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作者：ADI應(yīng)用工程師Mary McCarthy和ADI應(yīng)用工程師Wasim Shaikh 溫度是過程控制系統(tǒng)中的一個關(guān)鍵測量指標。人們可以直接測量，例如測量化學(xué)反應(yīng)的溫度，也可以補償測量，例如通過壓力傳感器的溫度補償。對于任何系統(tǒng)設(shè)計，準確、可靠、穩(wěn)健的溫度測量往往都很關(guān)鍵。對于某些終端設(shè)計，檢測系統(tǒng)故障則至關(guān)重要，一旦系統(tǒng)發(fā)生故障，就會轉(zhuǎn)換到安全狀態(tài)。因此在這些環(huán)境中應(yīng)該使用功能安全設(shè)計，通過認證級別來表明設(shè)計的診斷覆蓋率水平。 什么是功能安全 在功能安全設(shè)計中，系統(tǒng)必須考慮將任何故障檢測到。比如一座煉油廠，其中的一個儲罐正在裝油。如果液位傳感器發(fā)生故障，系統(tǒng)必須檢測到此故障，才能主動關(guān)閉儲罐的閥門，防止儲罐溢出，避免潛在的危險爆炸事故。另一種方案是冗余，即設(shè)計中可以使用兩個液位傳感器，當(dāng)其中一個液位傳感器發(fā)生故障時，系統(tǒng)可以繼續(xù)使用另一個液位傳感器運行。 設(shè)計通過認證后，將獲得SIL等級。此等級表示設(shè)計提供的診斷覆蓋率。SIL等級越高，解決方案越穩(wěn)健。SIL 2等級表示可以診斷系統(tǒng)內(nèi)超過90%的故障。為了對設(shè)計進行認證，系統(tǒng)設(shè)計人員必須向認證機構(gòu)提供有關(guān)潛在故障的證據(jù)——無論是安全故障還是危險故障，以及如何診斷故障。必須獲取FIT等數(shù)據(jù)，以及故障模式影響和對系統(tǒng)中不同元器件的診斷分析(FMEDA)。 溫度系統(tǒng)設(shè)計 下面重點來介紹RTD。不過，溫度傳感器有許多不同類型——RTD、熱敏電阻和熱電偶等。設(shè)計中使用的傳感器取決于所需的精度和測量的溫度范圍。每種類型的傳感器都有自己的要求： 熱電偶偏置 激勵RTD的激勵電流 熱電偶和熱敏電阻的絕對基準 因此，除了ADC之外，還需要其他構(gòu)建模塊來激勵傳感器并調(diào)理前端的傳感器。為實現(xiàn)功能安全，所有這些模塊都必須可靠且穩(wěn)健。此外，不同模塊的任何故障都必須可檢測。傳統(tǒng)上，系統(tǒng)設(shè)計人員使用復(fù)制方法，也就是使用兩個信號鏈，信號鏈彼此檢查以確保： 傳感器已連接 沒有開路或短路 基準電壓處于正確的電平 PGA仍在正常運行 為了證明設(shè)計的穩(wěn)健性，認證流程需要文檔記錄。這是一個耗時的過程，有時候很難從IC制造商那里獲得某些信息。 但是，AD7124-4/AD7124-8集成模擬前端現(xiàn)在包括了RTD設(shè)計所需的所有構(gòu)建模塊。此外，嵌入式診斷功能使得設(shè)計人員無需出于診斷目的而復(fù)制信號鏈。除了芯片增強之外，ADI會提供文檔記錄，其中包括認證機構(gòu)所需的所有信息（FIT引腳FMEDA、裸片F(xiàn)MEDA）。因此，功能安全的認證過程得以簡化。 IEC 61508是功能安全設(shè)計方面的規(guī)范。此規(guī)范記錄了開發(fā)SIL認證產(chǎn)品所需的設(shè)計流程。從概念、定義、設(shè)計、布局到制造、裝配、測試的每個步驟都需要生成文檔。這被稱為Route 1S。另一種選擇是使用Route 2S流程。這是一條經(jīng)過實際使用驗證的路線，當(dāng)大批量產(chǎn)品被導(dǎo)入最終客戶的系統(tǒng)中并在現(xiàn)場使用了數(shù)千小時時，仍然可以通過向認證機構(gòu)提供如下證據(jù)來認證產(chǎn)品： 現(xiàn)場使用的數(shù)量 現(xiàn)場退貨的分析，并詳細說明退貨不是由于元器件本身的故障造成的 安全數(shù)據(jù)手冊，詳細說明診斷及其提供的覆蓋率 引腳和裸片F(xiàn)MEDA 3線RTD設(shè)計 RTD RTD適合測量–200°C至+850°C的溫度，在該溫度范圍內(nèi)，其響應(yīng)接近線性。RTD使用的典型元素有鎳、銅和鉑，100Ω和1000Ω鉑制RTD較為常見。RTD有兩線、三線或四線形式，其中3線和4線形式較為常用。RTD是無源傳感器，需要一個激勵電流來產(chǎn)生輸出電壓。RTD的輸出電平從數(shù)十毫伏到數(shù)百毫伏不等，具體取決于所選的RTD。 RTD設(shè)計 圖1顯示了一個3線RTD系統(tǒng)。AD7124-4/AD7124-8是用于RTD測量的集成解決方案，包含系統(tǒng)所需的所有構(gòu)建模塊。為了全面優(yōu)化該系統(tǒng)，需要2個理想匹配的電流源。這兩個電流源用于抵消RL1產(chǎn)生的引線電阻誤差。一個激勵電流流過精密基準電阻RREF和RTD。另一個電流流過引線電阻RL2，所產(chǎn)生的電壓與RL1上的壓降相抵消。精密基準電阻上產(chǎn)生的電壓用作ADC的基準電壓REFIN1(±)。由于僅利用一個激勵電流來產(chǎn)生基準電壓和RTD上的電壓，因此，該電流源的精度、失配和失配漂移對ADC整體轉(zhuǎn)換函數(shù)的影響極小。AD7124-4/AD7124-8允許用戶選擇激勵電流值，從而調(diào)整系統(tǒng)以使用ADC的大部分輸入范圍，提高性能。 
圖1.3線RTD溫度系統(tǒng) RTD的低電平輸出電壓需要放大，以便利用ADC的大部分輸入范圍。AD7124-4/AD7124-8的PGA可以設(shè)置1到128的增益，允許用戶在激勵電流值和增益與性能之間進行取舍。出于抗混疊和EMC目的，傳感器與ADC之間需要濾波。基準電壓緩沖器支持無限的濾波器R、C元件值，也就是說，這些元件不會影響測量精度。 系統(tǒng)還需要校準以消除增益和失調(diào)誤差。圖1顯示了此3線B級RTD在執(zhí)行內(nèi)部零電平和滿量程校準后的實測溫度誤差，總誤差遠小于±1°C。 ADC要求 溫度測量系統(tǒng)以低速測量為主（最高速度通常是每秒100次采樣），因而需要低帶寬ADC。但是，該ADC必須具有高分辨率。Σ-Δ型ADC適合此類應(yīng)用，因為利用Σ-Δ結(jié)構(gòu)能夠開發(fā)出低帶寬、高分辨率ADC。 采用Σ-Δ型轉(zhuǎn)換器時，對模擬輸入連續(xù)采樣，采樣頻率比目標頻段高很多。它還使用噪聲整形，將噪聲推到目標頻段之外，進入轉(zhuǎn)換過程未使用的區(qū)域，從而進一步降低目標頻段內(nèi)的噪聲。數(shù)字濾波器會衰減任何處在目標頻段之外的信號。 數(shù)字濾波器在采樣頻率和采樣頻率的倍數(shù)處有鏡像，因此，需要一些外部抗混疊濾波器。然而，由于過采樣，簡單的一階RC濾波器即足以滿足大部分應(yīng)用的要求。Σ-Δ架構(gòu)允許24位ADC實現(xiàn)最高達21.7位的峰峰值分辨率（21.7個穩(wěn)定或無閃爍位）。Σ-Δ架構(gòu)的其他優(yōu)勢有： 寬共模范圍的模擬輸入 寬范圍的基準輸入 能夠支持比率式配置 濾波（50Hz/60Hz抑制） 除了如上所述的抑制噪聲以外，數(shù)字濾波器還用于提供50Hz/60Hz抑制。系統(tǒng)采用主電源供電時，會發(fā)生50Hz或60Hz干擾。交流電源會產(chǎn)生50Hz及其倍數(shù)（歐洲）和60Hz及其倍數(shù)（美國）的噪聲。低帶寬ADC主要使用sinc濾波器，可將其陷波頻率設(shè)置在50Hz和/或60Hz及其倍數(shù)處，從而提供50Hz/60Hz及其倍數(shù)的抑制。現(xiàn)在越來越多地要求利用建立時間較短的濾波方法提供50Hz/60Hz抑制。在多通道系統(tǒng)中，ADC順次處理所有使能的通道，在每個通道上產(chǎn)生轉(zhuǎn)換結(jié)果。選擇一個通道后，便需要濾波器建立時間以產(chǎn)生有效轉(zhuǎn)換結(jié)果。若縮短建立時間，則可提高給定時間內(nèi)轉(zhuǎn)換的通道數(shù)。AD7124-4/AD7124-8的后置濾波器或FIR濾波器可提供50Hz/60Hz同時抑制，并且其建立時間比sinc3或sinc4濾波器要短。圖3顯示了一個數(shù)字濾波器選項：此后置濾波器的建立時間為41.53ms，并且提供62dB的50Hz/60Hz同時抑制。
圖2.頻率響應(yīng)，后置濾波器，25SPS：(a) DC至600Hz，(b) 40Hz至70Hz。
圖3.各通道獨立配置 診斷 對于功能安全設(shè)計，構(gòu)成RTD系統(tǒng)的所有功能都需要診斷。AD7124-4/AD7124-8具有多個嵌入式診斷功能，因此設(shè)計復(fù)雜性得以簡化，設(shè)計時間得以縮短。另外還無需復(fù)制信號鏈以實現(xiàn)診斷覆蓋。 典型診斷要求如下： 電源/基準電壓/模擬輸入監(jiān)控 開路檢測 轉(zhuǎn)換/校準檢查 信號鏈功能檢查 讀/寫監(jiān)控 寄存器內(nèi)容監(jiān)控 下面詳細說明嵌入式診斷。 SPI診斷 AD7124-4/AD7124-8提供CRC。使能后，所有讀操作和寫操作都包括CRC計算。校驗和為8位寬，使用如下多項式生成：
因此，對于AD7124-4/AD7124-8的每次寫操作，處理器都會生成一個CRC值，該值會附加到發(fā)送至ADC的信息中。ADC根據(jù)接收到的信息生成自己的CRC值，并將其與從處理器接收到的CRC值進行比較。如果兩個值一致，則可確定信息完好無損，從而將其寫入相關(guān)的片內(nèi)寄存器。如果CRC值不一致，則表明傳輸過程中發(fā)生了位損壞。在這種情況下，AD7124-4/AD7124-8會設(shè)置一個錯誤標志，指示發(fā)生了數(shù)據(jù)損壞。損壞的信息不會被寫入寄存器，從而實現(xiàn)自我保護。同樣，當(dāng)從AD7124-4/AD7124-8讀取信息時，也會生成一個CRC值并伴隨該信息。處理器將處理此CRC值，以確定傳輸有效還是發(fā)生了損壞。 AD7124-4/AD7124-8數(shù)據(jù)手冊列出了客戶可以訪問的寄存器（用戶寄存器）。AD7124-4/AD7124-8會檢查所訪問寄存器的地址。如果用戶嘗試讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)手冊中未記載的寄存器，就會設(shè)置一個錯誤標志，表示處理器正在嘗試訪問非用戶寄存器。同樣，伴隨此寄存器訪問的任何信息都不會應(yīng)用于寄存器。 AD7124-4/AD7124-8還有一個SCLK計數(shù)器。所有讀寫操作都是8的倍數(shù)。當(dāng)ˉ("CS" )用于使能幀讀寫操作時，SCLK計數(shù)器計數(shù)每個讀/寫操作中使用的SCLK脈沖數(shù)，與此同時ˉ("CS" )為低電平。當(dāng)ˉ("CS" )變?yōu)楦唠娖綍r，通信中使用的SCLK數(shù)量應(yīng)為8的倍數(shù)。如果SCLK上出現(xiàn)毛刺，這將導(dǎo)致SCLK脈沖過量。如果發(fā)生這種情況，AD7124-4/AD7124-8會再次設(shè)置錯誤標志，并放棄輸入的任何信息。 狀態(tài)寄存器指示正在轉(zhuǎn)換的通道。讀取數(shù)據(jù)寄存器時，可以將狀態(tài)位附加到轉(zhuǎn)換結(jié)果中。這會進一步增強處理器/ADC通信的穩(wěn)健性。 上面提到的所有診斷功能都是為了確保ADC與處理器之間的通信穩(wěn)健，只有有效信息才被AD7124-4/AD7124-8接受。當(dāng)ˉ("CS" )用于使能幀讀寫操作時，每次拉高ˉ("CS" )時，串行接口便復(fù)位。這確保了所有通信都從已定義的或已知的狀態(tài)開始。 存儲器檢查 每次更改片內(nèi)寄存器（例如更改增益）時，都會對寄存器執(zhí)行CRC，并將生成的CRC值臨時存儲在內(nèi)部。AD7124-4/AD7124-8內(nèi)部定期對寄存器執(zhí)行額外的CRC檢查。得到的CRC值與存儲的值進行比較。如果值由于位翻轉(zhuǎn)而不同，就會設(shè)置一個標志，以向處理器表明寄存器設(shè)置已損壞。處理器隨后可以復(fù)位ADC，并重新加載寄存器。 片內(nèi)ROM保存寄存器的默認值。上電時或復(fù)位后，ROM內(nèi)容將應(yīng)用于用戶寄存器。在最終的生產(chǎn)測試中會計算ROM內(nèi)容的CRC，并將得到的CRC值存儲在ROM中。在上電或復(fù)位時會再次對ROM內(nèi)容執(zhí)行CRC，并將得到的CRC值與保存的值進行比較。如果二者不同，則表明默認寄存器設(shè)置與預(yù)期不同，因而需要重啟或復(fù)位。 信號鏈檢查 器件包括許多信號鏈檢查。電源軌（AVDD、AVSS和IOVDD）可應(yīng)用于ADC輸入，從而可以監(jiān)視電源軌。AD7124-4/AD7124-8內(nèi)置一個模擬和一個數(shù)字低壓差(LDO)穩(wěn)壓器。這些也可以應(yīng)用于ADC并進行監(jiān)視。AD7124-4/AD7124-8包括x路復(fù)用。此外，AVSS可在內(nèi)部用作AIN–，這樣就可以檢查模擬輸入引腳上的絕對電壓。客戶可以探測輸出激勵電流的引腳，并探測AIN+和AIN-引腳。這將檢查連接，并確保各個引腳上的電壓處于正確的電平。 對于基準電壓檢查，基準電壓檢測功能會指示基準電壓過低的情況。客戶還可以選擇內(nèi)部基準電壓作為模擬輸入，這樣就可以用來監(jiān)視外部基準電阻上產(chǎn)生的電壓，前提條件是基準電阻兩端的電壓略高于2.5V（內(nèi)部基準電壓的幅度）。 AD7124-4/AD7124-8還有一個內(nèi)部20mV電壓，這對于檢查增益級很有用。例如，使用20mV作為模擬輸入，增益可以從1變?yōu)?、4、... 128。每次提高增益時，轉(zhuǎn)換結(jié)果放大2倍，從而證實增益級工作正常。 檢查鎖定位時，X路復(fù)用也很有用。它允許交換AIN+和AIN–引腳，導(dǎo)致轉(zhuǎn)換結(jié)果反轉(zhuǎn)。因此，使用20mV和x路復(fù)用時，用戶可以檢查鎖定位。 為AIN+和AIN–選擇相同的模擬輸入引腳并偏置此內(nèi)部短路，以便檢查ADC噪聲，確保其在規(guī)定范圍內(nèi)工作。內(nèi)部可以選擇嵌入式基準電壓(+2.5V)作為ADC的輸入。同樣，應(yīng)用+VREF和–VREF可確認信號鏈正常工作。 可編程的開路測試電流可用來檢查傳感器連接。PT100在-200°C時電阻典型值為18Ω，在+850°C時為390.4Ω。使能開路測試電流后，可以執(zhí)行轉(zhuǎn)換。如果RTD短路，獲得的轉(zhuǎn)換結(jié)果將接近0。AIN+和AIN–之間開路會導(dǎo)致轉(zhuǎn)換結(jié)果接近0xFFFFFF。在RTD正確連接的情況下，永遠不會獲得接近0或全1的代碼。 最后，AD7124-4/AD7124-8具有過壓和欠壓檢測功能。正在轉(zhuǎn)換的AIN+和AIN-引腳上的絕對電壓通過比較器持續(xù)監(jiān)控。當(dāng)AIN+或AIN–上的電壓超出電源軌（AVDD和AVSS）時，就會設(shè)置標志。 這種高集成度減少了執(zhí)行測量和提供診斷覆蓋所需的物料(BOM)，并縮短了設(shè)計時間，降低了設(shè)計復(fù)雜性。 轉(zhuǎn)換/校準 AD7124-4/AD7124-8上的轉(zhuǎn)換也受到監(jiān)控。如果(AIN+ – AIN–)/增益大于正滿量程或小于負滿量程，就會設(shè)置一個標志。ADC的轉(zhuǎn)換結(jié)果變?yōu)槿?（模擬輸入過高）或全0（模擬輸入過低），因此客戶知道發(fā)生了故障。 對來自調(diào)制器的比特流進行監(jiān)控，以確保調(diào)制器不會飽和。如果發(fā)生飽和（調(diào)制器連續(xù)輸出20個1或20個0），則設(shè)置一個標志。 AD7124-4/AD7124-8包括內(nèi)部偏移和校準以及系統(tǒng)偏移和增益校準。如果校準失敗，就會設(shè)置一個標志以告知用戶。請注意，如果校準失敗，偏移和增益寄存器不會更新。 電源 除了前面討論的電源檢查外，AD7124-4/AD7124-8還有用于持續(xù)監(jiān)控內(nèi)部LDO穩(wěn)壓器的比較器。因此，如果這些LDO穩(wěn)壓器的電壓低于跳變點，就會立即報告錯誤。 這些LDO穩(wěn)壓器需要一個外部電容。也可以檢查該電容存在與否。 MCLK計數(shù)器 濾波器曲線和輸出數(shù)據(jù)速率與MCLK直接相關(guān)。當(dāng)主時鐘為614.4kHz時，數(shù)據(jù)手冊中列出的輸出數(shù)據(jù)速率是正確的。如果主時鐘改變頻率，輸出數(shù)據(jù)速率和濾波器陷波頻率也會改變。例如，若使用濾波器陷波頻率來抑制50Hz或60Hz，則變化的時鐘會減少所獲得的衰減。因此，了解時鐘頻率對于確保獲得最佳抑制很有價值。AD7124-4/AD7124-8包含一個MCLK計數(shù)器寄存器。每計數(shù)131個MCLK周期，該寄存器便加1。為了測量MCLK頻率，處理器需要一個定時器。可以在時間0讀取該寄存器，然后在定時器超時后再次讀取。有了這些信息，便可確定主時鐘的頻率。 各通道獨立配置 AD7124-4/AD7124-8允許按通道進行配置，也就是說，器件支持八種不同的設(shè)置，一個設(shè)置由基準電壓源、增益設(shè)置、輸出數(shù)據(jù)速率和濾波器類型組成。當(dāng)用戶配置一個通道時，可將八種設(shè)置中的一種分配給該通道。請注意，通道可以是模擬輸入通道，也可以是診斷通道，例如測量電源(AVDD-AVSS)。因此，客戶可以設(shè)計一個由模擬輸入和診斷組成的序列。各通道獨立配置允許以與模擬輸入轉(zhuǎn)換不同的輸出數(shù)據(jù)速率運行診斷。診斷不需要與主要測量相同的精度，因此客戶可以將診斷與測量交錯，并以較高輸出數(shù)據(jù)速率運行診斷。這些嵌入式特性可減少處理器的工作量。
圖4.將設(shè)置分配給通道 其他功能 AD7124-4/AD7124-8包含一個溫度傳感器，該傳感器也可用于監(jiān)控芯片溫度。這兩款器件的ESD額定值均為4kV，支持實現(xiàn)穩(wěn)健的解決方案。這些器件采用5×5mm LFCSP封裝，適合本質(zhì)安全設(shè)計。 根據(jù)IEC 61508，使用這些器件的典型溫度應(yīng)用的FMEDA表明安全失效比率(SFF)大于90%。一般需要兩個傳統(tǒng)ADC才能達到這一水平。 內(nèi)置診斷的其他好處 除了BOM和成本節(jié)省之外，診斷還能從其他方面節(jié)省成本：避免設(shè)計復(fù)雜性，減少資源使用，以及加快客戶產(chǎn)品上市時間。參考如下案例來理解： AD7124-4/AD7124-8有一個MCLK計數(shù)器，用于測量主時鐘頻率并捕捉所提供的主時鐘的任何不一致。主時鐘計數(shù)器是一個8位寄存器，每131個MCLK周期遞增一次。該寄存器由SPI主機讀取，以確定內(nèi)部/外部614.4 kHz時鐘的頻率。 如果必須在AD7124-4/AD7124-8外部實施MCLK頻率檢查該怎么辦？這將需要下列硬件資源： 帶外設(shè)（如計數(shù)器和外部中斷控制器）的微控制器 施密特觸發(fā)電路 另外請注意，存儲和運行代碼（包括中斷服務(wù)例程）需要存儲器。總之，實施方案將如圖5所示。
圖5.由微控制器實現(xiàn)的MCLK頻率監(jiān)視器 此外，必須確保代碼經(jīng)過檢查并符合編碼準則和限制。總之，實施單獨的診斷部分會產(chǎn)生很大的開銷。因此，內(nèi)置診斷有諸多好處： 節(jié)省空間和BOM 提高系統(tǒng)可靠性；更少元器件=更高的可靠性 加速產(chǎn)品上市 軟件開發(fā)——開發(fā)和運行診斷程序 硬件測試 系統(tǒng)測試 節(jié)省微控制器存儲器 不需要代碼來運行診斷 編碼準則要求進行大量雙重存儲器代碼檢查 即用型安全文檔節(jié)省系統(tǒng)評估時間 助力功能安全設(shè)計 AD7124-4/AD7124-8不是按照IEC 61508標準中的開發(fā)指南進行設(shè)計和開發(fā)的，因此無SIL等級。但是，通過了解各種診斷的最終應(yīng)用和使用情況，可以評估AD7124-4/AD7124-8是否適用于SIL等級設(shè)計。 功能安全術(shù)語 回顧一下認證過程中的一些重要概念： 故障：系統(tǒng)性和隨機性 診斷覆蓋率 硬件容錯 SIL等級 故障：系統(tǒng)性和隨機性 系統(tǒng)性故障是由特定原因引起的確定性（非隨機）故障，可通過修改設(shè)計或制造過程、操作程序、文檔或其他相關(guān)因素來消除。例如，由于外部中斷引腳上缺乏濾波，系統(tǒng)會因為高噪聲而發(fā)生中斷。 隨機故障則是由作用于系統(tǒng)內(nèi)硬件組件的物理原因引起的。此類故障是由腐蝕、熱應(yīng)力、磨損等效應(yīng)引發(fā)的，無法通過系統(tǒng)化流程來發(fā)現(xiàn)此類故障。 為了處理隨機故障，可以使用可靠性、診斷和冗余等方法。 在可靠性方面，確保使用可靠的元器件，而通過診斷，確保可以檢測和排解這些故障。確保可靠性的另一種方法是增加冗余以降低故障概率，但這樣做會增加系統(tǒng)成本和空間。 隨機故障有四種類型，即安全檢測型、安全未檢測型、危險檢測型和危險未檢測型。
圖6.隨機故障類型 例如，考慮一個系統(tǒng)，其安全功能是在溫度讀數(shù)很高時斷開機器的電源開關(guān)。任何不影響安全功能（即斷開電源開關(guān)）的隨機故障，稱為安全檢測型故障或安全未檢測型故障。影響安全功能的其他故障則是危險故障。實際上，重要的是危險未檢測型故障。這類故障是診斷未覆蓋的故障，ADI的目標是提高診斷覆蓋率，以盡可能將危險及未檢測到的故障減少。 診斷覆蓋率 隨機故障可以通過軟件或硬件形式的各種內(nèi)置檢測機制來檢測。例如，MOSFET開關(guān)故障可以通過回讀輸出來檢測，隨機存儲器位翻轉(zhuǎn)可以通過定期運行CRC存儲器檢查來檢測。 診斷覆蓋率衡量系統(tǒng)檢測危險故障的能力，數(shù)學(xué)上定義為危險檢測型故障與危險故障的比率。 硬件容錯 考慮一個可編程邏輯控制器(PLC)系統(tǒng)，例如圖7所示，其安全功能是在輸入超過特定值時斷開開關(guān)以停止機器。在HFT=0圖中，如果存在單一隨機故障(X)，系統(tǒng)就會發(fā)生故障，機器不會停止。
圖7.PLC系統(tǒng) 現(xiàn)在，如果有HFT=1圖中所示的冗余路徑，那么單一隨機故障將不再引起故障，將能夠停止機器。 因此，通過增加冗余路徑，系統(tǒng)便可容忍單一故障。此系統(tǒng)被稱為HFT 1系統(tǒng)，表示一個故障不會導(dǎo)致系統(tǒng)失效。HFT 0表示一個故障可能導(dǎo)致系統(tǒng)失效。硬件容錯是當(dāng)存在一個或多個危險故障時，元器件或子系統(tǒng)執(zhí)行安全功能的能力。 HFT可以從1oo1、1oo2、2oo3等架構(gòu)來計算。如果將架構(gòu)表示為MooN，則HFT計算式為N–M。換句話說，2oo4架構(gòu)的HFT為2。這意味著它可以容忍兩個故障并繼續(xù)工作，因此它是一個具有冗余的架構(gòu)。 SIL等級覆蓋率 表1顯示了SFF（即診斷覆蓋率）和硬件容錯（意味著冗余）。行表示診斷覆蓋率，列表示硬件容錯。HFT為0表示如果系統(tǒng)出現(xiàn)一個故障，安全功能就會喪失（見表1）。 表1.SIL等級覆蓋率
如果增加冗余以實現(xiàn)HFT 1，如圖7所示，那么系統(tǒng)可以容忍一個故障而不會停機。目前通過冗余達到SIL 3等級的客戶，如果使用具有更高診斷覆蓋率的部件，則可以在沒有冗余的情況下達到SIL 3。 因此，更高水平的診斷可以減少所需的系統(tǒng)冗余量，或者在相同冗余量下，同時可以提高解決方案的SIL等級（在表1中向下移動）。 現(xiàn)在，回顧一下AD7124-4/AD7124-8中的診斷功能，其支持多種內(nèi)置機制，例如電源/基準電壓/AIN監(jiān)控、開路檢測、轉(zhuǎn)換/校準檢查、信號鏈功能檢查、讀/寫監(jiān)控、寄存器內(nèi)容監(jiān)控等，這些診斷功能可提高AD7124-4/AD7124-8系統(tǒng)的診斷覆蓋率。在沒有這些診斷的情況下，需要兩個ADC才能達到相同的水平。 因此，一個AD7124-4或AD7124-8可提供相同水平的覆蓋范圍，其診斷覆蓋率和特性支持設(shè)計功能安全的系統(tǒng)。這可節(jié)省50%的BOM和印刷電路板空間。 支持SIL等級設(shè)計的文檔 輔助終端系統(tǒng)SIL認證所需的文檔包括： 安全數(shù)據(jù)手冊（安全手冊用于SIL等級部件） 引腳FMEDA（故障模式、影響和分析）和FMEDA（故障模式、影響和診斷分析） 附錄F 檢查清單 這些文檔由主要來自四個數(shù)據(jù)源的輸入組成，如圖8所示。這些數(shù)據(jù)是診斷數(shù)據(jù)、設(shè)計數(shù)據(jù)、FIT率和來自故障插入測試的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)手冊中的診斷數(shù)據(jù)涉及部件提高的所有診斷特性。 設(shè)計數(shù)據(jù)是指內(nèi)部數(shù)據(jù)——例如，裸片面積和部件每個內(nèi)部模塊的影響。 數(shù)據(jù)手冊中提供了各種元器件的FIT率（故障率）。一個常見例子是Siemens Databook SN 29500。 對無法使用設(shè)計和診斷數(shù)據(jù)進行分析的模塊應(yīng)進行故障插入測試。這些測試是 根據(jù)應(yīng)用需求而規(guī)劃的，故障插入測試的結(jié)果用于加強FMEDA和 FMEA文件。
圖8.功能安全文檔信息流 AD7124-4/AD7124-8 FMEDA分析應(yīng)用原理圖中的主要模塊，識別故障模式和影響，并檢查特定安全功能的診斷和分析。下面通過圖9了解該機制。 對于RTD型系統(tǒng)，安全功能是以±x度的精度測量溫度。應(yīng)用原理圖如圖9所示。
圖9.RTD應(yīng)用原理圖 將危險故障定義為可能導(dǎo)致ADC輸出或SPI通信出現(xiàn)錯誤的故障，如果輸出中的錯誤很嚴重，則可能導(dǎo)致危險故障。 安全狀態(tài)定義為： 根據(jù)安全功能，輸出數(shù)據(jù)代表輸入 錯誤狀態(tài)位已置位 ADC輸出轉(zhuǎn)換結(jié)果為全0或全1 無SPI通信 根據(jù)IEC 61508，AD7124-4/AD7124-8被認定為B類系統(tǒng)。為了解釋FMEDA，以時鐘模塊為例，分析其故障模式。 表2顯示了當(dāng)時鐘模塊面臨第一列中描述的故障模式時會發(fā)生什么，它對輸出的影響，診斷覆蓋率，最后是分析。 表2.主時鐘模塊故障模式、影響、診斷和分析
同樣，隨后分析AD7124-4/AD7124-8中的其余模塊。 請注意，可能存在一些可能不會影響安全功能的故障；例如，AIN0引腳上的故障不會導(dǎo)致溫度測量出現(xiàn)問題，因此可以從安全計算中排除。 FMEDA的結(jié)果將是安全故障、危險檢測型故障和危險未檢測型故障的故障率，用于計算SFF。 引腳FMEDA 引腳FMEDA分析AD7124-4/AD7124-8引腳上的各類故障及其在此RTD應(yīng)用中的后果。選取每個引腳，一步一步地分析引腳開路、短接到電源/接地或短接到相鄰引腳會有什么后果。
圖10.32引腳LFCSP引腳配置 例如，以圖10中的引腳29 (DIN)為例，參考圖9所示的應(yīng)用原理圖，檢查不同故障的后果。表3顯示了故障模式、影響和檢測。 表3.引腳DIN的故障模式、影響和分析
請注意，分析是針對圖9所示的應(yīng)用原理圖進行的，因此對未使用引腳的分析不會產(chǎn)生任何影響。 附錄F 檢查清單 這是ASIC避免系統(tǒng)性故障的設(shè)計措施清單。合規(guī)需要一份完整的IEC 61508-2:2010附錄F檢查清單。 安全手冊或數(shù)據(jù)手冊 一整套信息最終進入安全手冊或數(shù)據(jù)手冊，提供實現(xiàn)AD7124-4/AD7124-8集成的必要要求。 當(dāng)顯示符合IEC 61508功能安全標準時，安全數(shù)據(jù)手冊會整理來自各種文檔的所有診斷和分析。它將包含所有信息，例如： 產(chǎn)品概述 應(yīng)用信息 安全理念 終身預(yù)測 FIT FMEDA計算——SFF和DC 硬件安全機制 診斷描述 EMC穩(wěn)健性 以冗余配置工作 附件和文件清單 Route 2S，也稱為“經(jīng)過使用證明” 上述為第一種評估方法。現(xiàn)在討論另一種方法，稱為“經(jīng)過使用證明”或Route 2S。此方法適用于已發(fā)布器件，并且基于對客戶退貨的分析和已發(fā)貨數(shù)量。這樣可以進行SIL認證，就好像該部件是完全按照IEC61508標準開發(fā)的一樣。如果模塊/系統(tǒng)設(shè)計者過去曾成功使用某一IC，并且了解現(xiàn)場故障率，那么他可以宣稱其“經(jīng)過使用驗證”(Route 2S)。 請注意，Route 2S需要完整的現(xiàn)場退貨數(shù)據(jù)，因此對于集成電路設(shè)計者或制造商來說，作出這種宣稱要困難得多，因為他們一般不太了解最終應(yīng)用或擁有完備的現(xiàn)場失效器件收集、失效分析流程及數(shù)據(jù)。 結(jié)論 RTD測量系統(tǒng)對ADC和系統(tǒng)的要求非常苛刻。這些傳感器產(chǎn)生的模擬信號很小。這些信號需要用增益級放大，同時放大器的噪聲必須非常低，不至于淹沒傳感器的信號。放大器之后需接一個高分辨率ADC，以將傳感器的低電平信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信息。除了ADC和增益級之外，溫度系統(tǒng)還需要其他元器件，例如激勵電流。同樣，這些元件必須是低漂移、低噪聲元件，不致于降低系統(tǒng)精度。諸如失調(diào)等初始精度誤差可以通過校準從系統(tǒng)中消除，但元件隨溫度的漂移必須非常低，以免引入誤差。集成激勵模塊和測量模塊可簡化客戶設(shè)計。針對功能安全進行設(shè)計時，還需要診斷。將診斷與激勵和測量模塊集成在一起，可以簡化整體系統(tǒng)設(shè)計，減少BOM，縮短設(shè)計時間，加速產(chǎn)品上市。 FMEDA等文檔包含客戶認證最終設(shè)計中的元器件所需的全部信息。但是，對元器件本身進行認證可以進一步簡化與認證機構(gòu)的交流。Route 2S流程允許對發(fā)布后的產(chǎn)品進行認證，鑒于目前有很多已發(fā)布的器件適合功能安全設(shè)計，因此這是一條很有用的途徑。 了解更多 ► 相關(guān)資料—RTD測量(CN0383) 關(guān)于作者 Mary McCarthy是ADI公司應(yīng)用工程師。她于1991年加入ADI公司，在愛爾蘭科克市的線性與精密技術(shù)應(yīng)用部工作，主要關(guān)注精密Δ-Σ型轉(zhuǎn)換器。她于1991年畢業(yè)于科克大學(xué)，獲得電子與電氣工程學(xué)士學(xué)位。 Wasim Shaikh于2015年加入ADI公司，在精密轉(zhuǎn)換器部門擔(dān)任應(yīng)用工程師，工作地點在印度班加羅爾。Wasim是一名獲認證的功能安全工程師，于2003年獲得普鈉大學(xué)學(xué)士學(xué)位。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
