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提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度和降低系統(tǒng)的成本

發(fā)布時間:2010-10-27 14:28    發(fā)布者:techshare
在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,模數(shù)轉(zhuǎn)換器是其中至關(guān)重要的環(huán)節(jié),模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度以及系統(tǒng)的成本直接影響到系統(tǒng)的實用性,因此,如何提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度和降低系統(tǒng)的成本是衡量系統(tǒng)是否具有實際應用價值的標準。
 
一般來說,想提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度,勢必會引起成本的增加,這就要求我們按照具體的精度要求合理的設計模數(shù)轉(zhuǎn)換器,來達到具體的要求和降低系統(tǒng)的成本。在精度要求不是很高的場合,我們經(jīng)常利用嵌入微控制器片內(nèi)的A/D轉(zhuǎn)換器來實現(xiàn)模數(shù)轉(zhuǎn)換,以此來降低系統(tǒng)的成本,但由此又產(chǎn)生了另外的問題,嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器是否具有所要求的精度,若超出測量范圍如何與測量電路進行接口,以及如何減小微控制器的電磁干擾提高嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度問題。這都要求我們采取不同的措施來提高嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度。

1 精度與分辨率

ADC的精度和分辨率是兩個不同的概念。精度是指轉(zhuǎn)換器實際值與理論值之間的偏差;分辨率是指轉(zhuǎn)換器所能分辨的模擬信號的最小變化值。ADC 分辨率的高低取決于位數(shù)的多少。一般來講,分辨率越高,精度也越高,但是影響轉(zhuǎn)換器精度的因素很多,分辨率高的ADC,并不一定具有較高的精度。精度是偏移誤差、增益誤差、積分線性誤差、微分線性誤差、溫度漂移等綜合因素引起的總誤差。因量化誤差是模擬輸入量在量化取整過程中引起的,因此,分辨率直接影響量化誤差的大小,量化誤差是一種原理性誤差,只與分辨率有關(guān),與信號的幅度,采樣速率無關(guān),它只能減小而無法完全消除,只能使其控制在一定的范圍之內(nèi),一般在±1/2LSB范圍內(nèi)。

1.1 偏移誤差

偏移誤差是指實際模數(shù)轉(zhuǎn)換曲線中數(shù)字0的代碼中點與理想轉(zhuǎn)換曲線中數(shù)字0的代碼中點的最大差值電壓。這一差值電壓稱作偏移電壓,一般以滿量程電壓值的百分數(shù)表示。在一定溫度下,多數(shù)轉(zhuǎn)換器可以通過對外部電路的調(diào)整,使偏移誤差減小到接近于零,但當溫度變化時,偏移電壓又將出現(xiàn),這主要是由于輸入失調(diào)電壓及溫漂造成的。一般來說,溫度變化較大時,要補償這一誤差是很困難的。

1.2 增益誤差

增益誤差是轉(zhuǎn)換器輸出全“1”時,實際模擬輸入電壓與理想模擬輸入電壓之差。它使傳輸特性曲線繞坐標原點偏離理想特性曲線一定的角度,即增益誤差表示模數(shù)轉(zhuǎn)換特性曲線的實際斜率與理想斜率的偏差,它的數(shù)值一般用滿量程的百分比來表示。

ADC的理想傳輸函數(shù)的關(guān)系式是

(1)

式中Un是沒有量化時的標準模擬電壓,由于存在增益誤差,式(1)變?yōu)?

(2)
式中的K為增益誤差因子。當K=l時,沒有增益誤差。當K>1時,傳輸特性曲線的斜率變大,臺階變窄,在輸入模擬信號達到滿量程值之前,數(shù)字輸出就己全“l(fā)”狀態(tài)。當K<1時,傳輸特性曲線的斜率變小,臺階變寬,輸入模擬信號己超滿量程值時,數(shù)字輸出還未達到全“1”狀態(tài)輸出。

在一定溫度下,可通過外部電路的調(diào)整使K=l,從而消除增益誤差。

1.3 線性誤差

線性誤差又稱積分線性誤差,是指在沒有偏移誤差和增益誤差的情況下,實際傳輸曲線與理想傳輸曲線之差。線性誤差一般不大于1/2LSB。因為線性誤差是由ADC特性隨輸入信號幅值變化而引起的,因此線性誤差是不能進行補償?shù)模揖性誤差的數(shù)值會隨溫度的升高而增加。

1.4 微分線性誤差

微分線性誤差是指實際代碼寬度與理想代碼寬度之間的最大偏差,以LSB為單位,微分線性誤差也常用無失碼分辨率表示。

由于時間和溫度的變化,電源可能會有一定的變化,有時可能是造成影響ADC精度的主要原因,因此在要求比較高的場合,必須保證電源的穩(wěn)定性,使其隨溫度和時間的變化量在所允許的范圍之內(nèi),但在一般的場合,往往可以不考慮其對系統(tǒng)的影響。

2 嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器的結(jié)構(gòu)及影響轉(zhuǎn)換的原因和消除方法

所謂嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器是指將模擬多路開關(guān)、采樣保持、A/D轉(zhuǎn)換、微控制器集成在一個芯片上,經(jīng)常采用逐次比較型進行A/D轉(zhuǎn)換,模擬輸入信號一般為非負單極性,且輸入信號的電壓范圍為0~AVREF,A/D轉(zhuǎn)換器具有獨立的模擬電源與參考電壓。   

在實際應用中,由于輸入信號的輸出電阻不同,如果輸出電阻過大,會引起實際測量的電壓分壓過小,因而引起測量值較實際值偏小;或者由于輸入信號為雙極性模擬信號,不能直接與嵌入式微控制器相連,必須采取特殊措施,使雙極性模擬信號轉(zhuǎn)換為可以直接測量的非負單極性信號;還有如果輸入信號幅值過大,以至于超過參考電壓,也必須引入將壓環(huán)節(jié),使輸入電壓低于參考電壓,等等,下面對以上影響逐一進行分析。

2.1 模擬輸入信號阻抗對采樣的影響

采樣過程是采樣電容充電,跟蹤輸入模擬信號電壓的過程,由于采樣電路存在模擬多路開關(guān)阻抗、采樣開關(guān)阻抗和輸入信號源阻抗,因此,其轉(zhuǎn)換時間受模擬多路開關(guān)阻抗、采樣開關(guān)阻抗與輸入信號源阻抗的影響,模擬多路開關(guān)與輸入信號源的阻抗越大則其轉(zhuǎn)換時間越長。
逐次比較型A/D的輸入端等效電路如下圖所示:





圖1 逐次比較型A/D的輸入端等效電路

其中,RIN為輸入模擬信號內(nèi)阻,VS為輸入模擬電壓信號,RSH為模擬多路開關(guān)與采樣開關(guān)的等效電阻,VSH為采樣電容的充電電壓,由等效電路可以看出,輸入模擬信號內(nèi)阻越大,則采樣電容充電時間越長,因此,對于采樣頻率要求越高的場合,要求模擬輸入信號內(nèi)阻必須越小,在應用時必須首先估算在規(guī)定的采樣頻率下,對模擬輸入信號內(nèi)阻的要求。由電路理論可以求得RIN所允許的最大值(假設采樣時間為T):





如果信號源內(nèi)阻達不到要求,則需使用一個輸出阻抗很小的緩沖器,例如可以使用電壓跟隨器,使信號源的輸出阻抗達到A/D轉(zhuǎn)換器所要求的輸入阻抗的范圍之內(nèi)。

2.2 模擬信號極性及幅值的變換

在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,采集的模擬信號并非都是非負單極性信號,經(jīng)常是雙極性信號,因此在使用嵌入式A/D轉(zhuǎn)換器的時候,需要對模擬輸入信號進行極性轉(zhuǎn)換,我們可以采用運算放大器組成的線性網(wǎng)絡來對其極性及幅值進行轉(zhuǎn)換,但須注意的是在引入線性網(wǎng)絡的同時,又引入了一定量的非線性誤差,其線性網(wǎng)絡原理圖可用下圖表示:





圖2 線性網(wǎng)絡原理圖

只要改變電阻R1、R2、R3的大小以及它們的比例關(guān)系便可調(diào)整模擬輸入信號的大小使其符合測量要求。

下面介紹一種常用的芯片AT90S8535關(guān)于其A/D轉(zhuǎn)換器使用時應該注意的情況。

AT90S8535是ATMEL公司生產(chǎn)的一款基于AVR RISC結(jié)構(gòu)的,低功耗的8位單片機,其內(nèi)部集成有模數(shù)轉(zhuǎn)換器,模數(shù)轉(zhuǎn)換器具有以下特點:

 10位分辨率;
 ±2LSB精確度;
 0.5LSB集成線性度;
 65~260μs轉(zhuǎn)換時間;
 8通道;
 自由運行模式和單次轉(zhuǎn)換模式;
 ADC轉(zhuǎn)換結(jié)束中斷;
 休眠模式噪聲消除。            
               
AT90S8535具有10位分辨率的逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器。ADC與一個8通道模擬多路器相連,這樣就允許A口作為ADC的輸入引腳。ADC包含一個采樣保持放大器,ADC框圖如下所示:




圖3ADC框圖

ADC可以工作于兩種模式——單次轉(zhuǎn)換和自由運行。在單次轉(zhuǎn)換模式下,用戶必須啟動每一次轉(zhuǎn)換,而在自由運行模式下,ADC會連續(xù)采樣并更新ADC數(shù)據(jù)寄存器。ADCSR的ADFR位用于選擇A/D轉(zhuǎn)換器的運行模式。

由于模擬通道的轉(zhuǎn)換總是要延遲到轉(zhuǎn)換的結(jié)束,因此,自由運行模式可以用來掃描多個通道,而不中斷轉(zhuǎn)換器。一般來說,ADC轉(zhuǎn)換結(jié)束中斷用于修改通道,但需考慮一下因素;結(jié)果一旦準備好,中斷就被觸發(fā),在自由運行模式,中斷一被觸發(fā),則下一次轉(zhuǎn)換馬上開始。如果中斷觸發(fā)過后,模擬通道改變,而下一次轉(zhuǎn)換已經(jīng)開始,則仍舊使用以前設置。

3.1 ADC噪聲消除技術(shù)

AT90S8535的內(nèi)外部數(shù)字電路會產(chǎn)生電磁干擾,從而影響模擬測量精度。如果要求測量精度較高,則應采取如下技術(shù)以減少噪聲:

1)AT90S8535的模擬部分及其他的模擬器件在PCB板上要有獨立的地線層。模擬地與數(shù)字地單點相連;
2)使模擬信號通路盡量短。使模擬走線在模擬地上通過,并盡量保持遠離高速數(shù)字通路的走線;
3)AVCC要通過一個RC網(wǎng)絡連接到VCC;
4)利用ADC的噪聲消除功能減小來自CPU的噪聲;
5)如果A口的一些引腳作數(shù)字輸出口,則在ADC轉(zhuǎn)換過程中,這些口不要改變其狀態(tài)。

3.2 ADC噪聲消除功能的實現(xiàn)

ADC可以在CPU空閑模式下進行轉(zhuǎn)換,這一特征使得可以抑制來自CPU的噪聲。為了實現(xiàn)這一特性,需采取一下措施:
A)必須選擇單次轉(zhuǎn)換模式,ADC的轉(zhuǎn)換結(jié)束中斷必須使能;
ADEN=1;ADSC=0;ADFR=0;ADIE=1;
B)進入空閑模式。一旦CPU停止,則ADC將開始轉(zhuǎn)換;
C)如果在ADC轉(zhuǎn)換結(jié)束之前沒有發(fā)生其它中斷,則ADC中斷將喚醒MCU并執(zhí)行ADC轉(zhuǎn)換結(jié)束中斷。

微控制器片內(nèi)A/D轉(zhuǎn)換器由于自身的結(jié)構(gòu)、性能特點,在許多應用中會遇到與獨立A/D轉(zhuǎn)換器不同的問題,但大多數(shù)嵌入微控制器的A/D器都具有像AT90S8535相似的結(jié)構(gòu)和特點,采取的消噪技術(shù)和方法也大致相同,我們需根據(jù)具體情況具體分析需采取嵌入A/D還是獨立A/D,并根據(jù)具體需求采取必要的措施來提高A/D轉(zhuǎn)換器的精度。
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