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如何在挑戰性環境中優化BLDC電機驅動器的熱性能

發布時間:2023-5-24 14:52    發布者:eechina
關鍵詞: BLDC , 電機驅動器 , 熱性能
來源:Digi-Key
作者:Jeff Shepard

無刷直流 (BLDC) 電機越來越多地用于熱條件苛刻的環境中,如電動汽車 (EV) 等汽車環境以及如機器人、制造設備等工業應用環境。對于設計者來說,有效的熱管理是確保 BLDC 電機驅動器可靠運行的關鍵考慮因素。為此,他們需要特別注意功率 MOSFET 和柵極驅動 IC 的開關頻率、效率、工作溫度范圍和外形尺寸,同時還需要確保這些器件符合 AEC-Q101、生產件批準程序 (PPAP) 和國際汽車工作組 (IATF)16949:2016(如適用)等規范。

此外,柵極驅動器應與標準晶體管-晶體管邏輯門 (TTL) 和 CMOS 電壓水平兼容,以簡化與微控制器 (MCU) 的接口。此外,柵極驅動器還需能夠保護 MOSFET 不受各種故障的影響,并需要有匹配良好的傳播延遲來實現高效的高頻運行。

為此,設計人者可以將雙 N 溝道增強模式 MOSFET 與高頻柵極驅動器 IC 配對,以構建緊湊、高效的解決方案。

本文首先介紹設計 BLDC 電機驅動器時需要考慮熱管理因素,然后簡要總結 AEC-Q101、PPAP 和 IATF 16949:2016 標準的要求。接下來,以 Diodes, Inc 的高性能 雙 N 溝道增強模式 MOSFET 和相匹配的柵極驅動器 IC 為例進行介紹,這些產品適用于汽車和工業 BLDC 電機驅動系統。本文最后討論 BLDC 驅動電路的 PC 板布局注意事項,包括盡可能減少電磁干擾 (EMI) 和優化熱性能。

BLDC 和換向

BLDC 和有刷電機的關鍵區別在于,BLDC 需要在 MCU 控制下實現換向。這就要求有能力檢測轉子的旋轉位置。位置檢測可通過電流檢測電阻霍爾效應傳感器來完成。將霍爾效應傳感器以 120° 間隔安裝在電機內部,是常見、準確且有效的位置檢測方法。

這種方法包括采用六個功率 MOSFET 組成的橋式配置來驅動一臺三相 BLDC 電機。霍爾效應傳感器產生數字信號,MCU 利用此信號來確定電機位置,然后產生驅動信號,按照所需的順序和速度開關 MOSFET,以控制電機運行(圖 1)?煽匦允鞘褂 BLDC 電機的一個主要好處。


圖 1:在三相 BLDC 電機中,采用三個霍爾效應傳感器提供控制六個功率 MOSFET 開關所需的位置信息。(圖片來源:Diodes, Inc.)

處理傳播延遲問題

MCU 產生的控制信號太弱,不能直接用于驅動功率 MOSFET,所以使用柵極驅動 IC 來放大 MCU 的信號。然而,柵極驅動 IC 的引入也帶來了一定程度的控制信號傳播延遲。此外,半橋柵極驅動器中的兩個通道的響應時間略有不同,導致傳播延遲出現偏移。在最嚴重的情況下,高壓側開關可以在低壓側開關完全斷開之前接通,從而導致兩個開關同時導通。如果發生這種情況,將會出現短路并導致電機驅動器或電機損壞。

我們有幾種方法來已應對傳播延遲問題。其中一種方法涉及到使用快速 MCU,其反應速度足以補償傳播延遲。這種方法有兩個潛在問題,需要更昂貴的 MCU 并且 MCU 在開關過程中會引入死區時間帶,以確保這兩個開關始終不會同時閉合。這種死區時間延遲了整個切換過程。

在大多數應用中,首選替代方案是使用具有短傳播延遲的柵極驅動器。高性能柵極驅動器 IC 還包括防跨導邏輯,可進一步提高系統可靠性(圖 2)。


圖 2:高性能柵極驅動 IC 除了具有最小的傳播延遲外,還包括防跨導邏輯(左中)。(圖片來源:Diodes, Inc.)

保持冷卻

安全和精確地驅動功率 MOSFET 是 BLDC 電機可靠運行的關鍵,保持功率 MOSFET 冷卻同等重要。與功率半導體的熱管理有關的兩個重要規格是結對外殼的熱阻 (RθJC) 和結對環境的熱阻 (RθJA)。這兩個參數以 ℃/W 為單位。RθJC 是特定的器件和封裝的結對外殼熱阻。這是一個固定量,取決于諸如芯片尺寸、芯片連接材料和封裝熱特性等多種因素。

RθJA 是一個更廣泛的概念:包括 RθJC 加上焊點和散熱器的溫度系數。對于功率 MOSFET,RθJA 可能比 RθJC 大 10 倍。保持 MOSFET 的封裝(外殼)溫度 (TC) 受控是一個關鍵考慮因素(圖 3)。這意味著在為功率 MOSFET 開發熱管理解決方案時,電路板布局和散熱器等因素非常重要。幾乎所有在 MOSFET 中產生的熱量都將通過 PC 板上的導熱銅墊/散熱器發散。


圖 3:RθJA 是衡量熱耗散的一個關鍵指標,可能比 RθJC 大 10 倍。(圖片來源:Diodes, Inc.)

汽車標準

為了用于汽車應用,這些器件還必須滿足一個或多個行業標準,具體包括 AEC-Q100、AEC-Q101、PPAP 和 IATF 16949:2016 標準。AEC-Q100 和 AEC-Q101 是用于汽車應用中的半導體器件的可靠性標準。PAPP 是說明文檔和跟蹤標準,而 IATF 16949:2016 是基于 ISO 9001 的質量標準。更具體地說:

AEC-Q100 是一種基于故障機理的壓力測試標準,適用于封裝集成電路,具體包括四個環境工作溫度范圍或等級:

· 0 級:-40℃ 至 +150℃
· 1 級:-40℃ 至 +125℃
· 2 級:-40℃ 至 +105℃
· 3 級:-40℃ 至 +85℃

AEC-Q101 規定了如功率 MOSFET 等分立式器件的最低應力測試驅動要求和條件,并規定工作溫度為 -40°C 至 +125°C。

PPAP 是一個針對新部件或修改部件的 18 步批準程序。該批準程序旨在確保組件始終滿足各項指定要求。PPAP 有五個標準的提交等級,具體要求由供應商和客戶協商確定。

IATF 16949:2016 是一個基于 ISO 9001 的汽車質量體系,以及由汽車行業客戶提出的特定要求。該標準要求由第 3 方審核機構進行認證。

雙功率 MOSFET

為了實現高效的 BLDC 電機驅動,設計者可以使用諸如適合工業應用的 Diodes Inc. DMTH6010LPD-13 等雙 N 溝道增強型場效應晶體管,以及符合 AEC-Q101 的汽車應用的 DMTH6010LPDQ-13 器件。這兩個部件都獲得了 PPAP 支持,并由獲得 IATF 16949 認證的工廠制造。這類 MOSFET 器件具有 2615 pF 低輸入電容 (Ciss),可支持快速開關,并具有 11 mΩ 低導通電阻 (RDS(on)),以實現高轉換效率,使其適合高頻、高效應用。這類器件具有 10 V 柵極驅動,額定工作溫度為 +175°C,采用 5 mm x 6 mm PowerDI5060-8 封裝,具有較大的漏極焊盤以實現高熱耗散(圖 4)。具體熱規格包括:

· 穩態 RθJA 為 53°C/W,安裝在含有 2 盎司銅的 FR-4 電路板上,并有熱過孔通向由 1 英寸方形銅板構成的底層。
· RθJC 為 4°C/W
· 額定溫度為 +175°C


圖 4:DMTH6010LPD-13 和 DMTH6010LPDQ-13 通過其 PowerDI5060-8 封裝的大型漏極焊盤實現高熱耗散。(圖片來源:Diodes, Inc.)

雙 MOSFET 柵極驅動器

為了驅動雙功率 MOSFET,設計者可以使用以下任一種半橋柵極驅動器:適合工業應用的 DGD05473FN-7 或適合汽車系統的 AEC-Q100 認證 DGD05473FNQ-7。這兩款器件獲得了 PPAP 支持,并由獲得 IATF 16949 認證的工廠制造。輸入與 TTL 和 CMOS 電平兼容(低至 3.3 V),以簡化與 MCU 的連接,浮動高壓側驅動器的額定電壓為 50 V。保護功能包括 UVLO 和防跨導邏輯(見圖 2)。集成陰極負載二極管有助于最大限度地減少 PC 板空間。其他特性包括:

· 20 ns 傳播延遲
· 5 ns 最大延遲匹配度
· 1.5 A 拉電流和 2.5 灌電流的最大驅動電流
· 低于 1 µA 的待機電流
· AEC-Q100 1 級工作溫度范圍為 -40°C 至 +125°C

考慮了散熱和 EMI

為了使用上文詳述的 MOSFET 和驅動 IC 的電路板布局,最佳做法是將緊湊型設計與 MOSFET 的最大實際銅面積相結合,以確保最佳散熱。緊湊型設計會最大限度地減少回路面積,而短布線長度會最大限度地減小電磁干擾,并減少電磁兼容性 (EMC) 問題。

為了進一步提高 EMC 和散熱性能,PC 板應包括一個堅實的內部接地平面和一個額外的底部電源平面。此外,還應使用單獨的內層來處理信號線。

MOSFET 的封裝對熱性能有很大影響。觀察 PowerDI5060-8、3 mm x 3 mm PowerDI3333-8 和 2 mm x 2 mm DFN2020-6 這三種封裝選擇,發現具有最大漏極焊盤的 PowerDI5060 具有最高的功率耗散,可達 2.12 W(圖 5)。


圖 5:與兩個較小的封裝相比,PowerDI5060(藍線)的耗散功率更大。(圖片來源:Diodes, Inc.)

結束語

采用高效散熱型封裝的雙功率 MOSFET 可與相匹配的柵極驅動 IC 組合使用,為汽車、工業應用生產緊湊的高性能 BLDC 電機驅動器。這些解決方案可以分別滿足 AEC、PPAP 和 IATF 的可靠性、說明文檔和質量標準要求。利用最佳的 PC 板布局,這些器件有助于設計者在實施 BLDC 電機驅動器時達到最佳的熱性能和 EMC 性能。
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