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ni_labview
最近做24位AD,模擬供電部分用TI的LDO--TPS76333,發(fā)現(xiàn)設(shè)備拿到現(xiàn)場(chǎng)去之后AD采集的噪音很大,和在家里測(cè)試的結(jié)果有天壤之別,所以在現(xiàn)場(chǎng)玩命地在檢測(cè)回路上想各種方法抑制干擾,后來用泰克TDS1012示波器看了一下發(fā)現(xiàn)干擾更多是從電源進(jìn)來的,檢測(cè)通道上并不大,解決了好幾天,最后發(fā)現(xiàn)LDO輸出端的電容換了之后就好多了,至此問題還是距離原來家里實(shí)驗(yàn)的20位最好精度還有距離1.5位的水平,且怎么也提不上來,索性用手里一只 LP2950類的LDO把TPS76333給換了下來,精度居然回到了20位。
幾天下來,似乎想明白了一些問題:
1、LDO類芯片輸出端的膽電容的等效內(nèi)阻影響很大。
2、高精度檢測(cè)時(shí)對(duì)于噪音的理解是否可以這樣認(rèn)為,雙極技術(shù)的LDO本身在噪音 方面要遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于MOS類的LDO,很“安靜”。
3、從另一角度應(yīng)該理解為MOS對(duì)于電平噪音抑制能力看來不敵雙極技術(shù),MOS是電平動(dòng)作;而雙極技術(shù)則是電流動(dòng)作,其構(gòu)建環(huán)境相對(duì)苛刻,恰恰是個(gè)好處。
這些沒準(zhǔn)是我這個(gè)小學(xué)生天真的想法,還待論證。 |
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