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全新參考架構可快速、準確且經濟高效地對封裝天線(AiP)器件進行射頻OTA驗證 美國國家儀器(National Instruments，簡稱NI)今日發布了硬件加速的5G毫米波OTA驗證測試參考架構，可對5G 毫米波波束成形AiP器件進行全面的特性分析和驗證。 與傳統的點對點軟件控制測試系統相比，NI的毫米波OTA驗證測試參考架構可在24 GHz到44 GHz的5G毫米波頻段內快速掃描OTA空間，幫助用戶顯著縮短AiP器件的OTA射頻驗證測試時間。這一全新的參考架構使得正在研究最新5G AiP器件的特性分析和驗證工程師能夠利用更寬、更復雜的5G新空口信號研究其器件的波束成形性能，同時縮短開發周期。NI的快速OTA測試方法可幫助工程師使用更密集的空間網格并獲得更精細的3D空間分辨率，同時維持較短的測試時間。此外，借助NI的毫米波OTA驗證測試軟件，驗證工程師可以在生成、可視化、存儲或發布詳細的參數結果時快速配置這些空間掃描，以分析其器件的天線方向圖特性。 “5G毫米波半導體產業發展迅速，測試系統需要為新的5G波束形成設備做好準備，” Anokiwave首席戰略官Alastair Upton說道， “工程師將需要快速、準確且價格合理的工具來測量和確保器件的波束形成性能，以便下一代毫米波半導體能夠在全球范圍內充分發揮其潛力�！� NI的毫米波OTA驗證測試參考架構由以下部分構成： • NI毫米波VST，用于生成和測量寬帶RF信號 • PXI儀器，用于實現可重復和精確的運動控制 • 隔離微波暗室，可在安靜的環境中進行真正的遠場輻射測試 • 毫米波OTA驗證測試軟件，實現交互使用和自動化 NI一直以來致力于不斷擴大5G毫米波器件的測試范圍，同時幫助用戶降低測試成本和縮短上市時間，此次發布的毫米波OTA驗證測試參考架構正是這一努力的最新成果。這一解決方案完善了NI模塊化儀器產品系列和測量軟件，可對最新的Sub-6 GHz至毫米波的最新5G RFIC器件進行特性分析和驗證。 了解有關NI的毫米波OTA驗證測試參考架構的更多信息 。 |
