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電路功能與優勢 圖1所示緊湊型雙芯片電路提供非接觸式各向異性磁阻(AMR)測量解決方案，可用于角度或線性位置測量。該雙芯片系統在180°范圍內具有優于0.2°的角精度，在0.5英寸范圍內具有2 mil(0.002英寸)線性精度，具體取決于所用磁體的尺寸。 該電路適用于高速、高精度、非接觸式角度和長度測量關鍵型應用，比如機床速度控制、起重機角度控制、無刷直流電機和其他工業或汽車應用。 圖1.磁阻角度和線性檢測系統(原理示意圖：未顯示去耦和所有連接) 電路描述 ADA4571是一款各向異性磁阻(AMR)傳感器，集成信號調理放大器和ADC驅動器，以及用于溫度補償的溫度傳感器。 ADA4571產生兩路模擬輸出，指示周圍磁場的角位置。 ADA4571集成一個AMR傳感器和一個固定增益(標稱值G = 40)儀表放大器。ADA4571可提供有關旋轉磁場角度的干凈且經過放大的余弦和正弦輸出信號。T輸出電壓范圍與電源電壓成比例。 傳感器含有兩個互成45°角的透磁合金惠斯登電橋。x-y傳感器平面的旋轉磁場提供兩路正弦輸出信號，且傳感器與磁場方向的角度(α)頻率翻倍。在x-y平面的均質場內，輸出信號與z方向(氣隙)的物理位置無關。 正弦和余弦輸出端的輸出電壓擺幅范圍為7% VDD至93% VDD.有兩個診斷頻段(VDD的0%至7%和VDD的93%至100%)，因而可向所有內部連接提供焊線斷開檢測。 ADA4571采用8引腳SOIC封裝。 VSIN和VCOS輸出的輸出阻抗為50Ω，采用外部10 nF電容時組成318 kHz噪聲濾波器。 AD7866是一款雙通道、同步采樣、12位、1 MSPS SAR ADC.RANGE引腳的極性確定模擬輸入范圍和輸出編碼。如果片選信號變為低電平時該引腳連接邏輯高電平，則下次轉換的模擬輸入范圍為0 V至2×VREF(0 V至5 V)，為ADA4571 AMR傳感器的0.35 V至4.65 V信號提供大約350 mV裕量。 將REFSEL引腳連接至低電平可配置ADC使用內部2.5 V基準電壓源。VREF引腳提供該電壓，但將其用于系統的其他位置前必須先使用緩沖器。DCAPA引腳和DCAPB引腳采用470 nF電容去耦，確保ADC正常工作。 AD7866同步采樣傳感器的兩個通道。數字字通常在DOUTA和DOUTB端提供。每個數據流包括1個前導零，隨后是3個狀態位，再加上12位轉換數據。然而，保持CS引腳為低電平并持續額外16個時鐘周期，則兩個數字字均可從一個通道(DOUTA)獲取。因此，SPI接口允許在一條數據線路上訪問兩個通道。 AD7866的兩個ADC輸入均帶有雙通道多路復用器。A0輸入引腳上的邏輯0允許A1和A2輸入端轉換，而A0輸入引腳上的邏輯1允許B1和B2輸入端轉換。ADA4571的溫度傳感器輸出連接AD7866的B1輸入，并允許對系統進行軟件溫度校準。 磁阻(MR)理論 磁阻是存在外部磁場時，材料改變其電阻值的能力。最常用的MR傳感器基于AMR技術。 圖2.各向異性磁阻示例 AMR效應示例如圖2所示。電流(I)流過導體，受外部磁場(HY)影響。導體電阻的變化與磁化矢量(M)和電流矢量(I)之間的角度成函數關系。磁化矢量是內部磁場(HX)與施加的外部磁場(HY)的凈求和結果。 當磁化矢量(M)與電流矢量(I)平行時，具有最大電阻。當磁化矢量(M)與電流矢量(I)垂直時，具有最小電阻。 有效利用AMR效應要求導體自身必須對機械應力材料不敏感，但對磁約束敏感。由于這些原因，透磁合金(80%鎳，20%鐵)是AMR傳感器制造中最常用的合金。 透磁合金屬性 透磁合金條有兩個屬性，創建角度測量系統時會具有設計挑戰性。 首先，透磁合金具有較窄的線性工作區(見圖3)。僅當磁化矢量(M)和電流矢量(I)之間的角度變大時，響應才是線性的。不幸的是，線性響應不久后透磁合金就會飽和。 圖3.透磁合金電阻與磁場的關系 其次，透磁合金對極性不敏感。無論磁化矢量(M)和電流矢量(I)之間的角度是正或負，透磁合金條的電阻都將下降。 雙色條磁極 改善透磁合金條線性度和磁極非敏感特性的常用方法是與金屬條的軸向成45°添加鋁條(稱為雙色條磁極，如圖4所示)。雙色條磁極間流動的任何電流都將走最短的路徑——垂直路徑，并且電流矢量(I)和磁化矢量(M)之間的角度偏移45°。 圖4.透磁合金條的雙色條磁極效應 圖5顯示向透磁合金條中加入雙色條磁極后的結果。電流矢量偏移45，但磁化矢量保持不變。注意，線性特性現在存在于圖形的中央部分。 圖5.雙色條磁極透磁合金電阻與磁場的關系 磁場強度 磁場強度至少為25 kA/m，才能確保滿足ADA4571數據手冊中的規格。該激勵磁場必須與ADA4571封裝內傳感元件的中央部分相交。 選擇磁體時，需考慮傳感器和磁體之間的氣隙，如圖6所示。如果磁體未靠近傳感器放置(即距離d極大)，則可能需要更強或更大的磁體才能確保達到最小磁場強度要求。 圖6.用于轉軸角度測量的磁體方向與氣隙 傳感器基礎知識 標準AMR傳感器由兩個惠斯登電橋組成，互相之間的相對角度為45°，如圖7所示。 圖7. ADA4571雙惠斯登電橋配置 旋轉磁場產生正弦和余弦輸出信號，如圖8所示。兩個信號在180°范圍內均為周期信號，因此沒有額外元件或參考點就無法進行全方位360°測量檢測。 圖8.磁阻傳感器輸出電壓 通道靈敏度 ADA4571傳感器標稱靈敏度為每通道52 mV/°，這意味著磁化矢量和傳感器方向之間的每一度變化都會產生52 mV的輸出電壓改變。角度的靈敏度并非常量。靈敏度下降的部分是線路斜率接近零時的輸出部分。 如圖8所示，余弦輸出(綠線)在磁化矢量角度接近0°、90°、180°或270°時損失靈敏度。類似地，正弦輸出(紅線)在磁化矢量角度接近45°、135°、225°和315°時損失靈敏度。幸運的是，當一個通道的靈敏度降低時，另一個通道處于高靈敏度區域。 系統帶寬、磁場旋轉 磁場角度矢量是理解電路帶寬的重要內容。ADC每微秒轉換一個樣本。為了獲得1°分辨率，磁場1 ms只能移動1°(2.778 kHz)，否則ADC無法以足夠高的速度進行采樣，以便跟上磁場變化的速度。對于1 MSPS ADC，這表示磁場的最大可用角速度為2.778 kHz. 旋轉測量測試結果 將直徑方向的N42磁體(直徑= 0.5英寸，厚度= 0.125英寸)連接至金屬桿的末端。精密直流電機可對金屬桿進行精細角度控制。傳感器精確安裝在磁體正面。氣隙設為2 mm.只要磁鐵激勵使傳感器完全飽和，則結果便與氣隙基本無關。 電機轉動，創造出與傳感器相交的旋轉磁場，進而產生重復性正弦和余弦輸出電壓，適合進行角度計算和數據采集。 圖9顯示了該設置的功能框圖。圖10是該設置的照片，可用來采集軸尾配置的數據。該設置由無刷直流電機、物理安裝、磁體和集成相應ADA4571傳感器的PCB組成。 圖9.數據采集測試設置——軸尾配置 圖10.無刷直流電機基準測試設置照片 圖11通過磁體的多次轉動，將電機的機械角與傳感器的計算磁場角相比較。該計算利用兩個輸出之比的反正切函數。未進行校準時，誤差接近±1°。 圖11.失調校正前的角誤差與機械角之間的關系 圖12顯示僅有一次失調校正的誤差。無需針對正弦和余弦的幅度失配、非線性度或正交性校正進行額外調節。使用每個通道的峰峰值或平均值可確定失調值，因為它貫穿整個機械旋轉。從對應通道中減去失調，以獲得線性傳感器響應。最大誤差接近±0.2°，而該范圍內的絕大部分誤差小于±0.1°。 圖12.僅針對失調進行校正后的角誤差與機械角的關系 PCB布局考慮 CN-0368系統的PCB采用4層板堆疊而成，具有較大面積的接地層和電源層多邊形。 在任何注重精度的電路中，必須仔細考慮電路板上的電源和接地回路布局。PCB應盡可能隔離數字部分和模擬部分。有關布局和接地的詳細論述，請參見MT-031指南;有關去耦技術的信息，請參見MT-101指南。 所有IC的電源應當用1μF和0.1μF電容去耦，以適當抑制噪聲并減小紋波。這些電容應盡可能靠近器件。對于所有高頻去耦，建議使用陶瓷電容。 電源走線應盡可能寬，以提供低阻抗路徑，并減小電源線路上的毛刺效應。通過數字地將時鐘及其它快速開關數字信號屏蔽起來，使之不影響電路板的其它器件。圖13為PCB的照片。 圖13. EVAL-CN0368-SDPZ板的照片 常見變化 如需1 MSPS以上采樣速率，應考慮使用下列同步采樣ADC; 如需12位或14位以上的分辨率，可使用AD7655(1 MSPS時為16位)。 電路評估與測試 本電路使用EVAL-SDP-CB1Z系統演示平臺(SDP)板和EVAL-CN0368-SDPZ電路板。這兩片板具有120引腳的對接連接器，可以快速完成設置并評估電路性能。 EVAL-SDP-CB1Z板與CN0368評估軟件一同使用，捕獲EVAL-CN0368-SDPZ電路板的數據。 設備要求 需要以下設備： 帶USB端口和Windows XP(32位)、Windows Vista(32位)或Windows 7(32位)PC EVAL-CN0368-SDPZ電路板 EVAL-SDP-CB1Z SDP板 6 V電源或壁式電源適配器 CN0368評估軟件 傳感器封裝處磁場強度不低于25 kA/m的釹磁體 開始使用 將CN0368評估軟件光盤放入PC，加載評估軟件。打開我的電腦，找到包含評估軟件光盤的驅動器，打開Readme文件。按照Readme文件中的說明安裝和使用評估軟件。 功能框圖 圖14所示為測試設置的功能框圖。 圖14.測試設置框圖 設置 將EVAL-CN0368-SDPZ上的120引腳連接器連接到EVAL-SDP-CB1Z上的連接器。使用尼龍五金配件，通過120引腳連接器兩端的孔牢牢固定這兩片板。 在斷電情況下，將6 V直流管式插孔連接到J4連接器。將EVAL-SDP-CB1Z附帶的USB電纜連接到PC上的USB端口。此時請勿將該USB電纜連接到SDP板上的微型USB連接器。 將釹磁體直接放置在IC之上，或置于專為旋轉磁體而設計的夾具中，使IC和磁體的距離最短。 使磁場的其他來源遠離IC很重要，因為任何雜散磁場都會使傳感器輸出電壓產生誤差。 測試 為直流管式插孔、J4連接器上電。啟動CN0368評估軟件，并通過USB電纜將PC連接到EVAL-SDP-CB1Z上的微型USB連接器。 一旦USB通信建立，就可以使用EVAL-SDP-CB1Z來發送、接收和捕捉來自EVAL-CN0368-SDPZ的串行數據。 |
