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泰克公司日前宣布，泰克2015年度創新論壇(TIF)將于5月20日至29日分別在北京、上海、西安和深圳舉行。本屆TIF將與業界工程師共同分享泰克最新的產品突破以及滿足大數據時代以高效能運算為核心的多種最新工業標準規范的測試方案。論壇現場還設立了12個展位，讓與會者零距離參觀、調試泰克各種測試測量解決方案和產品。 移動智能設備和云數據處理迅猛發展，特別是工業4.0時代的到來，使得云計算、云存儲、移動互聯網、智能硬件、多媒體高清顯示設備等熱門技術迅速普及，為新一輪的設計和測試測量技術帶來了革新與挑戰。 為此，本屆創新論壇以“自主創新，工業4.0時代的測試測量”為主題，用十多個熱點專題與與會者深度探討工業4.0時代將帶來的測試測量挑戰與應對之道。“如何更加高效的解決工業4.0核心技術互聯互通的測試問題，對工程師來說顯得非常迫切和必要。”泰克公司大中華區市場總監徐贇指出，“泰克公司一直致力于應對工業發展中的各種測試挑戰，擁有業界最具性價比、創新型的綜合測試解決方案，能幫助工程師完美地解決各種挑戰。本次TIF四地研討會主題豐富，將幫助中國工程師提前為應對工業4.0時代的測試測量挑戰做好準備。” DPO70000SX系列示波器以顛覆性架構定義高端示波器新境界 在本屆TIF上，泰克公司也將攜劃時代的DPO70000SX系列示波器亮相各大會場，由專家介紹DPO70000SX的專利技術異步時序交織(ATI)是如何實現傲視業界的低噪聲、高保真的信號實時采集，并分享DPO70000SX是如何應用于超寬帶、相干光、前沿研究、雷達及高速串行數據通信等相關的測試領域。 迎接USB3.1時代的變化與挑戰 通用串行總線 (USB) 已經成長為很多嵌入式行業、汽車和消費應用中的常用接口。以往的USB 2.0 工作于480 Mb/s，而現行的USB 3.1 將數據速率提升了20倍、高達10Gb/s，這給工程師帶來了全新的檢定和驗證挑戰。本屆TIF上，泰克將關注該主題的四個重點方面：USB 3.1和3.0之間的物理層差異；10 Gb/s通道定義和抖動預算；USB Type-C連接器測試概述；新的128b/132b編碼方式及其對測試解決方案的影響。 加速多媒體高清設備標準的測試 移動多媒體平臺的高速發展引領一系列顯示技術的革命，因此多媒體高清設備接口測試也將是本屆TIF關注的一個重點。論壇現場，泰克專家將介紹與HDMI2.0、DisplayPort1.2/1.3相關的最新顯示接口標準的發展、測試要點和挑戰，以及如何使用泰克的測試方案加速驗證周期。 十四個專題，測試測量熱點全覆蓋 “在本屆TIF研討會上，北京、西安和上海站我們安排了A、B兩個會場，以滿足工程師對不同測試技術與方案的需求。并根據各地工程師的實際需求，論壇專題演講安排有所側重。” 徐贇介紹道。據悉，除上述論壇主題外，DDR4的標準更新及測試方案、泰克混合域示波器動手實用技能課程、泰克射頻創新解決方案、可穿戴設備耗電測試、泰克智能實驗室、信號完整性分析及一致性測試，以及覆蓋至V波段的超寬帶信號仿真及測試、克服先進顯示材料的測量挑和工業4.0時代的互聯互通測試解決方案，共十四個專題內容涵蓋了當前測試測量的主要熱點。“泰克的年度創新論壇一直是工程師了解測試測量技術發展最新現狀與趨勢的年度盛會，今年我們將繼續為與會者帶來一場測試測量技術的饕餮盛宴！”徐贇表示。 泰克2015年度創新論壇安排
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