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T5503HS是針對 LP-DDR5和 DDR5存儲器新功能及特點而專門定制設計的全新測試系統 近日，全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試推出了其 T5503HS2 高速存儲器測試系統。該系統不僅能為當前最高速存儲器芯片提供業界最高效的量產測試解決方案，同時也可以覆蓋下一代超高速 DRAMs 存儲芯片。在目前全球對存儲器需求飛速增長的時代背景下，T5503HS2 全新測試系統的靈活性擴展了 T5503 系列產品在當前“超級周期”中的功能。 
存儲器超級周期由飛速增長的終端市場所驅動，這個終端市場包括便攜式電子設備及服務器。根據市場調研公司 IHS Markit 的調研，自 2009 年起移動型內存的比特市占率增長超過了 500%。調研公司 IHS Markit 預估到 2021 年，1200 億 GB 的DRAM 容量將被數據處理應用市場所需要，諸如移動電子設備，數據中心，汽車，游戲和顯卡。為了滿足這一龐大的增長需求，芯片制造商正在研發新型的，先進的SDRAM技術，如高達每秒 6.4GB數據傳輸速度的 DDR5 和 LPDDR5 存儲器芯片。 愛德萬測試的 T5503HS2 是設計用于提供針對新型存儲器和現有器件的測試解決方案。它的測試速率最快能達到 8 Gbps 同時測試精度在±45 皮秒。充分利用其16,256 的數據通道，這個全能型測試系統在測試下一代 LP-DDR5 和 DDR5 器件的同時也允許使用者兼容測試現今的 DDR4，LP-DDR4 及高帶寬存儲器器件，實現了半導體業界最高的同測數和最優利潤率。配置的4.5GHz 高速時鐘選配模塊使新測試機擁有了以超過 8 Gbps 的數據傳輸速率來應對未來存儲器芯片測試的可擴展性。 獨特的性能使 T5503HS2 成為了獨一無二的新一代量產測試機，內置的超高速存儲器可支持測試 LP-DDR5 和 DDR5 器件的關鍵性能。例如，通過實時追蹤功能， 測試機能夠自動識別和調整 DQS-DQ 間時序差異來確保更多的時序余量。此外，一個 強健的新型邏輯算法模式生成器(ALPG)允許對先進器件的特性進行快速高品質評價。 T5503HS2 中也配置了一個新型可編程電源供給單元，這個電源供給單元的反應速度是之前版本的四倍，同時帶來更低的電壓壓降。 目前使用 T5503 測試系統的用戶可以將設備升級成為新的 T5503HS2 測試系統，來為下一代存儲器器件的測試實現無縫經濟的產品線過渡。 愛德萬測試執行董事 Masuhiro Yamada 稱 “我們的 T5503HS2 擁有一流的性能和對應下一代存儲器芯片高速測試時所需的精度。這個測試系統有無與倫比的可擴展性和生產同測能力，使它在評價 LP-DDR5 和 DDR5 器件時做到快速，精確和最優利潤率�！� |
