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1. 測試對象 HD-G2UL-EVM基于HD-G2UL-CORE工業(yè)級核心板設(shè)計，一路千兆網(wǎng)口、一路CAN-bus、 3路TTL UART、LCD、WiFi、CSI 攝像頭接口等，接口豐富，適用于工業(yè)現(xiàn)場應(yīng)用需求，亦方便用戶評估核心板及CPU的性能。 HD-G2UL-CORE系列工業(yè)級核心板基于RZ/G2UL微處理器配備Cortex®-A55 (1 GHz) CPU、16位DDR3L/DDR4接口。此外，這款微處理器還配備有大量接口，如攝像頭輸入、 顯示輸出、USB 2.0 和千兆以太網(wǎng)，因此特別適用于入門級工業(yè)人機(jī)界面(HMI)和具有視頻功能的嵌入式設(shè)備等應(yīng)用。 圖1.1 HD-G2UL-EVM評估板 1. 測試目的 低溫存儲測試的主要目的是測試設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。 低溫存儲測試可以模擬設(shè)備在極端溫度條件下的工作環(huán)境，例如極寒的氣候或高空環(huán)境。測試過程中，設(shè)備將處于非常低的溫度下，可能會導(dǎo)致某些部件或系統(tǒng)出現(xiàn)故障或性能下降。通過測試設(shè)備在這種條件下的性能和可靠性，可以幫助制造商確定是否需要改進(jìn)設(shè)計或使用更可靠的組件。 在低溫存儲測試之后，啟動開發(fā)板的目的是檢查設(shè)備是否能夠正常啟動并運(yùn)行。這可以驗證設(shè)備在低溫條件下的可靠性和穩(wěn)定性，以及設(shè)備在此條件下的操作是否符合預(yù)期。如果設(shè)備無法正常啟動或運(yùn)行，測試結(jié)果將指示可能需要改進(jìn)設(shè)計或使用更可靠的組件。 總之，低溫存儲測試和啟動開發(fā)板的目的是為了驗證設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性，并確定是否需要改進(jìn)設(shè)計或使用更可靠的組件。 2. 測試結(jié)果 表2.1 測試結(jié)果 3. 測試準(zhǔn)備 1.2套HD-G2UL-EVM評估板、網(wǎng)線、Type-C數(shù)據(jù)線，電腦主機(jī)。 2.高低溫試驗箱。 4. 測試環(huán)境 圖4.1 測試環(huán)境 5. 測試過程 5.1-40℃低溫啟動 將環(huán)境溫度設(shè)置-40℃，如圖5.1所示。被測試樣機(jī)低溫存儲2小時，2小時后上電啟動。 圖5.1 高低溫試驗箱 上電后兩套HD-G2UL-EVM評估板啟動正常，未出現(xiàn)系統(tǒng)異常死機(jī)等情況。此時環(huán)境溫度-40℃，兩套評估板CPU溫度分別為-18.5℃和-19.5℃，如圖5.3圖5.3所示。 圖5.2 圖5.3 6. 關(guān)于HD-G2UL-EVM-IOT 6.1硬件參數(shù) HD-G2UL-EVM-IOT板載的外設(shè)功能：
HD-G2UL-EVM-CORE核心板硬件資源參數(shù)： 注：受限于主板的尺寸與接口布局，核心板部分資源在IoT底板上引出。 |
