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利用MRAM技術實現工作頻率達400MHz的非易失性邏輯電路

發布時間:2009-8-25 12:16    發布者:比爾蓋
關鍵詞: MRAM , 技術 , 邏輯電路 , 頻率 , 易失性
NEC開發出實現零待機功耗SoC所需的關鍵技術——“非易失性磁性觸發器(MFF)”。該技術可以大幅降低數字消費類設備及便攜設備的待機功耗,如可使普通的藍光/DVD錄像機的待機功耗降至原來的幾十分之一。

  MFF通過采用MRAM(磁性存儲器)技術實現了具有非易失性的邏輯電路。如果用MFF替代SoC內的邏輯電路,并用MRAM替代SoC內的 SRAM,那么就可以實現整個芯片的非易失化。而且,這不會影響芯片的性能,在制造工藝上也只需在芯片的布線層之間插入磁性物質層。

  由于采用了MRAM技術,所以可擦寫次數沒有限制,并且也可以支持先進工藝技術所需的1V以下的低電壓。這些特性都是其它非易失性觸發器技術所沒有的,所以,MRAM技術有很廣闊的應用前景。NEC的目標是在幾年內使用MFF技術試制出零待機功耗的SoC。

  這種SoC將能夠非常精確地控制電源的開/關。例如,當用戶按下電腦鍵盤時,電腦便可瞬間啟動,操作完成之后再關斷電源。如果設備能以用戶感覺不到的非常高的速度執行這些操作,那么即使是人們在使用設備時,其功耗也可以大幅降低。

降低待機功耗

  隨著顯示屏尺寸及聯網時間的持續增加,數字消費類設備的功耗也在持續增大。根據日本資源能源廳的統計,消費類行業中能源消耗的增長趨勢明顯,如何降低設備的功耗是當務之急。此外,對于便攜設備來說,由于其電池使用時間關系著產品的競爭力,所以降低功耗也刻不容緩。

  在這種情況之下,各開發機構紛紛開始進行相關研究,以期開發出各種以低功耗為賣點的設備,如當檢測到房間內沒有人時就關斷電源的液晶電視、采用高效率無線功率放大器的低功耗便攜設備等。

  從數字消費類設備及便攜設備等的使用狀況來看,大多數時間內,它們均處于待機模式下。所以,要實現低功耗的設備,降低待機功耗是非常重要的。在待機模式下還在消耗功率的代表性器件就是設備的核心部件——SoC。

  普通液晶電視具有兩種待機模式:快速啟動模式及低功耗模式。快速啟動模式雖然能夠縮短電視的啟動時間,但必須對SoC等器件進行常時供電。在該模式下,那些最新的電視產品(40英寸)的功耗也要達到約15W。而低功耗模式會關斷包括SoC在內的電子元器件的電源,所以功耗能夠降到0.1W左右,但是,從電視再次啟動到屏幕顯示畫面大概需要花費幾秒鐘的時間。對于無需顯示的藍光/DVD錄像機來說,快速啟動模式與低功耗模式下的功耗差主要是SoC的功耗,在普通產品里,差距約為6W。

  NEC的技術不僅可以保持快速啟動模式下的快速啟動特性,還可以實現低功耗模式下的超低功耗。產品的待機功耗能夠降低至目前的幾十分之一,而處于低功耗模式下的設備也能實現快速啟動。

  今后,寬帶將普及到更多的家庭,也就愈發需要既方便又環保的設備。

關斷電源消除泄漏

  隨著制造工藝的持續發展,SoC中的泄漏電流也在不斷增加。例如,在采用65nm工藝制造的SoC中,由晶體管泄漏電流引起的功耗占到總功耗的一半。為了抑制泄漏電流,業界開始采用被稱為“電源門控”的方法,利用開關切斷SoC內那些未處于工作狀態的電路塊的電源。這樣的概念也被應用于邏輯電路,即將必要的數據存儲在由低泄漏晶體管組成的保持觸發器中,然后再關斷電源。

  但是,采用電源門控的方法后,就只能把SRAM內的數據轉移到閃存等存儲器中,否則SRAM內的數據就會丟失。此外,保持觸發器的泄漏電流雖然很小,但仍然存在,而且,為了保存數據,還需要另外獨立的電源,并且需要使用專用的EDA工具來設計芯片。

  NEC開發的技術則通過使邏輯電路與嵌入式存儲器都具有非易失性,從而使得數據在電源關斷后仍得以保存。普通SoC內的邏輯電路由同步電路組成,具體來說,包括觸發器(寄存器)與組合邏輯(見圖1)。每個時鐘周期,組合邏輯的輸入及輸出數據都不同,它們均存儲在觸發器中。如果電路中采用的是非易失性觸發器,那么即使關斷電源,電路內的數據也能夠保存下來,當電源再次接通時,電路就可以從上次的狀態開始繼續工作。



圖1 同步邏輯電路



  實現非易失性觸發器的方法之一是采用FRAM(鐵電存儲器)。當電源關斷時,將必要的數據保存在鐵電電容里;當電源再次接通時,再讀出數據。通過關斷整個SoC或各個電路塊的電源,就可以將待機功耗降至零。

  鐵電器件的可擦寫次數比閃存多得多。現在的開發重點是在芯片正常工作時,將鐵電電容隔離在信號路徑之外,這意味著非易失性觸發器可以像傳統的觸發器一樣工作,使工程師無需考慮鐵電器件的劣化問題。

  但是,如果將SoC內的嵌入式存儲器也替換為FRAM,那么可擦寫次數就會成為問題,必須進行適當的控制。此外,目前商用的鐵電存儲器的電源電壓高達1.5V。有意見認為,從鐵電器件的工作原理上來看,它們很難在1V及更低的電壓下工作。

  NEC的MFF技術采用MRAM,沒有可擦寫次數的限制。嵌入式存儲器也可直接替換為MRAM。另外,由于MRAM采用電流驅動方式,所以能夠在低電壓下工作。

MRAM沒有可擦寫次數的限制

  MRAM是采用磁性材料的存儲器,其基本單元是TMR(隧道磁阻)單元,主要由兩層磁性薄膜與一層絕緣膜組成,根據磁化方向的不同分別保存數據“0” 與“1”(見圖2)。讀出數據時利用了磁性材料的磁阻效應,即阻抗會隨磁化方向而改變的原理。也就是說,可將TMR單元當作可變電阻器。



圖2 MRAM的基本結構



  往MRAM寫入數據時,利用的是電流所產生的感應磁場(見圖3)。目前,美國EverSpinTechnologies公司的MRAM是使電流通過存儲單元陣列內垂直相交的兩條布線來寫入數據。兩個電流感應生成的合成磁場只會加載到相應的選擇單元上,從而使得TMR單元發生磁化反轉。磁化反轉的原理也表示MRAM具有無限的可擦寫次數。



圖3 傳統MRAM的寫入方式



  例如,閃存在執行寫入操作時,會在柵極上加載高壓,將硅襯底上形成的電子通過隧道絕緣膜保存到浮柵上。反復的擦寫操作會損傷隧道絕緣膜,因此,閃存的可擦寫次數只有約10萬次。10萬次左右的可擦寫次數在存儲卡等應用上沒有什么問題,但如果要用于電子設備,那就需要盡量減小擦寫頻率。

  FRAM的原理則是,當在鐵電晶體上施加電壓時,晶體內氧原子的位置會發生變化而出現極化現象。雖然施加的電壓較低,但由于是比電子大很多的原子發生移動,所以晶體內部會產生較大變形。FRAM的可擦寫次數最大可達1010~1012次,雖然遠大于閃存,但在應用中仍然需要對擦寫次數加以控制。

  MRAM寫入時利用的磁化變化只會改變電子的狀態(自旋),即使在施加高壓的情況下也不會改變原子的位置。因此,磁性材料的負載非常小,沒有可擦寫次數的限制。在目前的半導體存儲器中,只有MRAM具有上述特性。

兼顧高速與高穩定性

  NEC認為,無擦寫次數限制的MRAM可以用作SoC的嵌入式存儲器,所以,公司從2006年就開始針對此項應用著手開發高速MRAM。NEC提出的方案是采用由2個晶體管與1個TMR單元構成的2T1TMR結構的存儲單元。該存儲單元采用1個阻抗可變的TMR單元取代了構成傳統SRAM存儲單元的6 個晶體管中的4個晶體管(見圖4)。



圖4 可高速寫入的2T1TMR存儲單元



  2T1TMR單元的特征是每個存儲單元的寫入線是獨立的,寫入線的作用是用于產生寫入磁場。傳統的1T1TMR結構的存儲單元是通過所有存儲單元共有的位線來產生寫入磁場,那種情況下會出現半選擇單元,即只受位線產生的磁場影響,而不受字線產生的磁場影響的單元。當存在半選擇單元時,為了防止誤寫入,就需要非常精確地控制寫入電流,因此很難提高工作速度。而2T1TMR存儲單元內不存在半選擇單元,所以可以在幾百MHz的高頻下工作。

  此外,由于寫操作與讀操作的電流路徑完全獨立,因此不會引起誤操作,例如因為讀操作而導致誤寫入。具體來說,寫操作與SRAM一樣,通過互補的一對位作是將讀出位線(RBL)上流過的電流與參考電流進行比較,以判斷是“0”還是“1”(是高阻抗還是低阻抗)。而且,位線與字線在未選擇時都處于接地狀態,因此存儲單元內不會像SRAM那樣有泄漏電流。

  此次開發的MFF也應用了2T1TMR存儲單元技術,不僅能夠提供高速度,而且誤操作少,穩定性好,在可擦寫次數上也沒有限制。制造工藝也與以往的 CMOS工藝基本相同,由于TMR單元的膜較薄,因此可以插入到芯片的布線層之間(見圖4)。而且,由于形成TMR單元時的溫度不高,所以不會影響晶體管的特性。

  2T1TMR存儲單元的優點是誤操作少、設計自由度高,利用它能夠開發出各種存儲器單元(見圖5)。例如,NEC正在開發的由5個晶體管和2個TMR 單元組成的5T2TMR單元,可以進一步提高速度,工作頻率可高達500MHz。



圖5 采用MRAM存儲單元實現完全非易失的SoC
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