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接觸電阻測試方法：采用吉時利高精度多用表結合四線法，以避免在測量結果中計入引線電阻。將電流的端子接到該接點對的兩端。取樣 (Sense) 端子則要連到距離該接點兩端電壓降最近的地方。其目的是避免在測量結果中計入測試引線和體積電阻 (bulk resistance) 產生的電壓降。 注：體積電阻就是假定該接點為一塊具有相同幾何尺寸的金屬實體，而使其實際接觸區(qū)域的電阻為零時， 整個接點所具有的電阻。 如何對測試器件進行四線連接取決于器件的形式，在某些情況下，焊接可能是不可避免的。被測接點上的每個連接點都可能產生熱電動勢。然而，這種熱電動勢可以通過吉時利高精度萬用表的電流反向或偏置補償方法來補償。 接觸電阻測試難點及應對方案： 1. 測試難點一：通常，測試接點電阻的目的是確定接觸點氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測器件的電阻。即使在極短的時間內，器件兩端的電壓過高也會破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內。 2. 測試難點二：在測試時流過接點的電流過大也能使接觸區(qū)域發(fā)生細微的物理變化。電流產生的熱量能夠使接觸點及其周圍區(qū)域變軟或熔解。結果， 接點面積增大，并導致其電阻降低。 解決方案：為了避免這類問題，通常采用干電路的方法來進行接點電阻測試。干電路就是將其電壓和電流限制到不能引起接觸結點的物理和電學狀態(tài)發(fā)生變化電平的電路。一般地說，這就意味著其開路電壓20mV或更低，短路電流100mA或更低。由于所使用的測試電流很低，所以就需要非常靈敏的電壓表來測量這種通常在微伏范圍的電壓降。 注：由于其它的測試方法可能會引起接點發(fā)生物理或電學的變化，所以對器件的干電路測量應當在其它的電學測試之前進行。 吉時利2010型數(shù)字多用表、DMM7510數(shù)字萬用表、 2750型和3706A數(shù)字多用表數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)進行四線接觸電阻測量時，靈敏度高，能夠采用偏置補償模式自動補償取樣電路中的熱電勢偏置，并內置干電路測量功能，可滿足大多數(shù)應用的接觸電阻測量工作。 安泰測試提供專業(yè)的測量洞見信息，旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉化為現(xiàn)實。幫助您測試和測量各種解決方案，從而突破復雜性的層層壁壘，加快您的全局創(chuàng)新步伐。 |
