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性能指標(biāo)是MCU芯片測試指標(biāo)中的核心，包括處理器的性能、存儲器的容量和讀寫速度以及外設(shè)性能等。芯片測試對自動化測試的要求很高，ATECLOUD-IC不僅解決了傳統(tǒng)測試方法的問題，而且也可以滿足芯片測試的高要求，高效地完成MCU芯片性能指標(biāo)的測試。 MCU芯片測試的痛點 1.手動搭建測試環(huán)境，測試繁瑣 2.手動記錄測試數(shù)據(jù)，記錄數(shù)據(jù)量大，容易出錯 3.復(fù)雜測試業(yè)務(wù)邏輯，無法手動完成測試 4.分散自動化測試，數(shù)據(jù)分散，管理不統(tǒng)一 5.從研發(fā)到中試到生產(chǎn)，數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)分析沒有專業(yè)工具 6.長時間測試，工作量大 
ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng) 1. 兼容各大品牌，內(nèi)含多種測試項目，無代碼編程模式，根據(jù)性能指標(biāo)需要測試的項目及參數(shù)，快速搭建方案，一鍵運行測試。 2. 支持批量測試，大大提升測試效率。 3. 芯片性能指標(biāo)測試的數(shù)據(jù)會自動存儲，無需手動記錄，避免手動記錄數(shù)據(jù)時出錯。 4. 測試過程實時觀測，檢驗產(chǎn)品是否合格。 5. 測試數(shù)據(jù)可以以圖表形式展示，助力對MCU芯片性能指標(biāo)的分析。 6. 可以自定義數(shù)據(jù)報告，支持一鍵生成導(dǎo)出。 7. 已完成的歷史測試以列表形式展現(xiàn)，方便查看以往的測試信息。 ATECLOUD-IC是天宇微納研發(fā)的一款芯片自動化測試系統(tǒng)，在MCU芯片測試過程支持批量測試，極大提高了測試效率，并且會自動管理、匯總采集數(shù)據(jù)，以圖標(biāo)形式展現(xiàn)數(shù)據(jù)，幫助進行智能數(shù)據(jù)分析。 |
