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項(xiàng)目背景 湖南株洲某公司主要專注于軍用電子元器件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)。旗下產(chǎn)品有片式固體電解質(zhì)鉭電容器、高能鉭混合電容器、多層片式瓷介電容器等。產(chǎn)品應(yīng)用于航空、航天、電子通訊、兵器、船舶等相關(guān)領(lǐng)域。 鉭電容自動(dòng)采集系統(tǒng) 用戶需求 日前用戶工廠對(duì)鉭電容的采集系統(tǒng)一直是手動(dòng)測(cè)試，手動(dòng)保存，效率實(shí)在是很低。用戶希望通過納米軟件實(shí)現(xiàn)鉭電容數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集和保存。 1、使用CVI編程語言通過鉭電容數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)控制日置SM7110漏電流表，實(shí)現(xiàn)硬件連接、參數(shù)設(shè)置、運(yùn)行測(cè)試、數(shù)據(jù)采集、顯示和保存功能。 2、通過VISA 庫實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的通信控制功能；通過多線程技術(shù)實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的采集、顯示和保存。 項(xiàng)目成果 首先運(yùn)行鉭電容數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)，將高阻計(jì)通過USB線纜連接計(jì)算機(jī)，I/0卡與儀器需要TTL接口連接。設(shè)備連接成功之后運(yùn)行軟件。 系統(tǒng)框圖 運(yùn)行鉭電容數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)入主界面。 主界面 點(diǎn)擊“運(yùn)行測(cè)試”，系統(tǒng)進(jìn)入運(yùn)行測(cè)試界面。分別對(duì)I/O卡和高阻計(jì)進(jìn)行儀器連接設(shè)置，同時(shí)可以對(duì)測(cè)試值進(jìn)行上限判定和下限判定。 運(yùn)行測(cè)試界面 測(cè)試完成之后，點(diǎn)擊數(shù)據(jù)保存按鈕，選擇文件導(dǎo)出目錄后，就可以將數(shù)據(jù)保存到本地了。 項(xiàng)目總結(jié) Namisoft（納米軟件）鉭電容數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)目前已經(jīng)通過一系列的內(nèi)測(cè)，功能優(yōu)化。在規(guī)定的期限內(nèi)完美的交付給用戶。目前用戶應(yīng)經(jīng)開始投入使用。在項(xiàng)目交付過程中沒有任何遺留問題，用戶反饋很好。我們也將不斷的為自動(dòng)化測(cè)試貢獻(xiàn)自己的一份力量。 |
