軟件會自動將對電源的VIN端電壓和負載VOUT端的電流進行遞增，參數改變和配置以及儀器的操作也是由軟件自動完成，因此使用ATECLOUD-IC芯片測試系統進行測試只需要1-2分鐘即可完成，整個測試時間相比手動測試要塊5-10倍有余。
　　而且電源芯片測試系統中的報告導出功能，可以直接導出數據報告，無需人工記錄數據，使得測試數據更精確，免去人工誤差干擾。數據洞察功能可以將所有的測試數據統一處理分析，并在大數據看板上集中展示，可以從芯片的質量分析、人員功效、芯片合格率、指標參數曲線等多個維度進行對比分析，為企業管理者的決策提供一線的真實數據支持。具體可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html