IC芯片自動化測試：如何測試芯片過壓保護和過流保護？

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　　在電測行業(yè)中大家肯定都聽說過過壓保護和過流保護的概念，它具體是指被保護的產(chǎn)品或電路在電壓/電流超過正常運行的最大值時，使輸入斷開或內(nèi)部電壓/電流降低的一種保護方式。
　　過壓保護和過流保護是為了防止電路中電壓/電流過大從而損壞產(chǎn)品，所以一般的電子器件的內(nèi)部都會有保護電路，保障器件在電壓/電流過大時可以自動斷開輸出，因此過壓/過流保護電壓值和電流值也是電子測試中不可或缺的一項指標(biāo)。
　　對于電源芯片來說，它的過流保護和過壓保護參數(shù)的測試也是芯片出廠時的必要檢測指標(biāo)之一。對于電源芯片的過流保護和過壓保護測試來說，手動測試需要一臺多通道電源、數(shù)字萬用表以及電子負載三種硬件儀器即可完成，具體步驟如下：
　　1. 將芯片的VIN端和EN端分別與電源的兩個通道的正級相連，負極接地
　　2. 在芯片的VOUT端連接數(shù)字萬用表的正級，負極接地
　　3. 將電子負載接入芯片的VOUT端口
　　4. 硬件連接完成之后，設(shè)置數(shù)字萬用表為測電壓模式，量程選擇自動;給電源的兩個通道分別設(shè)置工作電壓與電流值，打開電源通道，保證芯片正常啟動
　　5. 芯片正常啟動后，緩慢調(diào)整電源的輸入電壓，保證VIN端的電壓緩慢上升，同時注意讀取VOUT端數(shù)字萬用表的讀數(shù)
　　6. 增加VIN端的電壓直至VOUT端萬用表的電壓讀數(shù)跳變?yōu)檫h小于額定輸出電壓的電壓值
　　7. 讀取VIN端此時的電壓值，此電壓即為該芯片的過壓保護的最大電壓。
　　8. 關(guān)閉電源輸出，改變?nèi)f用表正極接線，將萬用表正級接入芯片的FB端口
　　9. 負載設(shè)為CC模式，拉載芯片的額定工作電流，打開負載
　　10. 電源的兩個通道分別設(shè)置為芯片的額定工作電壓與電流，打開電源
　　11. 將負載拉載的電流緩慢增加，直至萬用表讀取的電壓值躍變?yōu)檫h小于額定輸出電壓的電壓值
　　12. 讀取電子負載拉載的電流值，此電流值即為該芯片的過流保護的最大電流。
　　雖然看起來手動測試的步驟不多，但是真正操作起來的話整個測試過程至少需要10-15分鐘，因為涉及到電源電壓和負載電流緩慢增加這一步驟，所以在實操中需要手動緩慢調(diào)整參數(shù)，直至達到要求，這個步驟會耗費大量的時間，所以手動測試這兩個項目，需要大量的人手和時間，整體測試效率較為低下。
　　那么使用芯片測試系統(tǒng)對電源芯片的過壓保護和過流保護又需要那些步驟呢?系統(tǒng)測試電源芯片時會比手動測試時多出一個硬件儀器，即納米BOX，也叫邊緣計算設(shè)備，我們的軟件運行和數(shù)據(jù)計算都會在這個設(shè)備中進行，具體的測試步驟如下：
　　1. 同樣我們先需要將儀器和芯片的接線連接好
　　2. 將使用到的硬件儀器通過USB/LAN/RS232等方式連接到BOX上，之后通過網(wǎng)線和計算機連接
　　3. 在計算機上打開瀏覽器，進入ATECLOUD的網(wǎng)站并登陸
　　4. 在ATECLOUD平臺上根據(jù)手動操作的步驟搭建一套測試過壓/過流保護的方案
　　5. 直接點擊運行方案，等待測試完成后，在記錄報告中查看測試的數(shù)據(jù)并導(dǎo)出測試報告。
　　6. 在數(shù)據(jù)洞察界面查看所有測試數(shù)據(jù)的分析報告，圖形展示等
　　系統(tǒng)自動測試的過程相比于手動測試要簡單許多，軟件會自動將對電源的VIN端電壓和負載VOUT端的電流進行遞增，參數(shù)改變和配置以及儀器的操作也是由軟件自動完成，因此使用ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)進行測試只需要1-2分鐘即可完成，整個測試時間相比手動測試要塊5-10倍有余。
　　而且電源芯片測試系統(tǒng)中的報告導(dǎo)出功能，可以直接導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告，無需人工記錄數(shù)據(jù)，使得測試數(shù)據(jù)更精確，免去人工誤差干擾。數(shù)據(jù)洞察功能可以將所有的測試數(shù)據(jù)統(tǒng)一處理分析，并在大數(shù)據(jù)看板上集中展示，可以從芯片的質(zhì)量分析、人員功效、芯片合格率、指標(biāo)參數(shù)曲線等多個維度進行對比分析，為企業(yè)管理者的決策提供一線的真實數(shù)據(jù)支持。具體可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html