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東芝進一步擴展Thermoflagger產品線---檢測電子設備溫升的簡單解決方案

發布時間:2023-9-14 19:25    發布者:eechina
東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,進一步擴展Thermoflagger過溫檢測IC產品線---“TCTH0xxxE系列”。該系列可用于具有正溫度系數(PTC)熱敏電阻的簡單電路中,用來檢測電子設備中的溫度升高,六款新產品于今日開始支持批量出貨。



為了使電子設備按規定運行,半導體和其他電子元件必須在設計參數范圍內工作。內部溫度是一個關鍵參數,特別是當它高于設計流程中的假設溫度時,它就可能成為安全性和可靠性方面的一個主要問題,因此需要過溫監測解決方案來檢測任何溫度升高。

當配置在具有PTC熱敏電阻(其電阻值隨溫度變化而變化)的簡單電路中時,Thermoflagger過溫檢測IC不僅可以檢測溫度升高,還可以檢測置于熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻變化,并在溫度過高時輸出FLAG信號。例如,當Thermoflagger檢測到異常發熱情況并向MCU發送FLAG信號時,MCU將關閉設備或改變正在產熱的設備或半導體的運行方式。通過串聯PTC熱敏電阻可同時在多個點進行過溫檢測。

這六款新產品分別是:TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述產品加上已經發布的TCTH021BE和TCTH022BE,進一步擴展了TCTH0xxxE系列產品線,使該產品線增加至8款產品。通過提供對兩種類型的PTCO輸出電流[1]的支持,新產品擴大了PTC熱敏電阻的可選范圍,既可選擇推挽型或開漏型FLAG信號輸出類型[2],也可選擇使用或不使用FLAG信號鎖存功能[3]。擴大產品選擇范圍,可以實現低電流消耗的靈活電路設計。

新產品采用小型,符合行業標準SOT–553封裝(東芝的封裝名稱為:ESV),確保TCTH0xxxE系列支持用戶為成套電子設備輕松配置過溫檢測系統,并助力實現尺寸和功耗的雙重改善。

除了已經發布的參考設計過溫檢測IC Thermoflagger的應用電路(TCTH021BE/開漏型)之外,東芝在其官網上又發布了新版參考設計:過溫檢測IC Thermoflagger應用電路(TCTH021AE/推挽型)。

東芝使用村田制作所(以下簡稱“村田”)提供的PTC熱敏電阻的相關技術信息來實現過溫檢測解決方案。村田建議將Thermoflagger與PTC熱敏電阻結合使用。

村田的推薦IC列表
https://www.murata.com/products/ ... we-f_tss_tes_tmp_xx

村田的PTC熱敏電阻
https://www.murata.com/products/ ... we-f_tss_tes_tmp_xx

未來,東芝將繼續擴展其產品線,推出采用各種封裝、器件特性不斷完善的產品,助力提高設計靈活性并實現碳中和目標。



開漏分配中FLAG信號輸出的操作示例


Thermoflagger TCTH021AE電路板樣品




        應用:
-        移動設備(筆記本電腦等)
-        家用電器
-        工業設備等

        特性:
-        配置簡單,可與PTC[1]熱敏電阻結合使用
-        通過串聯PTC[1]熱敏電阻,可同時在多個點進行過溫監測。
-        低電流消耗:
IDD=1.8μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IDD=11.3μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)
-        小型標準封裝:SOT–553(ESV)
-        擴大了PTC[1]熱敏電阻的選擇范圍,具有兩種類型的PTCO輸出電流:
IPTCO=1.00μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IPTCO=10.0μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)
-        高PTCO輸出電流精度:±8%
-        FLAG信號輸出(PTCGOOD)可選擇推挽型和開漏型
-        可選擇FLAG信號鎖存功能

        主要規格:
(除非另有說明,Tj=25℃)

  
器件型號
  
封裝
工作電壓范圍
電氣特征
FLAG
  
信號
  
輸出
  
(PTCGOOD)
在檢測到
  
異常
  
狀態
  
  
是否提供
  
FLAG
  
信號
  
鎖存
  
功能
庫存
  
查詢與
  
購買
名稱
(尺寸:
  
(mm)
供電
  
電壓
  
VDD
  
(V)
工作
  
溫度
  
Topr
  
(℃)
PTCO
  
輸出
  
電流
  
IPTCO
  
(μA)
檢測
  
電壓
  
VDET
  
(V)
電流
  
消耗
  
IDD
  
(μA)
UVLO
  
電壓
  
VUVLO
  
(V)
典型值
典型值
典型值
典型值
典型值
SOT–553
  
(ESV)
1.6Í1.6、
  
厚度=0.55
1.7至
  
5.5
-40至125
1.00
0.50
1.8
1.5
推挽
  
10.0
11.3
1.00
1.8
開漏
  
10.0
11.3

注:

[1] PTCO輸出電流:由過溫檢測IC提供給PTC熱敏電阻的恒定電流。
[2] 當過溫檢測IC檢測到錯誤時,就會輸出FLAG信號。推挽型由兩個垂直堆疊的MOSFET組成。輸出電流以任一方向流入和流出。開漏型由一個MOSFET組成。輸出電流只向一個方向流動。
[3] FLAG信號鎖存功能在過溫檢測IC檢測到錯誤(即使只有一次)后保持FLAG信號。過溫檢測IC不能自行恢復;需要通過從MCU等將信號輸入到RESET引腳來恢復。
[4] 之前發布的產品


如需了解有關新產品的更多信息,請訪問以下網址:
TCTH011AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH011AE.html

TCTH012AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH012AE.html

TCTH021AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH021AE.html

TCTH022AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH022AE.html

TCTH011BE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH011BE.html

TCTH012BE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH012BE.html


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