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測(cè)試和分析金屬材料、低溫超導(dǎo)體、納米級(jí)材料、高摻雜半導(dǎo)體、光電二極管暗電流和來自加速器件的電子束電流需要測(cè)量nA級(jí)及更低的電流。要么產(chǎn)生的電流很小，要么極低功率材料（例如單原子層石墨烯）的工作電流必須非常低才能最小化自發(fā)熱效應(yīng)引起的功耗和損壞。類似地，絕緣體、聚合物、陶瓷和高摻雜半導(dǎo)體的高電阻測(cè)量還需要測(cè)量極低電流的能力。 此電子手冊(cè)概述了低電流和高電阻測(cè)量的儀器和技術(shù)。下載吉時(shí)利最新電子手冊(cè)。您將了解以下話題的更多內(nèi)容： •測(cè)量電路 •漏電流和防護(hù) •噪聲和源電阻 •零漂移 •產(chǎn)生的電流 •過載保護(hù) •交流干擾和衰減 •使用庫(kù)侖計(jì)測(cè)量低電流 •恒壓法 •恒流法 •隔離 •建立時(shí)間 下載： 
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