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如何使用納米功率EMI耐受型運算放大器改善IoT設計

發布時間:2016-12-8 14:44    發布者:eechina
關鍵詞: 運算放大器 , 物聯網 , IoT
作者:Amritraj Khattoi,TI公司

物聯網(IoT)應用的設計者主要關注兩點:管理電源,最大限度地延長電池壽命;確保可靠的操作,防止各種電磁干擾(EMI)。物聯網革命將引領數十億電池和線路供電連接設備的部設,其中包括許多無線設備。所有這些設備都在爭奪同一頻率頻譜。這將產生越來越嘈雜的環境,其中電磁波從多個輻射源產生輻射。自從引入無線設備以來,電磁信號干擾已成為共享未許可頻譜的一個問題,操作中的設備數量增加時,問題的重要性也隨之增加。諸如煙霧探測器、有毒氣體傳感器和PIR傳感器等具有無線能力的終端設備由于它們之間的相互作用,需要進行額外的輻射EMI測試,如圖1所示。


圖1:帶有電磁波的無源紅外(PIR)傳感器和一氧化碳檢測器

創建無線感測節點的競爭為EMI測試帶來了一定程度的復雜性。系統設計人員需要仔細甄選部件來避免重新設計的昂貴成本,因為這可能在產品開發的最后階段延遲上市時間。除在噪聲條件下工作,電池供電的連接設備還需要在不更換電池的情況下,安全可靠地運行數年。物聯網設備的電池壽命變化很大,從幾小時到幾年不等,具體取決于應用和其運行環境。這些IoT設備的設計人員必須選擇極低電流消耗的組件,以延長工作壽命并提供EMI抗擾性。

TI的LPV811系列納米功率放大器消耗低至320nA的靜態電流,以最大限度延長電池壽命,并且內部免受EMI干擾。然而,這些設備并不包括在許多最近發布的運算放大器上所看到的全輸入EMI濾波器。我們這樣做是有原因的,因為添加輸入EMI濾波器大大增加了輸入電容,這可能導致具有大反饋電阻值和源阻抗的亞微安電路中的峰值。相反,我們在LPV801、LPV802、LPV811和LPV812的布局和內部設計中采用了內部(專有)預防措施,使其盡可能對抗EMI。

為了驗證我們內置的EMI緩和技術的有效性,我們對比了LPV802和兩款市場上流行的不具備內部EMI保護的其他品牌同類設備。在所有環境下,使用LPV802的電路表現出比使用同類設備電路更好的EMI抗擾性。我們根據IEC 61000-4-3(電磁兼容性(EMC)——輻射測試條件)測試了所有三款設備的EMI耐受性。我們在80MHz至6GHz頻率下將被測設備(DUT)置于校準的射頻(RF)范圍,同時根據IEC 61000-4-3 EMC輻射規范監測DUT的故障。為了對比這三個設備,我們在相同的電路中同時將三個設備暴露于相同的EMC輻射中,并監測其輸出偏差。此外,為了測量常見EMI濾波技術的有效性,我們測試了兩組電路板。一組電路板增加了外部輸入EMI電容器,另一組電路板未裝設EMI電容器。

圖2所示為在標準62mil、雙層FR4電路板上構建的測試板,其兩側帶有接地層,以測試EMI性能。四針連接器可快速更換電路板。插接傳感器引腳可更容易地移除傳感器。


圖2:帶傳感器的測試板

圖3所示為測試裝置。有四個測試板測試EMI性能。三個測試板具有相同電路,其上安裝有不同的運算放大器。另外一個測試板以接地參考配置構建,但未在測試中使用。我們將四個測試板中的每一個通過1m長的四個導體屏蔽電纜連接到中心電池盒(2個AA電池),電纜兩端都有EMI扼流圈。我們通過15米長的UTP CAT-5電纜將電池盒連接到控制室,并使用適當的EMI扼流圈,以將輸出電壓供給記錄系統。帶有錐體的兩個白盒為場傳感器,用于在測試期間監控電場。


圖3:IEC61000-4-3 EMC輻射測試的測試設置

圖4所示為IEC 61000-4-3規定的測試結果之一。在30V / m輻射水平,兩個同類設備在140MHz時開始減弱,而LPV802保持到100MHz。一般來說,使用LPV802的電路其EMI性能優于使用其他品牌同類設備的電路,在針對不同輻射水平下進行的所有規定測試都是這樣,特別是在100-200MHz范圍內進行的測試。所有設備大多不受上頻率(> 400MHz)的影響。有關測試條件和結果的詳細信息,請參閱應用注釋“在氣體傳感器應用中對比LPV802與其他設備的EMI性能”。

輸出電壓(V)     
頻率(MHz)

圖4:使用電容器進行30V / m測試的結果

添加外部EMI輸入電容也有助于整體性能。我們建議在正常設計過程中將其添加。EMI保護不能完全消除EMI的影響,但它確實有助于降低影響。

添加外濾可進一步降低影響。即使使用受EMI保護的設備,我們仍建議進行外部濾波。

使用諸如消耗納米安培靜態電流及抗EMI的LPV801、LPV802、LPV811和LPV812的部件,可以幫助設計人員構建具有更長電池壽命并符合全球EMI規定的系統。這有助于降低維護成本,加快上市時間。也無需擔心在產品開發最后階段EMI出現故障而耗費巨資進行重新設計。

其他信息
·          對于在不同條件下的完整測試結果,請參見應用注釋“精密電壓偏移:何時有效?
·          下載LPV801LPV802LPV811LPV812數據手冊,了解有關每個設備具體功能的更多信息。

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