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MPT3000系 統(tǒng) 的最新擴(kuò)展能力可以使固態(tài)驅(qū)動(dòng)器制造商更快地將他 們的產(chǎn)品推向市 場(chǎng) 愛德萬(wàn)測(cè)試推出了業(yè)界第一個(gè)完全集成的固態(tài)硬盤測(cè)試解決方案，該方案可以用于開發(fā)、調(diào)試以及量產(chǎn) PCIe Gen 4 固態(tài)驅(qū)動(dòng)器（SSD），并且 MPT3000 平臺(tái)也可以同時(shí)兼容 PCIe Gen 3、SATA 和 SAS 等協(xié)議的固態(tài)硬盤的測(cè)試開發(fā)以及量產(chǎn)。這套全方位的新的測(cè)試解決方案可以使 SSD 制造商加快其新產(chǎn)品上市的時(shí)間。 
MPT3000 平臺(tái)現(xiàn)在可以覆蓋 PCIe Gen 4 設(shè)備的所有測(cè)試需求——從支持工程使用的 MPT3000ES，到支持可靠性驗(yàn)證測(cè)試（RDT）的 MPT3000ENV，再到支持量產(chǎn)的 MPT3000HVM，用戶可以在 MPT3000 上直接開發(fā) PCIE Gen4，而不用等待第三方廠商提供測(cè)試方案。它向用戶提供一套從設(shè)計(jì)到制造的測(cè)試流程，并使用與愛德萬(wàn)測(cè)試已經(jīng)投入市場(chǎng)的 PCIe Gen 3 解決方案相同的測(cè)試架構(gòu)和軟件，從而簡(jiǎn)化了向下一代產(chǎn)品升級(jí)的過程。這一整體解決方案為 SSD 制造商提供了市場(chǎng)最快、風(fēng)險(xiǎn)最低的路徑。 愛德萬(wàn)測(cè)試系統(tǒng)級(jí)測(cè)試副總裁 Colin Ritchie 提到：“為了解決各種各樣的固態(tài)硬盤協(xié)議和形式因素問題，我們提供了模塊化的MPT3000 平臺(tái)，可以驗(yàn)證和測(cè)試最新一代的 PCIe 存儲(chǔ)器。在這種高度靈活的測(cè)試系統(tǒng)中，每一個(gè) DUT（待測(cè)器件）獨(dú)立測(cè)試架構(gòu)和硬件加速使它成為一個(gè)單一的系統(tǒng)解決方案，可用于幾乎所有的工程、批量生產(chǎn)和 BIST（內(nèi)置的自測(cè)試）應(yīng)用程序。” MPT3000 PCIe Gen 4 產(chǎn)品現(xiàn)已上市，并開始出貨。 |
