安泰測試給西安電子科技大學某實驗室提供方案—（八）泰克Power整體測試方案

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Agitek小編今天帶您學習給西安電子科技大學實驗室提供的方案：泰克Power整體測試方案。

Power測試方案

功率器件測試 —— 碳化硅、氮化鎵器件的全橋測試

（一）• IsoVu™ 技術是一種全新的高電壓隔離探測解決方案，提供了精確和可重復的結果將測試設備與示波器完全電流隔離。

          •唯一同時提供杰出的帶寬、動態范圍、共模范圍和共模抑制比的測量系統 。

◦ 800M、1 GHz帶寬

◦ 60000V共模電壓

◦ 高達2500V差分電壓

◦ 杰出的共模抑制比

▪ DC ~ 100 MHz：1000000:1 (120 dB) CMRR

▪ 1 GHz時10,000:1 (80 dB) CMRR

安泰測試-實驗室用半導體動態參數測量系統

• 示波器MSO56+IGBT-TOWN軟件*1

• THDP0200*2測量上、下管Vge，Vce

• TPP1000*1（標配）測量下管Vge， TPP0850*1測量下管Vce

• TRCP300/600/3000電流探頭

• AFG31051*1

• 2200-20-5電源*1，提供驅動供電

• 600V/1500V/3000VDC電源*1，提供 Vbus供電

• 負載空芯電感（繞制）

• 器件測試箱

• SIC的器件需要選擇

• TIVH08*1測量上管Vge。

• GAN的器件需要選擇

• TIVM1*1測量上管Vge。

板級測試 —— 開關損耗分析

測試難點： 1. 如何針對導通壓降和關斷 電壓的大動態范圍的開關 信號進行測試？

2. 由于開關點震蕩的存在導 致開關周期無法準確判斷？

開點損耗+閉點損耗+導通損耗

12位ADC+低噪聲+新算法

板級測試 —— SOA安全工作區

• 更直觀的觀察到不同 負載下的功率器件是 否會出現超標

• 邊界條件可設 ， 可存 、可調出

板級測試 —— 開關損耗分析

磁性器件的磁特性分析

計算磁性器件的功耗

• 磁特性（BH曲線 ）

• 電感

• I Vs Int V

• 磁損耗

• 得到總的磁損耗

• 鐵芯損耗

• 銅損

• 能測試多個次級繞組

Power測試方案

板級測試——環路測試、電源抑制比、阻抗測試測試

環路響應

           DC-DC 變換器的詳細原理圖。由R1 和R2 所分擔的輸出電壓被反饋到誤差放大器，誤差放大器將反饋電壓與穩定的參考 電壓Vref 進行比較，輸出與這兩個電壓之差成比例的輸出電壓。脈寬調制器 (PWM) 提供的脈沖其占空比由誤差放大器的 輸出電壓決定， 此脈沖可以接通或斷開MOSFET 開關。當反饋電壓低于Vref 時，反饋系統會延長周期Ton 以提高輸出電 壓。當反饋電壓高于Vref 時，反饋系統會縮短周期Ton 以降低輸出電壓。這樣就能獲得一個穩定的DC 輸出電壓。C1、C2、 C3、R3、R4以及R1 和R2等元器件共同調節誤差放大器的增益和相位時延，從而提高反饋環路的穩定度 (反饋補償)

Power測試方案

整體性能評價——EMI測試

全功能 EMC 測試系統: • 輻射騷擾 • 傳導騷擾 • EMI 診斷

快速、簡便易用: • 故障定向的準峰值加撥 • 測試向導內置通用EMI標準

高精度: • 預定義測試附件的增益與衰減 • 隨機噪聲比較

自動生成測試報告: • PDF, RTF 等格式報告

如需了解更多，歡迎您了解西安安泰測試設備有限公司，訪問安泰測試網。