在電子產品的生產、儲存、運輸和使用的環節中，產品表面常會因自然或人為的原因容易受到污染、腐蝕、氧化等影響，帶來諸多意想不到的麻煩。無形的表面問題猶如不可捉摸的新冠病毒，要想實施有效控制，檢測排查至關重要。ZESTRON Flux Test、ZESTRON Resin Test和ZESTRON Coating Layer Test是ZESTRON針對電子零部件常見的表面殘留物和敷形涂覆特別開發的便攜式快速測試套裝。相對于目前市面上其他的檢測手段和儀器設備，三款產品集便攜、快速、精準、可視化、低成本等優勢，在排查表面問題上已受到越來越多客戶的青睞。
1）ZESTRON Flux Test 助焊劑活性物分布快檢套裝 ZESTRON Flux Test借助顯色反應可以清楚地將污染物的分布呈現出來，標識出羧酸型助焊劑中的活化劑，對于離子污染度檢測是非常重要的補充，有利于進行組件的可靠性快速評估。 2）ZESTRON Resin Test 樹脂殘留物分布快檢套裝 ZESTRON Resin Test借助于顯色反應可以標識出電子組裝件上的樹脂型殘留物的分布。在生產中及時檢測出來自助焊劑的松香或合成樹脂型殘留，通過合適手段將其去除，可以有效避免敷形涂覆粘附力的減弱和分層現象的出現。 3）ZESTRON Coating Layer Test 涂覆層失效的化學測試快檢套裝 ZESTRON涂覆分層測試，利用顯色反應可視化地顯示出涂覆層的缺陷，甚至適用于微米涂覆層。涂覆工藝是否可靠主要取決于涂覆層的均一性。該測試可用于生產過程中的低成本采樣監控，及時防御涂覆層空洞或分層等失效風險，降低對最終電路板組裝的不良影響。 此外，ZESTRON R&S通過尖端的儀器分析技術及在工藝技術及可靠性領域豐富的經驗積累，能夠對試樣表面進行全面而精準的表征和評價，幫助客戶解決各種復雜的可靠性及表面技術難題。ZESTRON R&S采用的技術手段包括但不限于：高清數碼顯微鏡目檢、離子色譜法（IC）、離子污染度測試（ROSE）、傅里葉變換紅外光譜法（FTIR）、涂覆可靠性測試（CoRe Test）、顆粒物測定/技術清潔度（Technical Cleanliness）、掃描電子顯微鏡/X射線能譜分析儀（SEM/EDX）、X射線光電子能譜（XPS）、俄歇電子能譜（AES）、涂覆層測試（Coating Layer Test）、助焊劑測試/樹脂測試（Flux/Resin Test）、接觸角測量（Contact Angle）、表面絕緣電阻測量（SIR）、差熱分析（DTA）等。 如您需要分析、評估和咨詢服務、或更加靈活系統的培訓方式，ZESTRON R&S可以基于您的具體需求提供定制化的服務方案。歡迎發送郵件至academy-china@zestron.com。 |
