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作者：Minhaaz Shaik，產(chǎn)品應用工程師 摘要 本文提供一種校準數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性，我們可以通過增益和偏置調(diào)整來盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準，以改善電平設置性能。 簡介 自動化測試設備(ATE)描述用于一次對單個或多個器件執(zhí)行單次或一系列測試的測試儀器。不同類型的ATE測試電子器件、硬件和半導體器件。定時器件、DAC、ADC、多路復用器、繼電器和開關(guān)都是測試儀或ATE系統(tǒng)中的支持模塊。這些引腳電子器件可以利用精確的電壓和電流提供信號和電源。這些精密信號通過電平設置DAC進行配置。在ATE產(chǎn)品系列中，有些引腳電子器件包含校準寄存器，有些校準設置存儲在片外。本文介紹DAC的功能、誤差，以及如何通過增益和偏置調(diào)整進行校準。 下載全文： 
【ADI技術(shù)文章】ATE引腳電子器件的電平設置DAC校準.pdf
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