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作者：Teledyne 摘要 無(wú)線技術(shù)在過(guò)去的20年里快速?gòu)?G發(fā)展到4G，現(xiàn)在已到了 5G的時(shí)代。有一個(gè)技術(shù)問(wèn)題一直貫穿這一發(fā)展的過(guò)程，即高頻器件的自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試。 RF ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)面臨的最困難的挑戰(zhàn)是校準(zhǔn)、可重復(fù) 性和測(cè)試結(jié)果的關(guān)聯(lián)度。未來(lái)的無(wú)線技術(shù)的發(fā)展需要5G NR器件。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC利用非并行片 上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)，使用戶可在RF ATE和/或現(xiàn) 場(chǎng)測(cè)試環(huán)境中使用自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)。 Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190（采用交叉點(diǎn)開 關(guān)輸入電路技術(shù)的12位和10位四通道ADC）使RF ATE和現(xiàn) 場(chǎng)測(cè)試設(shè)備的開發(fā)可以集中于單通道和多端口5G NR設(shè)備的 自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試和測(cè)量。 下載全文： 
Teledyne e2v’s Quad ADCs to Revolutionize Auto-Calibrated Test Measurements - f.pdf
(9.47 MB)
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