安泰測試給西安電子科技大學某實驗室提供方案—（十三）TLS-1000 LIV 測試方案

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TLS-1000 LIV 測試方案

精密溫控型多功能 LIV 光譜功率積分測試系統測試方案

系統背景

隨著光電子技術和信息技術的發展，半導體激光器 (LD)在光纖通信，信息存儲、光傳輸等領域得到了廣泛的應用，作為系統的光源，LD 特性的優劣直接影響著系統的性能。半導體發光器件 LIV 光譜特性 ，需要精確地測試得到半導體激光器的 LIV 特性曲線和光譜相關參數。

LS-VCS-SCI-LIV 科研用 LIV 光譜功率積分系統 LIV 測試方案 ® 可以為客戶提供 LD/LED 光電特性檢測定制化解決方案，實現對 LD/LED 單體、模組、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光譜波長及功率測量等。

系統介紹

LS-VCS-SCI-LIV 精密溫控型多功能光譜功率積分測試系統由泰克與合作單位專門針對基于脈沖 LD/LED 測試研發而成，該系統可用于對 LD/LED 光電特性檢測，以保證 LD/LED 脈沖激光輻射光譜滿足器件光學功能和人眼安全應用需求。

LS-VCS-SCI-LIV 精密密溫控型多功能光譜功率積分測試系統主要針對 LD/LED 的芯片和模組的光電特性測量，根據 /LD/LED 的發散角和輸出功率測量要求，可選擇不同規格的積分球，積分球內徑尺寸分為：2 寸、4 寸、6 寸。積分球帶已標定功率探頭，由于 LD/LED

發熱量大，溫度對 LD/LED 輸出功率和輸出光譜波長有很大的影響，因此需要對樣品控溫，配置溫度控制模塊，控溫范圍 -50℃ ~+225℃可選。

方案特點

●  光譜峰值波長和半高全寬（FWHM） 測 量：400-1100nm，FWHM:0.1nm，最快可實現 2kHz 數據采集

● 激光功率測量，最快可實現每秒 100k 采樣點

● 強大的分析專用軟件可以掃描測量LIV曲線，PCE曲線，溫度 - 峰值波長 - 光功率曲線

● 可設置掃描精度和速度，可測量光電轉換效率，自動保存測試數據

● 采用四線測量方法，實時記錄實測電流、電壓值，功率值，測試更準確

● 程序可設置連續及脈沖掃描兩種模式

● 壽命老化檢測功能：在恒定或脈沖條件下（電流、溫度），每隔指定時間間隔測試記錄一次光譜和功率數據

具體測試軟件界面如下：

系統配置

Keithely 2601B/2602B     大功率高精度電流源

Keithely 2651

Keithely DMM7510       高精度高速數字萬用表

Keithely 2510            高精度數字溫度控制器

LS-VS-SPEC-IRR-50        光譜功率積分球模塊

LS-VS-SPEC-IRR-100

LS-VS-SPEC-IRR-150

LS-VS-SPEC-IRR-OEM

LS-VS-PRB-HM       手動探針臺裝置

LS-VS-STAGE LED/LD  樣品固定支架平臺

LS-OPT-2412        光學防震平臺

LS-VS-TEC          工業用高低溫溫度控制器

LS-VS-CTRSYS-IND    集成硬件控制平臺

LS-VS-CTRSYS-Soft 軟件測量控制平臺

如需了解更多，歡迎您了解西安安泰測試設備有限公司，訪問安泰測試網。